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正主回路接触电阻是设备出厂试验的主要技术参数之一,该参数值的合格与否关系到产品运行的安全性和可靠性。从影响接触电阻的因素出发,分析了影响主母线回路电阻的主要因素,并通过试验重点对接触压力以及接触面积对矩形母线固定接触的接触电阻的影响进行了详细的分析。 相似文献
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输电线路跳线接头,特别是用并沟线夹连接的接头,或变电站引下线处使用螺栓线夹的接头,由于螺栓松动、铝表面氧化等原因,使接触电阻增大。当通过负荷电流较大时,使线夹接触面局部区域过热发红,烧熔成孔洞或表面烧成凹凸不平,进一步增大接触电阻,严重者烧断跳线(或引下线)造成事故。本文结合三个具体事故,通过数学分析方法,分析接头 相似文献
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《中国电机工程学报》2021,(15)
压接型IGBT器件封装材料间的接触电阻大小及分布规律直接影响其电热分布特性与运行可靠性,然而现有接触电阻计算的方法大都依赖于半经验模型,未能考虑表面形貌参数影响,难以准确表征,该文提出考虑材料表面形貌参数及接触压力影响的压接型IGBT器件接触电阻模型及影响规律研究。首先,基于电接触理论,建立考虑材料电阻率、接触面接触压力、粗糙度及微硬度参数的接触电阻数学模型。其次,通过分析材料表面特性选定接触电阻模型参数,建立单芯片压接型IGBT器件有限元仿真模型计算接触压力,获取器件内部接触电阻分布规律,并通过器件导通电阻测量,间接验证所建接触电阻模型的有效性。最后,分析接触压力、芯片电阻率及表面粗糙度对压接型IGBT器件接触电阻的影响规律。结果表明,相对COMSOL软件内置模型,所建接触电阻模型可更加准确地表征器件内部接触电阻变化规律。相比其他接触面,芯片与钼片间的接触电阻最大,且当接触压力较小时,接触电阻受电阻率、粗糙度及压力的影响更明显。 相似文献
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接触电阻是表征双极板性能的重要参数,然而由于接触电阻难于直接测量,许多研究中仅限于测量体积电阻,即本体电阻和接触电阻之和。通过电导池法测量得到双极板的本体电阻,而通过铜电极法得到了不同压力下的体电阻,结合这两套实验装置,分别得到了本体电阻和接触电阻。在考察不同因素对接触电阻的影响中发现,较低接触压力下接触电阻随着压力的增大迅速降低,而较高接触压力时接触电阻随着压力的增大下降缓慢。另外,改变接触方向对测试结果的影响较小。 相似文献
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电器长期通电后可使触点表面劣化,具体体现为接触电阻稳定增大、无规律增大、周期性变化、瞬时变化等电接触失效形式。本文以银镍触点材料为例,试验研究了接触压力、通电时间和通电电流对接触电阻的影响,并分析了接触电阻劣化失效的物理机制。 相似文献