超细粉末粒度分布的X光小角散射分析

相应于超细多分散系的X光小角度散射强度,提出了精确而简便的解析方法——分割分布函数法。该方法把积分方程转化为线性方程组,通过求解相继给出粒度直方图,百分组成、平均粒度、比表面和分布宽度等特征参数。借助于YHP-97小型计算器,只需数分钟即可解印出全部结果。解算所要求的特定角度下的散射强度,也由相应的自动化测量给出。     

亚微米氧化铈颗粒的粒度分布测量研究

采用新的动态光散射及激光衍射等技术对较高浓度悬浮液中亚微米氧化铈颗粒的粒度分布进行了测量,分析了分散前处理对动态光散射测量结果的影响,计算了动态光散射测量时不同分布基础的粒度分布结果,并以透射电镜观测结果进行了验证。结果表明,激光衍射测得的粒度分布结果数值较大,其基于体积分布的粒度中位值约为2μm;动态光散射测量的粒度分布数值较小,基于体积、数量分布的粒度中位值分别为257.0 nm和157.1nm,分散前处理对粒度测量结果有一定的影响;动态光散射测量的基于数量分布的氧化铈颗粒的粒度分布结果与透射电镜观测所得的数值能够较好地吻合。新的动态光散射技术可准确地测量经过充分分散的较高浓度悬浮液中亚微米氧化铈颗粒的粒度分布。     

X射线小角散射法测量纳米粉末的粒度分布

在常规高分辨X射线衍射仪上应用小角散射法测量了ZnO、ZrO2、Fe和Al2O3纳米粉末的粒度分布。测量结果与专用X射线小角散射仪器的测量结果一致，并经TEM分析验证。证明在常规高分辨X射线衍射仪上应用小角散射法测量纳米粉末的粒度是可行的。与采用四狭缝系统或Kratky狭缝系统的专用小角散射仪相比，该方法的特点是操作简单，成本较低，易于推广。目前此法可测量1～300nm范围的粉末粒度。     

激光法粉体粒度分析技术探讨

对激光法分析粒度分布的基本原理、优缺点、以及适用范围进行了概述,同时介绍了单纯利用动态光散射(DLS)技术以及将动态光散射与单颗粒光传感器(SPOS)相结合的两种新型激光粉体粒度分析方法的原理、特点及应用,并对激光粒度分析技术的应用现状、面临的问题和发展趋势进行了分析。     

纳米钨粉和超细钨粉的粒度分布表征

采用X射线小角散射法测试了纳米钨粉和超细钨粉的粒度分布.结果表明,采用X射线小角散射法测试出的纳米钨粉和超细钨粉的粒度分布与透射电镜观察和比表面法测试结果吻合,能较为准确地表征纳米钨粉和超细钨粉的一次颗粒的粒度分布.但为了得到可信的结果,X射线衍射仪的最小可测试角必须根据实际情况进行选择.     

原矿及破碎产品标准粒度特性方程的研究

本文建立了选矿厂设计原矿标准曲线和各种常用破碎设备排矿曲线的粒度特性方程同时对高登 －安德列耶夫－舒曼粒度特性方程和罗逊－莱蒙尔粒度特性方程的拟合精度进行了初步探讨。     

超细粉末粒度分布的X光小角散射分析(Ⅲ)——分割分布函数法求解的稳定性

分割分布函数法是以x光小角散射数据计算超细粉末粒度分布的方法之一。本文通过优化系数矩阵、另加阻尼因子以及最小二乘法处理,对分割分布函数法求解稳定性进行了研究。全部演算在计算机上完成。结果表明,当满足相应条件时,所求粒度分布的平均偏差不大于所测散射强度的误差。     

X光小角散射测定超细颗粒物体粒度分布的几种解析法比较

一、引言 X光小角散射法是目前测定超细颗粒物体粒度分布的一种有效方法。使用波长为埃(A)数量级的单色X射线(如铜靶的X光管发出的X光波长为1.54A,铁靶为1.94A)可以测定粒度在数十埃至数千埃范围的超细颗粒物体的粒度分布。 X射线是一种电磁波,它通过电荷密度不均匀的空间区域就会发生散射。只要超细颗粒与周围介质的电荷密度有差别,都会发     

激光散射法测量粒度及其分布

一、前言在常用测量粒度方法中,X 射线法、电子显微镜法所测之数据精度较高,但制样及操作困难,速度慢且设备复杂,只适于研究工作应用。比表面法、空气透过法等虽操作较方便,但测量精度低,只能测粉末的平均粒度。沉降法等虽能测粒度分布,但速度较慢。上述各种方法的共同缺点是不能或不适于联机使用,因而使用范围有局限性,不便于在工业上进行高精度的快速检测。激光散射法(简称散射法)既可测单个粒子,也可测粒子群,可测项目包括:粒度及其分布、颗粒形状、面平均直径、体平均直径、面直径标准偏离、粉粒的质量分布,等等。本方法既适用于研究工作,也     

钢中稳定氧化物夹杂激光粒度分析方法

介绍了采用英国马尔文仪器有限公司生产的MASTERSIZER2000型的激光粒度分析仪，应用激光衍射法（LALLS，又称小角激光光散射法）的原理。测定经电解提取出的稳定氧化物夹杂粒度大小，其测量的粒径范围：0．02—2000微米。通过测定可以得到不同大小粒度的体积百分数、数量百分数和比表面积百分数。     

超细羰基镍粉末在贮存中物理性能的改变(Ⅰ)

论述了氮气预热法制取的超细羰基镍粉末在室温条件下密封贮存一定时间后,粉末的粒度及粒度分布都发生了变化。通过X光小角度散射法测定的结果表明:超细羰基镍粉末中粒度d<15nm组份的粉末大量减少。粒度d=30～80nm组份的粉末量增加。而粒度d=80～160nm组份的粉末几乎没什么变化,通过研究发现:超细羰基镍粉末的平均粒度愈小则粉末中小粒度组分的粉末就消失得愈多,中间粒度范围的粉末增加量也愈多。随着超细羰基镍粉末平均粒度的增大则小粒度粉末的消失和中等粒度粉末增加量也随之减少。粒度组成的改变导致了粉末平均粒度的长大。同时也发现:超细羰基镍粉末在室温条件下稳定存在的颗粒临界直径为1Onm。     

纳米粒度测量方法浅析

本文介绍了多种纳米颗粒粒度的测量方法。主要讨论了X射线小角散射法、光子相关谱法和透射电镜-图像分析法的原理、适用范围及其优缺点。     

纳米氧化铈颗粒的粒度分析研究

针对自制的纳米CeO2进行了一系列粒度分析研究,包括XRD、SEM、TEM、动态光散射法、比表面分析法、X射线衍射法和X射线小角度散射法(SAXS).不同的研究手段得到的纳米CeO2的粒径不尽相同,并阐述了各种研究手段的优缺点及适用范围.     

X-射线小角散射法测定钢铁及合金中析出相的粒度

对钢铁及合金中各种不同粒度析出相的电解提取和化学分离方法、X-射线小角散射法测定析出相粉末的测定条件进行了研究,优选了各种测定参数,从而建立了钢铁及合金中多种析出相粒度分布分析方法。该方法被广泛应用于各种高温合金、中低合金钢、微合金化钢中碳化物、金属间化合物的粒度尺寸分布的测定。结果发现,随着回火温度的增加,低合金钢中的M3C相的数量增加,但粒度变化不大,当回火温度升至700℃时,M3C相分解而使平均粒度增加;在含铬的中低合金钢中,析出的M23C6相的粒度随时效温度的增加而增加,而MC相的粒度无明显变化;     

旋转采样机粒度偏析机理

本文建立了旋转类采样机包含皮带中部采样机、旋斗采样机、旋转缩分机、旋管缩分机的通用数学模型,推导了截取料流时的轨迹方程、速度方程、最大速度波动公式、最大面积波动公式,从数学分析角度阐述了粒度偏析机理,找到了减少粒度偏析及提高采样精度的有效途径。     

FAM激光测粒仪及其应用

本文根据颗粒的光散射原理,提出了综合应用Fraunhofer衍射理论和Mie散射理论的FAM激光测粒仪。在讨论工作原理的基础上,文章给出了激光测粒仪对各种粉末颗粒和液滴样品所做的测量结果。实测表明:所研制的FAM激光测粒仪具有测量精度高,应用范围广等特点,适用于各种两相介质中的粉末粒度和液滴大小的测量。     

高能球磨法制备吸气材料用超细锆粉

采用高能球磨的方法制备出超细锆粉，并采用XRD，TEM，动态光散射粒度测试仪等多种测试手段研究了粉末的组成，形貌和粒度分布，结果表明，经20h高能球磨后粉末晶粒达到纳米级，粉末颗粒形状不规则，在球磨过程中有少量铁杂质带入，对试验结果进行了进一步的分析和讨论。     

中华人民共和国国家标准超细粉末粒度分布的测定X射线小角散射法

中华人民共和国国家标准超细粉末粒度分布的测定Ｘ射线小角散射法Ｕｌｔｒａｆｉｎｅｐｏｗｄｅｒ—ＤｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎｏｆｐａｒｔｉｃｌｅｓｉｚｅｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎＳｍａｌｌ－ａｎｇｌｅＸ－ｒａｙｓｃａｔｔｅｒｉｎｇｍｅｔｈｏｄ￥／／ＧＢ／Ｔ１...     

粉末性能对压坯压制参数及脱模力的影响

以1650MPa的压制压力对粒度为-100/+140到-400目的几种电解和还原铜粉筛分料进行了压制。通过载荷一位移曲线的数字化,计算了各种成形压力下的压坯密度。由脱模载荷一压坯位移曲线得到的最大滑动载荷确定了脱模力。使用Heckel's压制方程进行的分析表明,在不同的压力范围内,三种不同的致密化机理是有效的。还发现,Heckel's方程的常数K和A对粉末的粒度和形状很敏感。也可推断,生坯密度和脱模力将随着粉末粒度及形状不规则程度的增加而增加。而且颗粒形状对于压制和脱模过程的影响大于粒度的影响。     

高浓度料浆中纳米氧化铈颗粒粒度分布的测量

提出了采用聚电解质原溶液稀释高浓度料浆,再进行粒度分布测量的方法,并基于扩展DLVO理论和动态光散射测量粒度分布的基本原理进行了分析。研究表明,浓度高达20%(质量分数)以上的纳米氧化铈料浆采用原溶液稀释至5%(质量分数)以下料浆后,可间接地获得其中纳米颗粒的粒度分布,且其结果与直接制备的相近浓度料浆的测量结果、透射电镜直接测量结果吻合良好。原溶液稀释技术,对纳米颗粒间的双电层相互作用力和颗粒分散状态扰动小,可有效提高纳米颗粒粒度分布测量的浓度上限,对研究高浓度料浆中纳米颗粒的粒度分布和聚集-分散状态具有重要意义。