盐雾试验条件对试验结果的影响

盐雾试验利用人工模拟盐雾环境考核元器件的耐腐蚀性能,为改变元器件外壳质量提供试验依据.文章通过分组试验,对比影响盐雾试验有效性的各主要因素,列举试验温度、氯化钠溶液浓度和pH值、盐雾沉降率,以及产品放置角度等因素发生变化时的试验结果,从理论上分析以上外界因素对中性盐雾试验结果的影响.     

加速试验中失效机理一致性的判别方法

通过对电子器件加速试验失效模型--Arrhenius模型的研究,发现加速试验过程中,失效机理不发生改变时,电子器件失效敏感参数的退化速率与施加应力的负倒数遵从指数关系,从而提出了一种加速试验失效机理一致性的判定方法.对样品3DG130进行了150～310℃的序进应力加速试验,快速得到了失效机理一致的应力范围,验证了该方法的可行性.     

盐雾试验中的测量不确定度

阐述了测量不确定度评估的意义,并以盐雾试验为例,评估测量不确定度分量如配置盐溶液、盐溶液PH值、盐雾沉积量、试验箱温度、样品的放置与恢复条件、试验后的检测等对盐雾试验结果的影响,提出了控制各分量的措施。     

电路接点(焊接点及电接触点)的三防技术

电路接点(焊接点及电接触点)的金属往往是裸露的,在潮湿、霉菌和盐雾的影响下极易出现故障,本文对电路接点的失效进行了故障分析,阐明了电路接点三防的重要性,并提出了防护措施和电路三防设计思路.     

大气盐雾与电子产品盐雾试验

对自然界中盐雾的形成和特点及其对电子产品的影响进行了综述,并对电子产品、设备、元器件以及材料的盐雾试验参数进行了对比。根据盐雾试验的应用范围,通过材料、元器件、组件及整机的逐级检验,介绍了提高产品的耐盐雾腐蚀性能,评价电子产品长期耐盐雾性能的研究方法。     

镀金层盐雾试验机理及方法探讨

本文从盐雾试验的方法和目的着手，探讨盐雾试验是如何显示金镀层质量，并结合微电池腐蚀原理提出盐雾试验机理。根据剖析的盐雾试验的机理，作者从微电池腐蚀的两个微观因素糙度等。结合这些宏观条件，作者探讨了金镀层耐盐雾试验的有效方法。     

浅谈盐雾试验

盐雾试验是利用盐雾试验设备所创造的人工模拟盐雾环境来考核产品或金属材料耐腐蚀性能。标准对试验方法的描述不是很详细,尤其中性盐雾试验(NSS)应用最广,因此本文将对其试验方法和步骤进行讨论。     

超声雾化在盐雾试验中的应用

提出将超声雾化应用于盐雾试验 ,在盐雾生成法上以超声雾化法取代气压喷射法 ,通过理论与试验探索了超声雾化法的可行性 ,并比较了两种方法的优劣     

ADSS光缆盐雾试验室的建立及盐雾试验

本文着重介绍了检验ADSS光缆耐电蚀性能－－盐雾试验的方法及盐雾试验室的建立，并对ADSS光缆试样在100kV电场强度下进行1000小时盐雾试验的过程和结果进行了分析。     

ADSS光缆盐雾试验室建立与试验

文章着重介绍检验 ADSS光缆耐电蚀性能的盐雾试验方法和盐雾试验室的建立 ;对 ADSS光缆试样在 10 0 k V电场强度下进行 10 0 0 h盐雾试验结果进行了分析。     

氟碳面漆涂层体系抗太阳辐射性能研究

氟碳面漆除除具有防湿热、防盐雾、防霉菌性能外,还具有优越的抗太阳光紫外线照射防护性能,能够完全满足恶劣环境条件下设备的防护要求.针对以上问题,选取了6种氟碳面漆涂层体系,通过各项环境试验验证,比较其抗太阳辐射性能.文章对氟碳面漆及其配套涂层系统工艺防护性进行研究,为今后涂料体系的选用提供参考和技术支持.     

J405γ计数管放电、坪斜大的废品成因及分析

介绍了计数管的工作原理和J405γ计数管主要参数指标,并从计数管的零件清洗质量、阴极制造、充气气体配比等方面,具体分析了J405γ计数管在生产过程中,放电、坪斜大的废品产生的原因,提出了工艺解决方法.     

ADSS光缆盐雾试验

文章着重介绍试验ADSS光缆耐电蚀性能－盐雾试验方法及盐雾试验室的建立。ADSS光纤试样在60kV电场强度下进行1000h盐雾试验过程和结果分析。     

环氧聚酯美术型粉末涂料及其防腐性能试验研究

通过多年来的批量生产实践,阐述了环氧聚酯美术粉末涂料的组成及其对原材料的要求和在电子测量仪器表面装饰的应用;并介绍其涂覆层经人工加速试验耐盐雾试验和耐湿热试验的结果,以及在各种气候条件下,经一年的天然暴露试验结果。     

不同镀层结构的金属外壳盐雾试验分析

集成电路外壳的抗盐雾腐蚀能力是由材料、冶金、电镀工艺及镀层结构等多种因素决定的。对三种底材的三种镀层结构进行抗盐雾对比试验,并对三种结构的失效概率进行了统计分析。结果表明,在镀层达到一定厚度后,采用镍与金的交叉镀层结构抗盐雾能力最强,最差的是镍层加金层结构的镀层外壳。     

失效机理鉴别在加速试验中的作用

就正常使用条件下出现的某些主要失效机理而论，加速寿命试验技术提供了一种研究电子元器件可靠性的简便方法，然而，加速试验经常是在不知道失效机理，以及不保证被试验所加速的失效机理与正常使用条件下所观察到的失效机理相同的情况下，本文总结了电子元器件和封壳的普通失效机理，并研究了在加速试验过程中可能出现的失效机理转变。     

电工电子产品盐雾腐蚀试验方法

电工电子产品进行盐雾腐蚀主要考核其抗盐雾腐蚀的能力及在盐雾环境下的性能变化,是检验其性能的重要试验.该文从适用标准及范围、试验准备及预处理、试验设备及注意事项、技术要求及影响因素、试后处理及检查五个方面探讨了电工电子产品盐雾腐蚀试验方法,对规范化检验流程具有重要的现实意义.     

四防磁光盘性能研究报告

磁光盘在盐雾,霉菌,湿热,高低温等环境下工作性能会受到很大影响。文章主要介绍了新研制的四防光盘在盐雾,霉菌,高低温,湿热条件下的抗恶劣环境的工作性能。     

基于紧缩阈值加速退化试验的长寿命产品可靠性评估

对于退化失效型产品,当产品的特性参数超过给定阈值时即发生失效,失效阈值定义越严格则对产品功能要求越高,则产品越容易发生因不满足该功能要求而失效,可见产品的寿命数据与失效阈值的定义密切相关.对于长寿命产品,通过紧缩失效阚值的方法,可以在低应力水平下得到更多的失效数据.论文建立了寿命分布与试验应力和失效阈值的关系模型,并提...     

从连续盐雾试验转向循环盐雾试验

本文叙述了当今世界流行的加速腐蚀试验方法，如ＡＳＴＭ－Ｂ１１７恒定盐雾，Ｐｒｏｈｅｓｉｏｎ湿热干燥循环、由盐雾／高湿组成的多功能循环腐蚀等试验以及进行这些试验的试验箱，并将这些试验方法及结果与天然户外暴露试验进行了比较。