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<正>2006年4月4日,科利登系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台 SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些业界领先的测试系统来测试多媒体音/视频数字和混合信号芯片, 以及一些工业上应用的高电压芯片。 相似文献
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近日,中国电子技术标准化研究所(CESI)与半导体测试公司惠瑞捷(Verigy)在北京联合宣布“CESI-Verigy集成电路测试验证实验室”正式成立,该实验室引进了国内配置较高的93000 SoC测试机台,旨在满足北京乃至国内高端芯片测试方面日益增长的需求。实验室将提供独立的公共测试服务,与代工厂提供的量产测试不同的是,CESI—Verigy实验室的测试更多偏重于标准的验证,对高端芯片性能的分析。 相似文献
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日前,半导体测试公司惠瑞捷(Verigy)与中国电子技术标准化研究所(CESI)在北京联合宣布“CESI—Verigy集成电路测试验证实验室”正式成立,旨在满足北京乃至国内高端芯片测试方面日益增长的需求。 相似文献
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RessellSchlager 《半导体技术》2003,28(6):38-40,52
得益于芯片设计方法的不断提高,以及高密度工艺技术,如今生产的数字、模拟模块集成到一块芯片中的系统芯片,其尺寸小巧,功能强大。随之也引发了一个前所未有的挑战——生产商该如何测试这些芯片,且使测试过程高效廉价。正因为将多种功能模块集成到了一块芯片当中,使得传统的测试方法无法应用到系统芯片中去。为了解决系统芯片测试问题,一个更为全面、综合的测试方法产生了,这种方法更好地帮助实现从设计到测试的过渡,加快样片的质量验证,并能提高大批量产品测试的性价比。这种方法的核心是高效的测试开发能力,可以满足复杂测试的产量要求。此测试平台具有能适应复杂的模拟、数字测试性能的仪器。尽管系统芯片日趋复杂,这种方法通过有效地平衡设计与测试资源,向用户提供了更为有效的测试方案,缩短了测试时间。 相似文献
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最新SOC测试的发展趋势 总被引:2,自引:0,他引:2
随着SOC芯片结构的复杂化,功能模块的多样化,SoC芯片的测试也面对诸多挑战,诸如测试资源和成本的兼顾。本文简单描述了现今SOC芯片的发展和趋势,以及相对应ATE测试系统的应对。 相似文献
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《电子工业专用设备》2008,37(12)
<正>全球领先的测试、测量和监测仪器提供商--泰克公司日前宣布,其UWB WiMedia一致性测试解决方案已被领先的测试和认证中心Testronic实验室采用,提供无线USB互操作性测试。 相似文献
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杨富征 《电子工业专用设备》2005,34(5):49-52
介绍了有关大容量存储器集成电路测试系统的软件原理和硬件构成,对大容量存储器集成电路的测试方法作了初步探讨,希望对实现实验室精确测试和生产中大批量芯片中测和成品测试有所帮助。 相似文献
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《电子工业专用设备》2007,36(8):70-71
2007年7月17日,为全球半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商科利登系统有限公司(Credence Systems Corporation)推出业界性价比最高、性能最为出众的解决方案SapphireD.6432DFT,用于测试新兴的高速计算和消费应用中所使用的微处理器、游戏及图形器件。该设备的推出再次强化了科利登市场领先的Sapphire测试平台。 相似文献