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提出了一种在 Kepler 架构 GPU(graphics processing unit,图形处理器)上利用 CUDA(compute unified device architecture,统一计算设备架构)技术加速通信仿真中DFT(discrete Fourier transform,离散傅里叶变换)处理过程的方法。该方法的核心思想是利用线程级并行技术实现单条收发链路内部DFT运算的并行加速,并利用动态并行和Hyper-Q技术实现不同收发用户对之间链路处理过程的并行加速,从而最终达到加速仿真中DFT处理过程的目的。实验结果表明,相对单核单线程CPU程序和上一代Fermi架构GPU程序,该方法分别能够将DFT处理速度提升300倍和3倍,具有较好的加速效果。 相似文献
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产品全寿命周期管理中的加速环境试验技术 总被引:3,自引:1,他引:2
加速环境试验技术已应用于电子、军工、航空、航天等领域内的可靠性工程中。将加速环境试验融入产品的设计、研制和生产中,对于提高产品的可靠性水平,增强其市场竞争能力具有现实意义。 相似文献
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刘美玉 《电子标准化与质量》1997,(3):13-16
以GJB450《装备研制与生产的可靠性通用大纲》以及GJB367.2《军用通信设备通用技术条件环境试验方法》、GJB367.3《军用通信设备用技术条件可靠性鉴定试验和验收试验方法》为根据,结合产品的研制、生产实际,阐述了对环境试验与可靠性试验的认识,并针对如何提高产品可靠性,分析了环境试验与可靠性试验的相互关系。 相似文献
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刘美玉 《信息技术与标准化》1997,(3)
以GJB450《装备研制与生产的可靠性通用大纲》以及GJB367.2《军用通信设备通用技术条件环境试验方法》、GJB367.3《军用通信设备通用技术条件可靠性鉴定试验和验收试验方法》为根据,结合产品研制、生产实际,阐述了对环境试验与可靠性试验的认识,并针对如何提高产品可靠性,分析了环境试验与可靠性试验的相互关系。 相似文献
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高加速寿命试验(HALT)与高加速环境应力筛选(HASS) 总被引:2,自引:0,他引:2
将高加速寿命试验与高加速环境应力筛选引入产品的设计、研制和生产中,可在产品批量生产前消除设计缺陷,缩减开发时间和成本,快速提高产品的可靠性并增强市场竞争力。 相似文献
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光电对抗仿真试验技术 总被引:8,自引:0,他引:8
文中介绍了美国空军电子战评估系统、陆军导弹司令部先进仿真中心以及海军仿真实验室的光电仿真试验设施及其相关技术,将美国目前所使用的光电仿真器归纳为两种类型:一种是光学机械式,另一种是计算机生成图像仿真系统。指出计算机红外成像彷真是未来光电仿真试验的发展趋势,介绍了电阻阵、二极管激光器、基于光纤的热转换器三种实现方案,建议我国光电仿真试验建设应以计算机景象生成为基础的通用仿真器为主,同时兼顾技术成熟的光机式仿真器,走二者相结合的道路。 相似文献
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高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术综述 总被引:3,自引:0,他引:3
樊强 《电子产品可靠性与环境试验》2011,29(4):58-62
高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术是近几年不断发展起来的可靠性新技术。就HALT&HASS技术与传统的可靠性试验进行比较,重点阐述HALT&HASS的概念、特点以及测试步骤和注意事项。 相似文献
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介绍了通信干扰设备环境试验方法。提出采用非参数检验的环境试验数据处理方法,能定量地描述环境试验前后技术性能的变化关系。 相似文献
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航空通信抗干扰技术性能仿真分析 总被引:1,自引:0,他引:1
简要分析了仿真技术在通信抗干扰系统研制中的重要性,针对航空通信典型抗干扰技术建立了通用的仿真平台,文中详细讨论了仿真建模的原则和模型的建立方法,并重点对典型干扰情况下的抗干扰系统性能进行了仿真分析。 相似文献
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加速环境应力试验在COG-LCD中的应用 总被引:2,自引:0,他引:2
液晶显示器件(LCD)的应用范围不断扩大,尤其是在高档电子、通信领域的应用已成为流行的趋势。基于缩小器件体积及降低器件成本的需要,COG(CHIP ON GLASS)、COF(CHIP ON FILM)模块工艺应运而生。通过对COG-LCD进行未封硅胶时的高温、高湿加速环境应力试验,以及对试验后失效样品的分析,找出造成部分产品使用过程可靠性下降的根本原因,并通过工艺改进提高产品的可靠性。 相似文献
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高加速寿命试验和高加速应力筛选技术 总被引:1,自引:0,他引:1
文中简单介绍高加速寿命试验和高加速应力筛选(HALT&HASS)技术,重点从其原理、试验方法阐述该技术如何缩减研发时间与成本,达到提高产品可靠性和增强市场竞争力的目的。 相似文献
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加速可靠性试验是一项新兴的试验技术,通过引入加速试验条件,可以提高可靠性试验的费效比.从全寿命周期管理的需求出发,对加速可靠性试验技术进行了简要的介绍,讨论了加速可靠性试验对于加强军品质量控制的作用,介绍其研究现状,并对如何深入开展加速可靠性试验的研究与应用工作提出建议. 相似文献
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高加速寿命试验(HALT,highly accelerated life test)和高加速应力筛选试验(HASS,highly accelerated stress test)技术是近年来不断发展起来的可靠性新技术,其工作原理、试验目的、应力要求等与传统的可靠性试验有所不同,是考核与提高产品质量与可靠性的强有力的工具。本文将就HALT&HASS技术与传统的可靠性试验进行比较,重点阐述HALT&HASS的特点、关键保证,以及如何利用现有可靠性试验设备逐步开展该试验,以达到缩减研发时间与成本,提高产品可靠性和增强市场竞争力的目的。 相似文献
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本文旨在从武器装备发展与环境试验的关系出发,论述GJB150的历史地位、现实意义以及在高技术武器装备条件下的适应性。 相似文献
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电子设备可靠性的加速试验 总被引:2,自引:1,他引:1
简要介绍了可靠性加速试验基本原理和一般流程,以及可靠性试验技术形成和发展。提出了可靠性加速试验的实施规划,并重点阐述了可靠性加速试验中的高加速寿命试验(HALT)和高加速应力筛选试验(HASS)的相关内容,详细介绍了两者的区别和实施方法。针对试验应力类型选择、试验层次和试验条件的确定等方面进行了说明,给出了基本应用原则... 相似文献
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张先文 《电子产品可靠性与环境试验》2009,27(6):66-69
介绍高加速寿命试验和高加速应力筛师技术的概念、测试步骤,并举例说明HALT和HASS试验箱的性能指标和详细参数、HALT和HASS试验系统的校准方法及注意事项。 相似文献