砷化镓微波单片集成电路可靠性预计模型研究

在对微波单片集成电路（MMIC）的失效模式和失效机理进行分析的基础上,提出了砷化镓微波单片集成电路（GaAsMMIC）的可靠性预计数学模型,并通过加速寿命试验确定了产品的基本失效率和预计模型温度系数πT0在大量统计工艺数据和文献数据的基础上,获得了可靠性预计模型中的其它系数。     

一种星载电子产品老练试验加速因子估计方法

提出一种基于可靠性预计数据的星载电子产品老练试验加速因子的估计方法。在该方法中,温度对产品失效过程的影响通过器件失效率预计模型中的温度应力参数予以刻画。通过比较产品在工作环境温度与老练试验温度下的预计失效率数据来估计老练试验加速因子。该方法简单、易行,含义明确,有望增强可靠性评估结果与可靠性预计结果的可比性。     

晶体管非工作状态可靠性预计

本文根据晶体管非工作期可靠性统计数据建立了我国晶体管非工作状态失效率预计模型，经验证，预计失效率与现场失效率相吻合，通过预计模型可预计晶体管在各类环境下的非工作状态失效率，尤其给出了我国晶体管普遍库房贮存失效率和贮存有效期。     

IEC TR62380可靠性预计通用模型分析

分析了国外典型电子元器件数据手册——IEC TR 62380《电子组件,PCBs和设备的可靠性预计通用模型》,并简要介绍了该预计手册中电子元器件的可靠性预计模型和方法.分析结果表明,模型直接考虑了环境的影响,并以设备任务剖面的热循环代替了难以评价的环境因子;在部件失效率中包含了与部件焊接相关的故障.     

锌银蓄电池失效分析及预防措施

以工作电流和工作温度为主要考虑因素,建立了锌银蓄电池基本失效率模型和工作失效率模型。以试验数据为基础,采用失效率模型,通过数值计算得到基本失效率预计值,将预计值与试验值进行了比较,结果表明,得到的失效率模型可以应用于工程实践,为预防锌银蓄电池失效提供了理论基础,对锌银蓄电池在飞机上的正确使用具有重要意义。     

锌银航空蓄电池失效分析及对策

以工作电流和工作温度为主要考虑因素,建立了锌银航空蓄电池基本失效率模型和工作失效率模型。以试验数据为基础,采用失效率模型,通过数值计算得到基本失效率预计值,将预计值与试验值进行了比较,结果表明,得到的失效率模型可以应用于工程实践,为预防锌银航空蓄电池失效提供了基础,对锌银航空蓄电池在飞机上的正确使用具有重要意义。     

一种评估电子设备可靠性的新方法

本文提出一种评估电子系统可靠性的新方法,该方法可以减少传统器件失效率预计方法中所存在的过分依赖现场失效数据的缺点,将失效物理可靠性评估方法和原有经验失效数据相结合进行可靠性评估,既提高了对新产品或新技术产品的设计和试验的支持,又能够保证预计结果的准确性和可信性。该方法主要适用于改进型电子设备的可靠性评估,具有使用简单,准确性高等特点,也便于在同步工程中使用。     

电子机箱结构冲击可靠性技术研究

针对特定电子机箱结构在车载环境中受到冲击载荷的作用产生疲劳破坏，运用ANSYS软件进行可靠性分析。首先对电子机箱进行模态分析，根据实际需要对模型提取了前6阶的固有频率，对振型进行分析，指出结构的薄弱环节，提出修改建议；接着根据国军标要求对电子机箱进行冲击实验的有限元仿真，得到了电子机箱在冲击条件下的应力和位移的变化情况，从而得到电子机箱在冲击备件下的可靠性各影响因素和消除方法。     

多失效机理下基于FIDES的MEMS失效率预计研究

针对MEMS在工艺和结构上的新特点以及当前国内外尚未形成与MEMS相关的失效率预计模型的研究现状,基于失效物理方法和现有FIDES标准,提出了一种MEMS失效率预计方法。在MEMS工艺影响分析基础上,结合实验数据和失效物理方法,提出了MEMS在多失效机理下的总体失效分布函数计算方法;之后,基于FIDES基本失效率预计模型,提出了MEMS的失效率预计模型及其适用的参数取值方法;最后,完成了某型MEMS高g值微加速度计的失效率预计案例。结果表明,预计模型充分考虑了MEMS在工艺和结构上的新特点以及多失效机理的共同作用,可有效解决现有标准手册不能准确反映制造工艺发展现状和手册中失效数据不适用的问题。     

真空电子器件工作和非工作可靠性的探讨

论述了几个军用真空电子器件在不同应用条件下的工作和非工作的可靠性情况 ,提出器件在非工作贮存期内的预计失效率模型 ,并讨论在长期非工作贮存期内出现的失效机理及定性得出存放寿命与时间相关的结论。     

非工作期微电路的可靠性预计模型研究

通过分析影响非工作期微电路可靠性的主要因素，采用大量的现场和试验数据进行归一化-线性化-回归分析，研究各主要影响因素与微电路非工作期失效率的定量关系，进而建立可靠性预计模型，该模型预计的失效率与电子设备非工作现场失效率比较，初步验证结果良好。     

可靠性问题讲座 第四讲 系统可靠性设计(下)

四、可靠性分配 1.目的和要求: 可靠性分配,是把系统所允许的失效率,对于系统中的部件进行合理分配的过程。这个分配的主要目的,是对各种元件建立一个可靠性指标,使得元件研制单位,能够明确对自己的可靠性要求。这些指标影响到价格、重量、时间安排以及与研制有关的其他因素。允许失效的合理分配,首先需要知道元件的相对失效率,这就需要知道实际予计时需要的所有资料,如基本失效率、环境因子、降额工作周期等。这样相对可靠性的预计就成了整个考虑的主要组成部分。如同作预计工作一样,在作分配工作时,元件的预计可靠性也以同样的方法计算出     

晶体管非工作期失效机理及可靠性预计

本文较全面地分析了影响晶体管非工作期可靠性的主要因素及其失效机理。进而,在广泛收集现场与试验可靠性数据的基础上建立了我国晶体管在非工作状态下的失效率预计模型。经实践验证,表明该模型的预计效果良好。同时还提供了我国晶体管的贮存可靠性水平与贮存有效期,这一研究成果对军用装备的非工作期可靠性预计、设计、储备、更新以及预防性维修等方面都有深远的意义。     

半导体器件在潮湿环境中的可靠性试验

研究湿度对半导体器件可靠性的影响主要目的有二个：强调湿度作为环境应力因素在失效过程所起的作用，以及模拟可靠性与湿度的相互关系，故而对两种塑料封装的半导体器件（光电子电路和集成电路）进行了一系列试验，以便从某一湿度和温度中测得的可靠性数据与从同一温度而湿度较低时测得的可靠性数据相比较，当进行特殊失效机理分析时，环境应力因素湿度的作用就显而易见了，试验数据也证实了原始模型；广义的阿列尼厄斯关系式。该模     

元器件失效率预计模型的新框架

本文介绍一种元器件失效率模型的新框架，它是美国空军研制军事电子可靠性预计模型的一部分，这里没有包括的其它工作是关于组件和系统级的可靠性预计，已出版的数据表明现有的可靠性预计方法远远达不到要求的精度，现有方法的问题之一是未包含关键性因子，新框架基于这样的假设，本质上所有的失效都是由于内部缺陷，失效机理和应力相互作用引起的，这三种成分有助于形成作为应力施加时间、热循环次数和振动时间的函数的失效分布。Ｗ     

声表面波压控振荡器的可靠性

对一种声表面波压控振荡器的工作失效率进行了预计。建立了由５个单元组成的可靠性串联模型。应用可靠性预计手岫计算了各单元的工作换效率。结果表明,在＋７０℃和Ｍｔ环境条件下,预计这种振荡器的故障工作时间为１３７８１ｈ。如果将元器件的质量提高１个等级,在相同条件下的平均无故障工作时间将大于２００００ｈ。     

电子设备中非电阻件的可靠性预计

非电组件是电子设备不可缺少的组成部分，其可靠性直接影响到整机的性能、完好性及寿命，所以对电子设备进行可靠性预计时必须考虑非电组件的影响，本文介绍了三种非电阻件的可靠性预计模型，有关的现场使用数据及失效模式分布情况，为开展机电组件的可靠性预计研究提供参考。     

石油测井仪器可靠性设计方法研究

根据可靠性理论及石油测井仪器的使用环境和结构特点，提出了新的失效率λs和MTBF计算模型来指导测井仪的可靠性设计，指出石油测井仪器可靠性设计方法，应主要集中在电气和机械设计两方面，并偏重于可靠性保障技术及其应用方法的研究。通过调研下井仪常用电子元器件的失效规律，提出了应采取的可靠性保障措施，并对常用的可靠性保障技术及其应用方法进行了阐述。认为避免电子仪骨架、元器件与工作环境内有可能存在的振动产生共振，是石油测井仪器机械可靠性设计的主要任务。     

基于Bellcore标准的电子产品可靠性预计方法及案例研究

介绍了Bellcore标准进行可靠性预计的理论基础,包括元器件失效率与单元失效率模型等。利用Bellcore现行的TelcordiaSR-332标准手册,对某用于商用环境中的单板计算机进行了可靠性预计。给出了该单板计算机MTBF预计的过程和方法,以及失效率和MTBF的预计结果,并与军用标准的预计结果进行了对比,说明了Bellcore标准目前存在的一些问题。     

温控风扇可降低噪声

冷却风扇有助于防止计算机、仪器和其他设备过热，但是，它们还能产生造成用户疲劳感的噪声。一种同时对付热和噪声的方法就是在系统温度很低时使风扇低速运行，并且只有在温度超过预定阈值时才增大风扇速度。这就把风扇的速度和噪声限制到确保合适冷却所需的最低程度。本文所描述的电路只需要３个ＩＣ就可在温度超过容易调节的跳闸点时才平滑地提高风扇速度。此外，该电路还可做得非常小巧，因为两个ＩＣ都采用小型ＳＯＴ－２３封装。低压降稳压器ＩＣＩ向风扇和温度传感器ＩＣ２供电（参见附图）。ＩＣ２电源脚上的电压等于：Ｖ１＝１．２…