IEC/TC65/SC65E 2008年会(东京)会议纪要(IEC/TC65/SC65E中国代表团)

1 参会人员 2008年5月22日,IEC/TC65/SC65E(企业系统的装置和集成)2008年年会在日本东京举行.参会的人员有中国、加拿大、丹麦、德国、法国、日本、美国、意大利、韩国等国家的IEC代表,以及来自各国的客人.     

IEC/TC65/SC65B 2008年会(东京)会议纪要(IEC/TC65/SC65B中国代表团)

1 参会人员 2008年5月20日,IEC/TC65/SC65B(装置和过程分析)2008年年会在日本东京举行.出席本次会议的中国代表有:国家标准化管理委员会刘大山;机械工业仪器仪表综合技术经济研究所欧阳劲松、梅恪;北京分析仪器研究所马雅娟;西克麦哈克(北京)仪器有限公司方培基、姜培刚;聚光科技(杭州)有限公司郭晓维、王健;广州飒特电力红外技术有限公司吴一冈;上海工业自动化仪表研究所范铠、李明华等.     

IEC/TC65/SC65C 2008年会(东京)会议纪要(IEC/TC65/SC65C中国代表团)

1 参会人员 2008年5月22日,IEC/TC65/SC65C(工业过程测量、控制和自动化/工业网络)2008年年会在日本东京举行.出席本次会议的中国代表有:国家标准化管理委员会刘大山;机械工业仪器仪表综合技术经济研究所欧阳劲松、梅恪、刘丹;上海工业自动化仪表研究所范铠、李明华;浙江大学冯冬芹;中国科学院沈阳自动化研究所徐皑冬;上海自动化仪表股份有限公司包伟华;西南大学刘枫、张渝;施耐德电气(中国)投资有限公司王勇等.     

IEC/TC65/SC65A 2008年会(东京)会议纪要(IEC/TC65/SC65A中国代表团)

1 参会人员 2008年5月20日,IEC/TC65/SC65A(系统方面)2008年年会在日本东京举行.出席本次会议的中国代表有:国家标准化管理委员会刘大山;机械工业仪器仪表综合技术经济研究所欧阳劲松、梅恪、刘丹;上海工业自动化仪表研究所范铠等.     

IEC/TC652011年会(韩国)会议纪要

2011年5月16日～20日,由机械工业仪器仪表综合技术经济研究所(ITEI)组织,来自不同单位的共15名中国专家赴韩国参加了IEC/TC652011年会。美国、英国、意大利、瑞典、丹麦、荷兰、芬兰、加拿大、日本、韩国、德国、法国等国家也派代表出席了此次会议。     

IEC／SC65E 2011年会（韩国）会议纪要

1参会人员 2011年5月19日，IEC／SC65E（企业系统中的设备与集成）2011年年会在韩国首尔举行。出席本次会议的中国代表有：机械工业仪器仪表综合技术经济研究所欧阳劲松、丁露；西南大学张渝；浙江大学冯冬芹；上海工业自动化仪表研究所范铠；施耐德电气（中国）投资有限公司王勇。加拿大、丹麦、芬兰、法国、德国、日本、韩国、荷兰、英国、美国、马来西亚、意大利也派代表出席了此次会议。     

IEC／SC65C 2011年会（韩国）会议纪要

1参会人员 2011年5月19日,IEC／SC65C（工业网络）2011年年会在韩国首尔举行。出席本次会议的中国代表有：机械工业仪器仪表综合技术经济研究所欧阳劲松、丁露;重庆理工大学余成波;浙江大学冯冬芹;中科院沈阳自动化研究所徐皑东;上海工业自动化仪表研究所李明华;施耐德电气（中国）投资有限公司王勇。加拿大、丹麦、芬兰、法国、德国、日本、韩国、荷兰、英国、美国、马来西亚、意大利也派代表出席了此次会议。     

IEC／SC65 B2011年会（韩国）会议纪要

1参会人员 IEC／SC65B（测量和控制装置）2011年年会于2011年5月17日在韩国首尔举行。出席本次会议的中国代表有：机械工业仪器仪表综合技术经济研究所欧阳劲松、丁露;上海工业自动化仪表研究院范铠、李明华;     

IEC／SC65A 2011年会（韩国）会议纪要

1参会人员 2011年5月17日,IEC／SC65A（系统方面）2011年年会在韩国首尔举行。出席本次会议的中国代表有：机械工业仪器仪表综合技术经济研究所欧阳劲松、丁露;浙江大学冯冬芹;上海工业自动化仪表研究所李明华;上海市计量测试技术研究院陈曦;施耐德电气（中国）投资有限公司王勇。加拿大、丹麦、芬兰、法国、德国、日本、韩国、荷兰、英国、美国、马来西亚、意大利也派代表出席了此次会议。     

IEC/SC65C/WG15工作组(韩国)会议纪要(IEC/SC65C/WG15中国代表团)

2009年6月16日～18日,IEC/SC65C/WG15工作组会议在韩国召开.机械工业仪器仪表综合技术经济研究所(ITEI)王麟琨博士和潘长清硕士作为中国代表团代表出席了本次会议.会议主要对IEC 62439_CDV_Ed2的意见及相关技术内容进行了讨论.     

IEC/TC65顾问组(法国)会议纪要

1会议背景和意义IEC/TC65(工业过程测量、控制和自动化)的顾问组(AG)会议于2012年2月7日～8日在法国尼斯召开,共有来自德国、法国、日本、美国等国的21名专家参加了此次会议。作为IEC/TC65的国内对口单位,全国工业过程测量和控制标准化技术委员会(SAC/TC124)多年来积极参与IEC国际标准化活动,在工业通信网络、工业无线等多个领域做了大量研究并取得了多项国际标准突破。     

IEC/TC65最新进展

本文介绍了2006年IEC／TC65（国际电工委员会工业过程测量和控制技术委员会）的最新进展，包括：组织结构调整、功能安全标准现状和自动化信息安全。     

IEC/TC65 2005年(渥太华)会议纪要

2005年4月25日-5月6日,IEC/TC652005年年会在加拿大首都渥太华召开。来自19个国家的48位代表出席了本次会议。全国工业过程测量和控制标准化技术委员会组织8名行业专家,组成中国代表团参加了本次会议,中国代表团的成员有:机械工业仪器仪表综合技术经济研究所欧阳劲松副总工程师     

IEC/TC65 2005年(渥太华)会议纪要

(续第3期)2.4工作组活动情况2.4.1第5工作组“:温度检测元件”第5工作组在多年没有实质性进展后又重新恢复了活动。自马德里会议以后,召开了以下四次会议:*2004年3月22～23日,在美国马里兰州盖瑟斯的NIST(美国国家标准技术研究所)*2004年6月21日,在Cavtat,Croatia(TEMPMEKO2004     

IEC/TC65 2005年(渥太华)会议纪要

性能指标表现了：1）RTE端设备的能力;2）RTE通信网络的能力;3）应用要求;性能指标的一致集用于表现RTE能力.一些性能指标是相互依赖的.相互依赖是由于物理或逻辑的约束.例如：RTE吞吐量（90%）和非RTE吞吐量（90%）不能同时发生.本标准没有规定RTE性能的公共边界值.但是不同CP的制造商应当规定其基于CP的产品的边界值.     

IEC/TC65工业过程测量和控制2003年年会总结(IEC/TC65中国代表团)

(续上期)二、TC会议情况IEC/TC65会议于2003年9月5日在西班牙马德里召开。中国代表团的所有成员均出席了本次会议。会议由TC65秘书长主持。会议首先听取了IEC中办官员就IEC的最新进展情况的说明,然后IEC/TC65主席OTTO ULRICHS做了IEC/TC65工作进展情况报告,由于本次会议后OTTO ULRICHS先生将从IEC退休,鉴于他对IEC/TC65工作的贡献,他的报告受到了与会代表的热烈掌声。接着,各SC的秘书长做了各SC的工作报告,各SC的工作情况如下:三、SC65A会议情况IEC/SC65A“系统”会议于2003年9月2日在西班牙马德里召开。浙江大…     

IEC／TC65／SC65E 2008年会（东京）会议纪要

2008年5月22日,IEC／TC65／SC65E（企业系统的装置和集成）2008年年会在日本东京举行。参会的人员有中国、加拿大、丹麦、德国、法国、日本、美国、意大利、韩国等国家的IEC代表,以及来自各国的客人。中国代表有：国家标准化管理委员会刘大山;机械工业仪器仪表综合技术经济研究所欧阳劲松、梅恪、刘丹;上海自动化仪表研究所范铠、李明华;浙江大学冯冬芹;中国科学院沈阳自动化研究所徐皑冬;上海自动化仪表股份有限公司包伟华;西南大学刘枫、张渝;施耐德电气（中国）投资有限公司王勇等。     

IEC/TC65(SC65A)WG6可编程控制系统的标准化会议

一、标准化的形势可编程序控制器(以下简称PC)最初出现是在1969年。60年代中期小型计算机的出现给予过程控制领域较大的影响,因而控制技术人员对机械控制领域也打算引入计算机技术。世界最大的汽车制造厂——GM公司(美国通用汽车公司),发表了经归纳成10条款的有关顺序变更容易的(可编程序)通用控制器规格。这样,以此规格书为转折,不少制造厂的新产品就在市场上出现了。这些新产品当初称作PLC——可编程逻辑控制     

IEC／TC65／SC65B 2008年会（东京）会议纪要

2008年5月20日,IEC／TC65／SC65B（装置和过程分析）2008年年会在日本东京举行。出席本次会议的中国代表有：国家标准化管理委员会刘大山;机械工业仪器仪表综合技术经济研究所欧阳劲松、梅恪;北京分析仪器研究所马雅娟;西克麦哈克（北京）仪器有限公司方培基、姜培刚;聚光科技（杭州）有限公司郭晓维、王健;广州飒特电力红外技术有限公司吴一冈;上海工业自动化仪表研究所范铠、李明华等。     

IEC／TC65／SC65C 2008年会（东京）会议纪要

2008年5月22日,IEC／TC65／SC65C（工业过程测量、控制和自动化／工业网络）2008年年会在日本东京举行。出席本次会议的中国代表有：国家标准化管理委员会刘大山;机械工业仪器仪表综合技术经济研究所欧阳劲松、梅恪、刘丹;上海工业自动化仪表研究所范铠、李明华;浙江大学冯冬芹;中国科学院沈阳自动化研究所徐皑冬;上海自动化仪表股份有限公司包伟华;西南大学刘枫、张渝;施耐德电气（中国）投资有限公司王勇等。