叠盖电极技术在SPRITE 探测器上的应用

文中主要介绍了叠盖电极技术在SPRITE 探测器上的实际应用,并给出了具体实验结 果。选择适当的叠盖电极尺寸可以使SPRITE 的响应率Rv 提高一倍以上,探测率D3 普遍提高30 %左右,高的可达80 %。实验结果表明,叠盖电极技术明显地提高了SPRITE 器件的性能,是一种简便的提高SPRITE 性能的新途径。     

叠盖电极高性能SPRITE探测器

由于扫出效应，载流子大量聚集在邻近电极的区域，但电极处的强复合作用使SPRITE读出区光生载流子数衰减很多，采用叠盖电极技术可以有效地阻载流子在地电极处的快速复合，读出区中光生非平衡载流子总数为无叠盖电极时的2.18倍，输出信号大幅度提高。该技术对现有工艺的改变极小，是一种比较现实的提高SPRITE探测器性能的有效办法。叠盖电极用于SPRITE探测器，可明显提高性能。     

采用叠盖电极的高性能光导HgCdTe红外探测器

介绍叠盖电极探测器的物理机理和结构，与标准结构探测器比较，其响应率和黑体探测率均有大的增长，实验结果表明响应率增长约１倍，赤体探测率增主３０％。无需改变现有工艺，成功制备实用工程探测器，性能明显提高。     

SPRITE探测器截止波长与HgCdTe材料组份的关系

根据探测器截止波长的变化,讨论和确定了ＨｇＣｄＴｅ材料组份的实际偏差量。从ＳＰＲＩＴＥ探测器截止波长的测量结果计算,对用布里奇曼、Ｔｅ溶剂和固态再结晶等三种体晶技术生长的长波ＨｇＣｄＴｅ材料,在１ｍｍ２的面积上,材料组份的偏差量均能优于±０．００１５ｍｏｌｅ,在１ｃｍ２的面积上,统计平均的组份偏差相应要增大约一个数量级。     

SPRITE红外探测器性能的最佳应用

文章介绍了工作波段为8～12.5μm、工作温度为80K,器件尺寸:长度L=700μm、宽度w=62.5μm、厚度d=7μm、读出区面积wl=62.5μm×50μm(名义值)的8条SPRITE红外探测器制造和性能;描述了器件工作电压和探测器性能的关系;讨论了该探测器在热成像系统中最佳使用偏置应为60V/cm,而不是目前的30V/cm;对SPRITE探测器进行了理论分析,指出:在热成像系统中,偏置为60V/cm的SPRITE探测器将获得最佳应用,其性能优于160元背景限线列探测器;还讨论了探测器的热负载和工作电压的关系.     

采用叠盖电极的高级长波60元光导探测器

介绍一种采用叠盖电极制备高级长波60元探测器的方法,并进行了较深入的实验,证明此方法是一种行之有效的提高光导探测器的技术。并在此基础上,确定了器件的最佳工作条件,而且证明应用有叠盖电极的器件是有方向性的。     

SPRITE探测器的优化设计

本文在一维理论的基础上,经微处理机模拟计算,设计给出了工作在8—14μm波段SPRITE探测器的优化参数:器件长700μm,宽62.5μm,厚7μm,读出区长度50μm,工作偏压2.8V。结果表明,受器件粘接胶层热阻及扫出效应的影响,更大的器件工作偏压只能使器件优值参数探测率和调制传递函数交劣。计算结果还表明,尽可能减少器件在衬底上的粘接胶层厚度,背景辐射及材料的净掺杂浓度,有利于提高器件性能。     

一种带有延伸电极的碲镉汞多元红外探测器

碲镉汞红外探测器的电极制作一直是探测器研制过程中的一项关键技术。通常人们是采用金丝球焊、超声键压等方法引出电极的,但这些技术有一个共同点,即它们都是在较大的超声压力或静压力下使金丝、硅铝丝与光敏元边上的电极区的金属键合的,因此其键压点承受的压强较     

长波红外碲镉汞探测器

1 引言 红外辐射最早是1800年英国的天文学家赫谢耳(W.Herschel)在研究太阳光谱的热效应时,用水银温度计测量各种颜色光的加热效果而发现的。1830年,L.Nobili利用塞贝克发现的温差电效应制成了“温差电型辐射探测器”;     

自动焊接技术在SPRITE探测器内引线联接工艺中的应用

为使自动金丝球焊接技术应用于碲镉汞红外器件的研制工艺，在大量试验的基础上，摸索出一套使用自动金丝球焊接技术进行了ＳＰＲＩＴＥ红外器件内引线焊接的可靠方法。文中还对自动焊接的精度和最小间距进行了探讨。     

SPRITE探测器在小批量试生产阶段的维修性改善

国内外武器装备发展与应用的实践证明,开展维修性工作,改善维修性,对提高部队战斗力、节省装备寿命周期费用有着极其重要的作用.SPRITE探测器是红外热像仪中的关键重要部件,在其小批量试生产阶段从提高可靠性出发,对它的维修性进行了改善,取得了较好的社会效益和经济效益.     

SPRITE探测器调制传递函数测试方法研究

研究和测量SPRITE探测器调制传递函数(MTF),是为了分析、评价该探测器的空间分辨性能.先前的研究论文己报道了多种测试方法,本文据此进行了分析、研究,提出了基于平面干涉条纹的空间正弦波响应测试方法.该方法能消除光源、测试目标和光学成像系统引入的测量偏差,而且便于多光谱段的SPRITE探测器MTF测试.     

SPRITE探测器探测率的等效换算

从理论上计算了均匀稳定辐射与小光点飞点扫描光照得到的SPRITE探测器探测率间的关系。在低空间频率范围内,后者和前者的探测率比近似等于SPRITE探测器的调制传递函数,接近于1。同时,喇叭形读出区可显著提高SPRITE探测器的探测率。采用典型参数计算,其结果表明,一条SPRITE探测器可相当于55个相同几何形状和工作条件的分离串扫线列光导探测器或17个背景限光导探测器,并具此提出了一种新的光导探测器构思。     

光学投影系统对SPRITE探测器MTF测试的影响

ＳＰＲＩＴＥ探测器是一种三引极ｎ型的ＨｇＣｄＴｅ光电导探测器,具有焦平面上的时间延迟积分（ＴＤＩ）功能,用于串扫和串并扫热成像系统。用建立在线性滤波理论基础上的调制传递函数（ＭＴＦ）评价、测试ＳＰＲＩＴＥ探测器的空间分辨能力,已有不少研究论文报道,但都忽略了测试用光学投影系系统对探测器ＭＴＦ测试的影响。除了光学镜头的传递特性外,光学投影系统中所特有的扫描部件的运动效应也较大程度上影响着探测器ＭＴＦ     

双色碲镉汞红外焦平面探测器发展现状

主要介绍了双色碲镉汞红外焦平面阵列的应用需求和国外发展现状,对其工作模式、器件结构、器件制备的关键工艺技术、双色读出电结构进行了阐述说明。