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该文介绍了全电波暗室30MHz~1GHz场地确认的方法,并对本单位5m全电波暗室的实际测试结果进行了分析总结。 相似文献
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本文介绍了5m法全电波暗室的射频性能评测指标,并结合实际建设情况,分别阐述了归一化场地衰减(NSA)、场地电压驻波比(SVSWR)、场地均匀性(FU)和背景噪声这四项指标的校验和评估方法,并对评测过程中对结果造成影响的因素进行了分析。 相似文献
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电波暗室场地电压驻波比实测 总被引:2,自引:1,他引:1
CISPR16-1-4:2007 Ed2.0规定了1GHz以上采用场地电压驻波比法验证辐射骚扰测试场地的方法,北京无线电计量测试研究所已经依据该方法对某电波暗室进行了实际测试,指出了测试系统搭建过程中需要注意的问题,分析了测试数据。 相似文献
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分析了使用半电波暗室测量不同距离处辐射场强之间的换算关系。首先介绍基于对数距离路径损耗得到的经验模型,然后通过计算不同发射/接收天线间距的归一化场地衰减(NSA)差值,得到了对同一场地和不同场地的不同测试距离处辐射场强理论模型。对不同场地的工程模型进行讨论,并且使用实验数据分析了不同测试距离处辐射场强的换算关系。实验结果表明,不适宜引入确定性修正因子,对待测物在3 m和10 m法半电波暗室的测试结果进行转换。 相似文献
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介绍了IEC 61000-4-22中采用的基于系统平均转换系数的全电波暗室测试系统的确认方法,并与CISPR 16-1-4所采用的自由空间归一化场地衰减及场地电压驻波比(site-VSWR)等场地确认的方法做了相应的对比分析。 相似文献
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美国无线通信和互联网协会(CTIA)制定的无线终端OTA测试标准,对于移动通信手机等产品的测试具有一定参考意义。该标准中最重要的内容是对暗室纹波性能的测量。通过CTIA OTA实验室认可对我国移动通信手机等产品的出口有益。在CTIA OTA 实验室认可中,OTA暗室的纹波性能是一个非常重要的指标,直接影响着OTA测试结果的不确定度。主要叙述了CTIA OTA实验室认可中的暗室纹波性能测量技术,具体描述了测量原理、测量方法、所用仪器及遇到问题的解决方法,研究工作对获取CTIA OTA实验室资质有着积极的意义。 相似文献
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介绍场地电压驻波比互易法测试系统的搭建及场地布置,并结合详细的实测数据着重讨论影响场地电压驻波比测试结果的因素和测试中可能会出现的问题,如墙面的反射、电缆的放置和构成天线架的材料等。据此提出了相应的解决措施。 相似文献
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文本介绍了我国9kHz-30MHz短距离微功率设备的发展现状,说明了9kHz-30MHz短距离微功率设备型号核准的检测项目,并详细阐述了各个项目的测试方法. 相似文献