基于序列图像的亚像元成像技术研究

通过压电陶瓷微位移机构移动CCD的位置来获得所需要的互有微位移的序列低分辨率图,提出了用反演解析法对低分辨率图进行重构并得到高分辨率图的方法.通过比较重构后的图像和原图像的分辨率,验证了系统的可行性和反演解析法的正确性.     

基于亚像元CCD几何超分辨方法研究

摘要:为了在现有CCD像元尺寸的基础上提高CCD像元分辨力,对CCD几何超分辨问题进行了研究。从研究现状入手,给出了现有算法及其存在的不足,建立了亚像元超分辨成像数学模型,提出了基于亚像元的CCD几何超分辨方法：两片线阵CCD集成在同一器件中,在线阵方向上错开半个像元,同时读出时间减半,最终交织重组图像数据,以合成高分辨率图像。利用MATLAB7.0.1软件对双线性插值方法及亚像元成像方法进行了仿真,并定性定量地比较两种方法的效果。结果显示：亚像元方法合成图像分辨率约为低分辨率图像的2倍,且PSNR比双线性插值图像高0.2dB。该方法可以实时合成高分辨率图像,显著地减轻欠采样引起的图像模糊。     

基于3线阵探测器的亚像元成像超分辨率重构

虽然增加探测器的时间和空间采样频率可以提高亚像元成像系统空间分辨率,但探测器采集到的数据易发生混叠,使重构得到的图像的分辨率无法达到理想值。本文以3片线阵探测器亚像元成像为基础,提出一种超分辨率重构算法。首先,在高分辨率网格上建立插值模型;然后,辨识插值重构图像在线阵列方向和扫描方向的模糊核,得到整幅图像的模糊核;最后,采用带有Neumman边界条件的梯度平滑正则化模型去除模糊,抑制振铃效应。实验结果表明,该算法使亚像元成像系统分辨率为单线阵探测器无过采样成像系统分辨率的2.6倍;与双线性插值法相比,平均灰度等级(GMG)提高了7.71。该算法可以进一步实现对更多片线阵探测器亚像元成像的超分辨率重构,获取更高的系统分辨率。     

亚像元的CCD几何超分辨方法

为了在现有CCD像元尺寸的基础上提高CCD像元分辨力,对CCD几何超分辨问题进行了研究.从研究现状入手,给出了现有算法及其不足,建立了亚像元超分辨成像数学模型,提出了亚像元的CCD几何超分辨方法.该方法将两片线阵CCD集成在同一器件中,在线阵方向上错开半个像元,同时读出时间减半,最终交织重组图像数据,以合成高分辨率图像.利用MATLAB 7.0.1软件对双线性插值方法及亚像元成像方法进行了仿真,并定性定量地分析了两种方法的效果.结果显示:亚像元方法合成图像分辨率约为低分辨率图像的2倍,且两组仿真图像中的PSNR比双线性插值图像分别高出1.486 4 dB和2.207 0 dB.该方法可以显著地减轻欠采样引起的图像模糊,且实时性优于双线性插值方法.     

一种利用 CCD143A 的黑参考像元实现 AGC 的方法

介绍了CCD143A黑参考像元实现“AGC”的方法。此种方法,不仅提高了系统的稳定性和测试精度,同时简化了电路结构,并充分利用了CCD的分辨率资源。合理利用CCD的辅助像元给信号处理带来极大的方便。     

一种利用 CCD143A 的黑参考像元实现 AGC 的方法

介绍了ＣＣＤ１４３Ａ黑参考像元实现“ＡＧＣ”的方法。此种方法,不仅提高了系统的稳定性和测试精度,同时简化了电路结构,并充分利用了ＣＣＤ的分辨率资源。合理利用ＣＣＤ的辅助像元给信号处理带来极大的方便。     

亚像元分析方法在空问坐标一致性测量中的应用

为了提高空间坐标一致性测量的精度,提出基于亚像元的分析方法。实验表明,该方法得到了满意的效果,有较大的应用价值。     

重心算法确定CCD像点位置的硬件实现

重心法是一种高精度的CCD像点位置提取算法，但由于需要处理的数据量很大，一般用硬件很难实现高采样率和实时性。在CCD光电精密在线测量系统的数据采集处理中，采用高速A／D和DSP芯片设计CCD测厚系统的硬件处理电路，给出了详细的硬件处理电路和软件设计方法，用硬件实现了对CCD信号的细分和重心算法处理，解决了一般情况下系统无法做到的高采样率和实时性问题，大大提高了系统的测量精度和实时性。     

基于数字相关算法的光点亚像元定位

在光电检测系统中,CCD本身的分辩力影响了测试精度的提高,因此需要对光点信号的位置实现亚像元定位。采用数字相关算法求出相关函数矩阵,然后再通过最小二乘法进行多项式拟合得到相关函数,求出相关函数的极值点作为光点的定位点。通过仿真试验结果显示,数字相关算法具有很好的稳定性     

用低分辨率CCD进行高精度边缘检测的一种新方法——模糊成象法

本文从信息获取的角度出发，提出了一种用低分辨率ＣＣＤ进行高精度边缘检测的新方法，可从根本上突破象元间隙给尺寸测量精度带来的限制，其实质是用光学方法对输入图象进行某种变换（波形展宽），变换的结果使ＣＣＤ探测到更丰富的边缘信息，再用数学方法对其进行反变换（拟合），以恢复被测物体的精确边缘位置信息。     

应用多项式插值函数提高面阵CCD尺寸测量的分辨力

在图像测量系统中，测量的精度主要取决于ＣＣＤ摄像机的分辨率。为提高图像测量系统的测量精度，本文首先提出了一种具有保持边缘特征和滤波功能的十字窗口边缘自动检测算法，并在此基础上，本文又提出了以多项式插值为原理的新的亚像无边缘检测算法，使图像测量系统中的ＣＣＤ摄像机的分辨率提高约６０倍     

一种CCD驱动电路的设计方法

以CCD图像传感器IL-P3为例，在分析其驱动时序的基础上，结合CPLD软件和VHDL语言，设计一种可调节曝光时间的CCD驱动电路。仿真和实验袁明，设计的驱动电路能满足驱动时序的要求。     

Design and development of a CCD based optical tomography measuring system for particle sizing identification

This research investigates the use of charge coupled device (abbreviated as CCD) linear image sensors in an optical tomographic instrumentation system used for sizing particles. Four CCD linear image sensors are configured around an octagonal shaped flow pipe for a four projections system. The measurement system is explained and uses four CCD linear image sensors consisting of 2048 pixels with a pixel size of 14 μm by 14 μm. Hence, a high-resolution system is produced. The designed instrumentation system is calibrated using known test pieces. Spherical shaped and irregular shaped particles are tested on the designed system to complete analysis of the overall performance of the system.     

基于CPLD技术的CCD驱动时序产生方法

文中介绍利用可编程逻辑器件7000系列设计CCD驱动电路的方法,阐述了逻辑设计原理,给出了CPLD实现电路和时序仿真波形,验证了CPLD技术的可行性。     

星载多光谱CCD相机研究

研制的星载多光谱 CCD相机采用线阵 CCD推扫方式成像 ,具有蓝、绿、红、近红外、全色五个成像谱段 ,在轨工作时地面像元分辨率为 2 0米 ,覆盖宽度 113公里。相机光学系统采用单镜头焦面分色结构实现多光谱成像 ,每个谱段的探测器阵列由 3片 2 0 4 8元 CCD光学拼接而成 ,以实现地面宽覆盖成像。多片 CCD信号采用串行读出方式 ,使焦面 15片 CCD形成两路视频信号输出给数据传输系统。测试结果显示 ,相机各谱段 MTF典型值为 0 .2 5 ,满足使用要求。     

基于CPLD技术的CCD驱动电路的设计

本文介绍了一种基于CPLD（复杂可编程逻辑器件）技术的CCD驱动电路，井以线阵CCD（电荷耦合器件）μPD3575D为例，探讨了该技术的特点和优势．结果表明：该技术可以提高驱动电路的稳定性和工作频率．有效利用了CPLD的内部资源．具有较高的实用价值．可借鉴适用于其他型号的CCD。     

投影法CCD测径系统

文中介绍以线阵CCD作为光电传感器的投影放大法线径测量系统,着重分析提高系统稳定性和测量精度的方法。系统以半导体激光器为光源,成像系统采用物方远心光路。对阴影图像进行一阶微分并求其局部重心点作为其边缘特征点。对光学系统放大倍数和成像系统像差分别进行线性、非线性标定以提高测量精度。     

某雷达光轴采用CCD系统光电标校精度分析

相控阵雷达机、光、电三轴与普通炮瞄雷达一样讲究三轴的一致性,而对于一维有源相控阵雷达采用的大型平板阵列天线系统机、光、电三轴匹配精度的标校,特别是光轴在采用简易CCD成像系统的精度对系统精度的影响是重点分析内容。     

用CCD改造测量显微镜及其在切削实验中的应用

老式测量显微镜因应用范围窄、使用不便,故用CCD摄像机、图像采集卡、计算机及图像采集处理软件对其进行了改造。可在屏幕上实时显示多种标尺,并可进行拍照和录像。在切削实验中,可对切屑厚度、刀具磨损及螺纹等的形貌进行观察并测量其尺寸。