共查询到20条相似文献,搜索用时 31 毫秒
1.
自1958年克萨斯仪器公司(TI)的基尔比等人研制发明了世界第一块集成电路以来,电子工业进入了集成电路(IC)的时代。经过40余年的发展,集成电路已经从最初的小规模集成电路(SSI)起步,先后经历了中规模(MSI)、大规模(LSI)、超大规模(VLSI)、巨大规模(ULSI),发展到目前的特大规模集成电路(GSI)和系 相似文献
2.
VXI数模混合信号集成电路测试系统 总被引:4,自引:1,他引:3
数模混合集成电路测试系统是当前我国的主流测试系统,本文以信息产业部电子信息产业发展基金重点招议标项目(VXI数模混合集成电路测试系统研究开发及产业化)为例进行了介绍。论述基于VXI总线的高速、高密度、多通道、低功耗新型ATE IC测试系统,介绍了系统的软硬件设计。详细论述了全面提高系统开放性、标准化的设计思想。 相似文献
3.
4.
随着集成电路工艺和规模的飞速发展,使得VLSI测试变得日益困难,因此测试技术成为VLSI领域的一个重要研究课题。在分析VLSI测试的瓶颈问题基础上,介绍了几种电路分块算法,分析了分块算法对于VLSI测试的必要性。利用分块算法将原始电路划分为若干子块有利于采用不同BIST结构对子块进行测试,使得一定时间内电路翻转次数降低,而功耗也随之降低;通过比较并行BIST和扫描BIST的实验结果,发现并行BIST获得的系统故障覆盖率高于扫描BIST。 相似文献
5.
孙斌 《国外电子测量技术》2000,(3):39-40
设计者一般常用各种不同的软硬件DFT技术。 硬件DFT 近来,设计者为IC的片内自检、印制电路板(PCB)和硬件系统开发了硬件DFT技术和测试标准。集成电路复杂程度的增加,ASIC技术的引入及多片模块的发展使DFT成为IC测试中必不可少的技术。当前的IC技术一般均结合了内置自检技术(BIST)。 PCB上复杂的IC数量和密度的增加以及表面封装技术的提高均要求发展新的PCB测试技术。传统的分层测试技术和电路的探针式测试技术已不实用了。 相似文献
6.
数字信号处理器(DSP)由于集成度高,功能复杂,故其测试问题一直是国内难题。本文介绍了数字信号处理器(DSP)的主要特征和发展应用,分析了DSP器件测试面临的挑战,以TI公司的DSP器件为例,详细论述了自动获取DSP器件测试图形实现DSP器件测试的技术方案,本文论述的DSP测试方法已经在SP3160V集成电路测试系统上实现。 相似文献
7.
1.引言大规模集成电路和计算机的设计、生产和使用过程中都需要进行各种测试。测试按目的可分为设计验证、生产测试(包括中间测试)和维护测试。测试方法的选择与测试目的和测试对象有关。本文介绍的测试码产生算法主要是针对后两种测试的,而测试对象主要是针对中小规模集成电路和插件板一级的。测试码的产生是测试的关键环节。经典的测试码产生算法是在小规模集成 相似文献
8.
本文介绍了一个在WANG VS计算机上实现的MOS大规模集成电路测试码生成系统。该系统用经扩展的D算法生成测试码,并采用四值平行模拟算法进行故障模拟。该系统具有描述电路方便,操作简单,灵活以及易于扩充等特点。用该系统对5212和5G8255等芯片进行的测试码生成工作取得了较满意的结果。 相似文献
9.
10.
文章介绍测量CMOS大规模集成电路电磁发射的方法;辐射方式TEM法和传导方式VDE法。提出了集成电路级传导电磁发射模型,模型计及测试接口、布局图连接线、电路封装、动态电流源及IC寄生参数等方面的影响。模型的建立,采用软件分析和实验测量相结合的方法。模型可以方便地置入常用的模拟分析器,在IC设计阶段,对10-1000MHz电路的电磁兼容特性进行预测。 相似文献
11.
本文首先分析了大规模数字集成电路测试的特点,接着对几种常用的大规模数字集成电路测试技术作了评述,最后介绍了我们新研制成功的一种微处理器测试技术,着重从原理上对所采用的测试图形产生方法和实现技术进行了描述。 相似文献
12.
第一讲硬件以大规模集成电路(LSI)技术为基础的微型计算机发展很快,已深入到生产和生活的各个领域,它的硬件和软件也经历了不少变化。目前,在国外,微型机系统已做到,硬件组件化,即按功能做成部 相似文献
13.
考虑大容量存储器测试的严格性和测试时间的可行性,对16K位以上的存储器用N~(8/2)次型测试图案是非常必要的。本文结合某测试系统,分析了实现N~(8/2)型图案的可行性,给出了三种移动对角线走步的程序流程。其中指计法可得到最少的空操作。也给出了行列走步测试程序流程。由于LSI8测试系统结构的限制,不能方便地实现行列乒乓和行列跳步写恢复图案。给出了列跳步的程序流程,但是有约N~(8/2)次空操作。行乒乓只能通过CPU干预将行、列地址互换的办法实现。并给出了列跳步写恢复的程序流程。由于地址编码器位数的限制,LSI8测试系统不能实现邻位打扰图案。根据LSI8测试系统实现N~(8/2)次型图案的局限性;对存储器图形发生器的要求进行了讨论。 相似文献
14.
15.
随着科学技术的发展,各种电子设备大量使用,电磁干扰成为关注的焦点,要进行电磁干扰实验首先必须建立模拟电磁场.本文介绍了可以模拟核电磁脉冲的瞬态电磁场辐射敏感度测试系统,论述了该测试系统建立的必要性、功能、系统组成及使用方法. 相似文献
16.
集成电路计量测试工作,近年来随着半导体工业的发展而形成一个新的工作,对这项工作我们从实际需要出发,通过调研实践,得到以下一些体会。集成电路,尤其是大规模超大规模集成电路具有体积小重量轻性能稳定可靠。在成品率很高的基础上具有成本低价格便宜的优点。由此而促进电子工业发生革命性的飞跃,同时也促进了各行各业的技术发展,特别是电子计算机的发展。目前技术先进国家大规模集成电路 相似文献
17.
18.
系统芯片(SOC)测试 总被引:3,自引:0,他引:3
时万春 《电子测量与仪器学报》2004,18(Z1):10-15
SOC是一种比较有特点的集成电路,它不能像传统的集成电路那样进行测试.除了超过10亿位的数字通讯链路和已达千兆赫的工作速度,一个SOC可能已经包括了所有类型的逻辑电路、多种CPU、各种模拟模块和几百种不同类型的存储器.特别是它面临着测试的挑战,比如时钟域的增加、复用"黑盒"芯核或IP元件的使用,以及它们之间混合IP和匹配IP芯核的应用.它们实际上可能已经使用了不同的测试方法学.本文试图划出SOC的范畴、规范SOC测试特性、回顾SOC测试的发展,分析SOC测试方法学和SOC测试系统特性. 相似文献
19.
序言微电子技术是计算机技术发展的基础。集成电路的测试是微电子技术的重要组成部分,主要用于三方面: 1.设计验证。设计一个复杂的电路固然困难,验证你的设计是否正确无误也是很困难的。制造样机,作试验的办法,既费钱,又费时,对大规模集成电路的设计,用这种办法是不可想像的。用计算机模拟的办法,虽然现在还在用,但常被认为不是最有效的。如果不做设计验证就投产,一旦设计有错误,就会造成极大的浪费。 2.产品检验。生产集成电路的厂家必须 相似文献