一种新型小数分频频率合成器的设计

本文介绍了小数分频频率合成器的特点,并使用CX72300设计了一种小数分频频率合成器,所设计的频率合成器指标为：工作频率范围950～1450MHz,500MHz内杂散优于-50dBc,相位噪声优于-90dBc／Hz（偏10kHz）,频率步进在50Hz以下。     

X波段介质振荡器的设计与仿真

主要介绍了介质振荡器的设计理论,以及使用Agilent公司的ADS仿真软件进行X波段介质振荡器的设计和仿真。在设计过程中使用NEC公司的MESFET管NE71084作为振荡器的有源器件,利用介质谐振器实现了输出信号的稳频与反馈。给出仿真结果和输出信号相位噪声与功率的实际测试结果。测试结果表明,该方法可以有效地指导介质振荡器的设计过程,提高设计效率。     

高抗振X波段低相噪频率合成器

介绍了一个X波段频率合成器的设计,该频率合成器通过采用混频锁相环的方式实现,本振锁相环输出8 GHz的信号,作为混频器的本振信号,混频环最终输出信号为8.5~9.0 GHz,输出静态相位噪声为-93 dBc/Hz@1 kHz offset。此外,还研制了一种小型化的隔振器来降低振动对晶振的影响,对环路也采取了相应的减振措施,提高了该合成器在振动下的相位噪声,振动环境下相位噪声为-90 dBc/Hz@1 kHz offset。     

C波段频率合成器的设计

在分析常规数字锁相环路基础上,利用数字锁相混频环电路实现了C波段快速低相噪宽带频率合成器的设计,并进行了理论分析。给出的研制模块的指标测试结果,验证了理论分析的正确性。     

小步进频率合成器的设计

回顾了三种基本的小步进频率合成器设计方法的优缺点。介绍了一种特殊的小步进频率合成器的设计方法，即采用两个大步进频率的单环锁相电路混频，两者步进频率的差较小为r，就能获得输出为小步进频率(为r)的合成器，并给出了相应的理论依据和计算。只要合理设置频率，规避互调分量的影响，就能使合成信号保持大步进频率单环锁相电路较低相位噪声、较短跳频时间和较低杂散信号的特性，而且合成原理简单，几乎不需要电路调试。     

X波段频率综合器锁相环相位噪声特性分析

本文分析了某雷达频综3cm锁相环的噪声特性。计算出了锁相环输出相噪的理论值。并对影响输出相位噪声的主要因素做了分析。最后给出了试验结果。     

高性能X波段直接式频综的设计

介绍一种X波段直接式频综的设计方案,对其输出杂散进行分析,并给出研制结果,在10GHz的输出频率上,偏离载频1kHz处的相噪为－108dBc/Hz,杂散优于－70dBc,跳频时间小于0．7μs,可捷变40个点。     

基于双环X波段低相噪频率合成器的设计与实现

基于相位噪声特性,对数字锁相式频率合成器进行了研究和分析。在对比传统单环锁相技术的基础上,介绍了一种双环技术的X波段低相噪锁相式频率合成器。在满足小频率步进、低杂散的情况下,设计所得到的X波段频率合成器其绝对相位噪声≤-100 dBc/Hz@1 kHz。     

X波段谐波混频频率合成器的设计

本文主要介绍利用谐波混频技术设计的X波段频率合成器。该频率合成器具有跳频速度快、输出频带宽、相噪低、体积小、重量轻等特点 ,同时没有倍频环节 ,降低了系统的设计难度 ,便于实现。     

一种L波段的小步进频率合成器

详细分析了直接数字合成(DDS)和锁相环(PLL)的基本原理、特点及相位噪声特性。将DDS与PLL技术结合,取长补短,可以在不降低杂散性能要求的前提下实现小步进的频率合成器。在此基础上提出了一种DDS+PLL+混频的L波段小步进频率合成器的实现方案。根据方案,选择DDS芯片AD9850和PLL芯片ADF4112来搭建电路。给出了试验测试结果。测试结果表明,在L波段实现了相位噪声-94dBc/Hz@1kHz,杂散抑制-60dBc,频率步进1kHz,验证了该方案的可行性。     

S波段频率合成器的设计与实现

简述了混合式频率合成技术的几种合成方式,比较了它们的优缺点,然后采用DDS激励PLL的混合方式实现了S波段频率合成器,并分别从杂散和噪声的来源以及如何去改善杂散和噪声性能去分析该混合式频率合成器,最终给出实际测试结果。     

基于锁相环技术的X 波段频率源的研制

介绍了一种X 波段频率源的设计方案及相关理论。采用数字锁相环内混频技术实现的该X 波段频率源具有频带宽,相位噪声低,杂散低等特点。其主要技术指标如下：输出频率范围为9.8GHz～10.8GHz,频率步进为5MHz,在偏离1KHz 处相位噪声优于-85dBc/Hz,在偏离10KHz 处相位噪声优于-88dBc/Hz,杂散抑制优于60dBc。由最后的测试结果可 知,采用该方法设计的频率源既能保证低杂散又能显著改善相位噪声水平,可广泛用于通信设备和测试系统中。     

X波段低相噪合成频率源设计

利用阶跃恢复二极管的强非线性特征和50MHz参考源,设计出一种高效率微波梳状发生器基准信号源,并通过此信号源采用谐波双混频合成法研制出低相噪、高杂散抑制的X波段跳频频率源。主要性能参数实测结果为:输出频率7.6～8.5GHz,频率跳频间隔50MHz,相位相噪≤-105dBc/Hz/1kHz、杂散抑制≤-60dBc。     

X波段多功能频率合成器设计

文章介绍了一种X波段多功能频率合成器的设计方法,该方法以直接数字频率合成(DDFS)和直接式模拟合成技术为基础,通过优化频率规划和引入相位噪声清除技术,改善了频率合成器杂散和相位噪声性能。雷达激励器采用了"任意波形产生(AWG)+IQ调制"结构,除产生雷达激励波形外,兼具回波模拟器功能,实现了一个硬件平台,两种功能的一体化设计,具有良好的工程应用价值。文章给出了原理框图,并对相位噪声、杂散等方面做重点的介绍和分析,文末给出了测试结果。     

一种C波段小步进捷变频频率综合器的设计

本文介绍了一种小步进、低相噪、低杂散、捷变频锁相频率综合器的设计与实现,本设计选用超低相噪锁相环芯片,采用小数分频实现小步进,通过双锁相环“乒乓”工作实现捷变频,经过对环路参数的精心设计,较好的实现了相位噪声、杂散等技术指标。     

X 波段捷变频频率综合器

在无线通信领域中, 高性能频率综合器是通信设备、雷达、电子侦察和对抗设备、精密测量仪器的核心部件。 现代通信系统对频率综合器的精度、分辨率、转换时间及频谱纯度等提出了越来越高的要求, 性能卓越的频率综合器均 通过频率合成技术来实现。以往通过锁相环来实现的频率综合器具有高精度、高稳定度、低相位噪声、低杂散等性能。 但是在跳频时间上只能做到几十甚至上百μS。这与某些雷达需要的频率综合器的捷变速度有差距。本文提出一种直接 合成方法,很好的解决了这个问题。     

一种小步进、低相噪频率合成器设计

综合应用锁相环(PLL)、直接数字合成(DDS)等技术,设计一种具有宽频带、小频率步进、高稳定性、低相位噪声等特点的频率合成器。主要技术指标为:频率步进1 Hz,最大频率控制误差优于4.5×10-4Hz,在10 kHz处相位噪声为-100 dBc/Hz。与传统的多环路设计方法相比,新的设计更能够满足高集成度、低成本、灵活通用的需求。并且可极大提高电路调试效率。