90°散射角下源激发X射线荧光测量的最佳入射角及源-靶-探测器结构的改进

在90°散射角下,从基本激发方程出发,导出了以基体对入射与出射X射线质量吸收系数比为变量的最佳入射角表达式。按所求最佳入射角设计源-靶-探测器结构,使厚靶的低能端X射线射出介面的强度增强约20％,而且由于出射角减小,缩短了靶-探测器距离,从而使全谱探测效率提高20％左右。采用椭圆锥面准直孔、并将口部削成适当角度,可显著减小散射本底。     

基于Windows操作系统的X荧光光谱分析软件

基于国际通用的X荧光解谱软件AXIL的原理,自主开发出了在Windows平台上工作的新的X荧光光谱分析软件。该软件在我们自行研制的全反射X荧光分析仪上已工作多年。实践证明,该软件不仅界面友好、操作灵活,而且功能强大、准确性高,可完全代替DOS操作系统下工作的AXIL,具有很高的应用价值。     

用XRF分析稀土元素时同位素激发源的选择

根据Ｘ射线荧光产生和探测的机理,用一些基本的物理参数（光电质量吸收系数、荧光产额、吸收边阶跃比、被分析的Ｘ荧光线相对于同线系的强度比等）分析计算了在同位素激发Ｘ射线荧光分析技术（ＸＲＦ）中最常见的两种激发源和＾２３８Ｐｕ源分析稀土元素含量时,在不同的测量系统和分析条件下,每个元素的相对激发探测效率以及它们的优缺点,从而确定了对不同的稀土元素,选择何种激发源、测量何种特征Ｘ线系（ＫＸ或ＬＸ）,可使整     

源激发X射线荧光测定头发中Ca、Fe、Cu、Zn、Pb的方法优化

同位素源激发X射线荧光（XRF）已广泛应用于头发中的微量元素测定。中国原子能科学研究院曾经建立了源激发X射线荧光分析技术分析头发样品,Pb的检测限（LLD）约10μg/g。本工作在原来工作的基础上优化仪器参数,降低背景信号强度,提高了灵敏度,尤其是对Pb的灵敏度,使Ca、Fe、Cu、Zn、Pb的检测限分别达到19、1.2、1.1、0.62、1.1μg。首次采用V做内标元素,取样量为0.5g,仪器的短期稳定性相对标准偏差（RSD）为0.38%,长期稳定性相对标准偏差为0.98%。     

用质子激发X荧光分析技术鉴别玉器种类

质子激发Ｘ荧光分析中以测定玉器的主量、次量及微量元素的成分和含量,因而可以将那些外形及颜色相近的玉器因其化学组分的不同而清楚地分开,并得知其真实的材料种类。对于主要化学组分一致的同类玉器,如果产于不同的地方,则由于其成矿地区地球化学环境的不同,它们的微量元素种类及含量也将有所不同,因而这一方法也可用来判定玉器的产地。     

使用X光聚束系统的X射线荧光分析研究

复合光导管组成的Ｘ光透镜可将发散的Ｘ光束聚至直径φ０．５ｍｍ，聚束后的功率密度增加１０＾４倍，这种新型的Ｘ光透镜已用于Ｘ射线荧光分析研究，使用Ｘ光管功率仅２Ｗ，而探测限可达１０＾－９－１０＾１０ｇ．     

源激发X射线荧光分析装置研制及其应用

作为一种非破坏分析方法,放射源激发X射线荧光有广泛的用途。用来测定含Pu样品时,简便快速,但需进行密封操作系统。本工作设计加工了一台封闭式放射源激发X射线荧光装置,采用2．59nBq（70mCi）241Am激发,电致冷Si-PIN探测器。     

铜镜的X射线荧光分析

建立一种不取样的分析古代青铜镜的方法,给出了52面铜镜的铜、锡、铅含量值。从所获得的含量值看,铜镜中的铜、锡比例很接近,这就证明了《考工记》里“金锡半谓之鉴燧之齐”的记载基本上是正确的。     

同位素源X射线荧光法分析溶液中微量金

本工作用~(109)Cd源激发的Si(Li)探测器探测的能量色散X射线荧光法和薄膜技术法对水溶液中微量金的分析进行了初探。测量时间600_S,选用AuL_α分析线,其探测限可达0.15μg;精度优于±10%;在样品中加入2.58μg的Au,回收率是91.5%。此法可以应用到任何场合下溶液中微量金的测量。该方法简单、快速、比较准确。