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测井仪器的刻度目的在于使同一类型的各支测井仪具有一致的测井响应效果。本文分析了同一类型的几支补偿中子测井仪的测井响应值之间存在的离散性,论述了目前国内外补偿中子测井工作中采用一点法刻度的应用局限性,即它只对孔隙度接近刻度点的那种地层才有意义。因而作者提出并论证了采用两点刻度法,它能使几支仪器在相当宽的孔隙度范围内得到一致的测井响应效果。 相似文献
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介绍了补偿中子测井仪刻度的基本原理及在Windows98平台下利用Borland C Builder5.0^[1]编程环境开发的中子测井仪刻度管理软件,实现了对中子测井仪的刻度管理,列举了应用实例。 相似文献
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介绍一种适用补偿密度测井仪的三级刻度器.该刻度器由两件便携式金属模块组成,分别以镁铝合金和铝合金为介质主体.其中肋线的刻度由装有间隙器的铝模块完成,模拟轻泥饼响应.这种刻度器结构简单,加工方便,适用于使用MCB-DLT型数控补偿密度面板的密度测井仪.利用一级标准刻度井或二级实体刻度模块作为标准传递,通过对刻度器中填料空腔内介质的调整,可以迅速完成刻度器响应的标定.文中说明了刻度器的调校方法.该刻度器使用方便,稳定可靠,其刻度误差不大于±0.015g/cm~3,是数控补偿密度测井质量控制重要的配套部件. 相似文献
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大量实验证明,西安石油勘探仪器总厂生产的75—1型中子伽玛仪的计数率与孔隙度的响应存在两种函数关系。通常,仪器达到出厂指标,孔隙度在1~4.2%范围内,计数率与孔隙度的对数呈线性关系;如果能量阈选择过高,则二者不是线性关系。本文从理论到实践解决了75-1型中子伽玛仪响应关系归一化问题,同时还介绍了现场刻度器及其应用效果。 相似文献
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本文介绍了中子现场刻度器量值传递常用方法——刻度井直接传递法和另一种新方法——曲线拟合法。同时给出并比较了用两种方法传递Geoex数控测井系统中子刻度器刻度量值的结果。 相似文献
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中子孔隙度仪的信号依赖于测井仪器,井眼、和地层特性。解决中子孔隙度仪刻度问题的途径之一是利用仪器读数与岩石的中子性质(例如.中子的慢化长度或迁移长度)作相关对比.即在不存在井眼或仪器干扰的均匀地层部分.用岩石的中子性质来刻度中子孔隙度仪,从某种意义上说.这种刻度方法消除了岩石岩性的影响.然而.由于它仅在一种固定的仪器--井眼几何条件下有效.因此,仍然存在着严重的缺陷。本文所提出的这种新的、半经验的刻度中子仪的方法通过将仪器读数与视迁移长度或视慢化长度作相关对比.从而避免了地层岩性,井眼大小和仪器尺寸等因素的影响.因此.该方法具有宽得多的适甩范围,,这种由计算得到的视迁移或慢化长度将作为表示井眼内中子场的空闻参数,而且这些参数的计算是基于实际测量紊件的、、利用本文所提出的方法.很容易获得相对于标准孔隙度刻度曲线的全部井眼和岩性的校正因子。本文还给出了在波Zielona Gora刻度中心所得到的实际曲线范例、 相似文献
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在大斜度井、水平井中如果完井没有测到物性资料可以用套管补偿中子计算地层孔隙度。但套管补偿中子资料受套管、水泥环的影响使得其测量值大于裸眼补偿中子测量值,为此,本文提出了分不同套管尺寸建立模型来校正,校正后的补偿中子与裸眼补偿中子在形状数值上基本一致。 相似文献
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本文分析了密度测井刻度的计数率误差对密度测井精度的影响。对目前的现场刻度方法提出了改进意见。改进后的刻度方法可以降低刻度误差并减少现场刻度的时间。 相似文献
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补偿中子测井是用于裸眼井或套管井中确定地层孔隙度的一种常规测井方法。目前该方法在现场应用十分广泛,而应用效果的好坏关键在于孔隙度的测量精度。本文详细地讨论了补偿中子测井仪的灵敏度、统计噪音、信噪比及孔隙度分辨率。通过理论分析指出了改善仪器测量精度的方法和途径。 相似文献
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尽管测井响应已发生了重大的改变,但还经常被误解。补偿中子(CN)测井的使用已有多年,并已成功地进行多方面的岩石物理应用。多年来,尽管这些仪器的基本设计和总的响应特性都保持在相对稳定的状态,但服务公司还是做了些质的改进,即提高了响应特性,更新了软件。遗憾的是,地球科学家对CN仪器是如何工作的和怎样最大程度地利用测井数据的总的理解似乎已经滞后,近些年更为糟糕。许多岩石物理学家、地质学家和石油工程师都坚信不同的CN仪器基本上都是一样的,因为他们过于简化了测量的基本物理基础,并误解了数据的正确使用和解释。简要介绍中子仪器物理意义之后,将试图用图说明仪器的一些缺陷以及目前可以避免缺陷的方法。本文讨论了几个干扰理解和解释中子测井曲线的问题,并提出了一些避免问题发生的技术方法。 相似文献
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江苏省启东混合器厂引进美国ROSS公司先进技术,试制的国内第一台BME系列混合乳化器,最近通过了技术鉴定. 该产品是一种高转速、高剪切力的装置,具有国际先进水平.广泛适用于化工、石油、医药、食 相似文献
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文章针对新研制的3081A补偿密度仪器的刻度方法进行了详细的介绍和分析,指出了在仪器刻度过程中,应该注意的技术问题;利用详细的仪器刻度参数进行分析比较,得出正确的仪器刻度方法。 相似文献