电子设备可靠性增长试验方法及应用研究

可靠性增长试验是对产品的可靠性进行调查、分析和评价的一种手段,对于可靠性要求高、产品子样少或价格昂贵的产品的可靠性增长和评价具有良好的实施效果。针对目前电子设备可靠性增长试验中的薄弱环节,对可靠性增长试验的关键技术进行了研究,阐述了电子设备如何制定可靠性增长试验的方案及程序,介绍了电子设备可靠性增长试验的制定原则和试验方法,并针对某型雷达可靠性增长试验给出设计和应用实例。     

可靠性指标增长验证统计方案设计方法

在验收试验之前,在产品的研制过程中往往已有不少对产品的其他信息,比如产品各个阶段的试验信息;在产品的研制过程中,可靠性通常是增长的,因此这类数据符合可靠性增长指标要求。在设计可靠性指标验证方案时．充分地考虑了可靠性增长的信息,基于单调约束模型和Bogey试验设计方法,通过蒙特卡洛算法,给出一种可靠性增长验证统计方案的设计方法。     

石英谐振称重传感器的可靠性增长

对已批量生产的某种石英谐振称重传感器进行了可靠性增长的尝试。首先对这种传感器实施了环境试验与寿命试验，并用经典法、信赖法和贝叶斯法估计了环境可靠度及MTBF的单侧置信下限。进而对其进行失效分析，并将系统性B类失效加以改进，采用一般性的可靠性增长方式，经可靠性验证试验对增长后的MTBF做出评价，当置信水平为0．9时，其MTBF的单侧置信下限达到了299 158次；满足了MTBFL10万次的要求。并用AMSAA—BISE模型进行了增长趋势检验和拟合优度检验。     

电子元器件的有关可靠性试验

可靠性试验是为了评价和分析产品的可靠性特征而进行的试验。试验包括有环境、筛选、交收验收、测定、鉴定验证、认证以及寿命与加速寿命试验等等。 可靠性增长试验是为暴露产品的薄弱环节,并证明改进措施能防止薄弱环节再现而进行的系列试验。从广义上来讲,凡属以改进产品的可靠性为目的而进行的试验都可以作为可靠性增长试验的一种手段,但要注意的是可靠性增长试验是一个有计划地激发故障、分析故障和改进设计并证明改进有效的一个过程。 可靠性增长试验同一般可靠性试验的区     

基于Duane模型的加速可靠性增长试验研究

本文采用加速因子和Duane模型对产品的加速可靠性增长试验进行了定量评估,并通过典型应用案例对评估方法进行了验证。加速可靠性增长试验是一种采用较产品正常使用状态下所经受的更加严酷的试验条件,通过在有限时间内搜集更多产品寿命与可靠性信息,提高产品可靠性的内场试验方法。加速可靠性增长试验既能节省时间与经费,又能用合理而科学的方法评定经此试验后设备的可靠性,规范的可靠性增长试验甚至能够代替可靠性鉴定试验。     

可靠性仿真试验及其在雷达研制中的应用

可靠性仿真试验是基于故障物理原理和计算机技术,利用计算机仿真分析软件,对雷达等电子设备进行数字模型可靠性分析和计算的过程。通过软件在电子样机上施加产品所经历的载荷历程,分解到产品的基本模块上,进行应力分析和应力损伤分析,从而找出产品的设计薄弱环节;通过仿真预计产品的失效时间分布并分析,指导和辅助可靠性设计优化;通过可靠性仿真量化评估,比较设计方案,为可靠性综合评价提供支持。研究表明：可靠性仿真试验缩短了雷达研制周期,提高了雷达可靠性水平。     

厚膜混合集成频率合成器的可靠性增长

本文介绍厚膜混合集成频率合成器在研制与生产过程中依照“试验—分析—改进”的方法进行工作。首先预计了集成器件可能达到的可靠性水平。在初试中产品的可靠性水平较低。经过分析修改了设计方案,在试生产中可靠性明显增加,但环境试验又暴露出封装方面的问题。通过试验改进又进行高温电老化筛选,去除了早期失效的产品,经过这一系列工作后当置信度为0.8时,这批产品置信区下限估计MTBTP、已接近3000小时,通过“试验—分析—改进”的几次循环,产品可靠性增长十分显著。提交装机使用的厚膜混合集成频率合成器组件其MTBF约为7.6×10~5小时,并已超过初期预计的可靠性指标,使用反应良好。     

通信电子产品研制阶段的可靠性设计

现阶段对通信电子产品的可靠性要求越来越高,在设计初期增加对可靠性的预计,有针对性地进行提高产品可靠性的设计,进行全面可行的可靠性增长试验,才能有效提高产品可靠性水平。     

电子元器件的可靠性增长方式

电子元器件通常都是批量生产的,所以它们的增长过程一般是分阶段或按试验序列而逐步进行的.对它们进行增长分析时,通常应该采用离散型的增长模型。工程实践上,电子元器件的可靠性增长,可以采取试验比较法、消除失效模法以及阶段序列增长法等各种方式.试验比较法需要通过前后两次试验来分析产品的增长效果。第一次试验的目的,是要掌握产品的可靠性现状,摸清产品的存在问题;第二次试验的目的,则是要验证纠正措施的有效性,并检验其增长效果。     

收放式光电复合缆的研制与可靠性试验

从产品结构、材料选用、工艺参数等方面简述了收放式光电复合缆的可靠性设计,分析了工艺设计对产品性能的影响。列举了一些可行的疲劳试验方法,提出通过模拟使用工况的试验装置来验证产品可靠性的试验设想,以便作出可靠性评估,从而提高产品可靠性和使用寿命。     

舰载雷达系统装备环境试验与可靠性技术应用

舰栽雷达电子设备的耐环境试验是验证产品可靠性指标的一个重要途径。本文简要介绍了电子产品可靠性设计及可靠性增长试验,着重论述了舰栽雷达电子产品环境试验以及环境试验防护技术要点,并提出了提高雷达电子装备耐环境适应性必须重视有效的可靠性增长环境试验防护技术。结合舰栽雷达电子装备的特点,给出了部分环境试验防护技术及环境应力筛选的具体应用措施。     

基于FPGA嵌入式的SRAM测试方法

随着航天技术的发展,嵌入式系统设计在航天上得到了越来越广泛的应用。静态随机存储器(SRAM)作为使用最为广泛的存储器之一,由于其高速低功耗的优良特性,在航天领域被广泛使用。目前,其功能测试还依赖于通过使用VHDL/Verilog编写测试端口来完成,不仅开发效率低,而且很难保证测试结果的可靠性。本文提出了一种通过嵌入式开发的方式完成对静态随机存储器(SRAM)功能测试的方法,测试方法基于可复用的IP技术,大大提高了测试数据传输效率。通过这种方法,SRAM测试系统的二次开发基于应用层而不是底层逻辑层,大大简化了系统设计。这样不仅提高了测试效率,而且具有较好的可靠性、可配置性以及可移植性,大大降低了系统的研发成本。测试系统的可行性和有效性已经得到了实验验证。     

电子产品可靠性试验MTBF真值的区间估计

本文阐述了可靠性试验参数的定义和一些概念,并根据实际工作情况介绍了电子产品可靠性试验MTBF真值的区间估计方法,以及在实际工作中特殊情况下的处理方法.     

An intelligent data mining system for drop test analysis ofelectronic products

Drop testing is one common method for systematically determining the reliability of portable electronic products under actual usage conditions. The process of drop testing, interpreting results, and implementing design improvements is knowledge-intensive and time-consuming, and requires a great many decisions and judgments on the part of the human designer. To decrease design cycles and, thereby, the time to market for new products, it is important to have a method for quickly and efficiently analyzing drop test results, predicting the effects of design changes, and determining the best design parameters. Recent advances in data mining have provided techniques for automatically discovering underlying knowledge from large amounts of experimental data. In this paper, an intelligent data mining system named decision tree expert (DTE) is presented and applied to drop testing analysis. The rule induction method in DTE is based on the C4.5 algorithm. In our preliminary experiments, concise and accurate conceptual design rules were successfully generated from drop test data after incorporation of domain knowledge from human experts. The data mining approach is a flexible one that can be applied to a number of complex design and manufacturing processes to reduce costs and improve productivity     

光电产品的可靠性设计与仿真试验

光电产品的可靠性仿真试验是提高产品可靠性的保证,通过信息收集、数字样机建模、模型修正与验证、应力分析、故障预计及可靠性仿真评估,说明了可靠性仿真试验是提高可靠性设计的有效途径。     

飞机成品件综合测试系统的设计研究

介绍了飞机成品件综合测试系统的硬件组成和工作原理,讨论了设计过程中的主．技术问题及解决办法。设计中运用了多种技术手段,硬件系统具有通用性,软件可扩充升级。其综化、自动化程度高,可靠性、扩展性强。经使用,该综合测试系统功能齐全、技术先进、性能优越可对飞机成品件进行全方位的性能测试。     

电子元器件密封试验的探讨与实践

电子元器件是军工电子产品中的重要组成部分,元器件质量的好坏直接影响到各种装备的质量且对各产品的可靠性有较大影响。密封性能是密封电子元器件质量好坏的重要标志。本文介绍了电子元器件破坏性物理分析密封试验中方法的运用、实践,总结了细检漏和粗检漏试验中应注意的问题及应对措施,从而更有效地剔除有密封缺陷的元器件,保证检测结果的准确性。     

The test of time. Clock-cycle estimation and test challenges forfuture microprocessors

Even with aggressive new technology, the complex high-performance processor will require special design techniques and architectures to take advantage of new interconnect and transistor technology. Microprocessor on-chip clock frequencies of multiple GHz are predicted for future generations. However, significant development is necessary in technology, manufacturing, and design CAD tools in order to achieve the performance, manufacturability, and reliability desired for these future products. Design must own the test function. The ability of test to continue supporting at-speed testing has reached physical limits as well as cost impacts that will make testing a very high design priority     

电子产品加速寿命试验研究

电子产品的使用者希望在其工作寿命内尽可能少发生甚至不发生故障,这对电子产品的可靠性提出了较高的要求。制造者为了确保电子产品的可靠性,必须针对产品作一系列的可靠性试验,加速寿命试验是可靠性试验中最普遍和重要的项目。本文简要介绍加速寿命试验的各种模型和它们的适用条件,分析各种加速寿命试验的优缺点。基于加速寿命试验的基本原理...     

Laboratory reliability demonstration test considerations

An automotive company's goal is to design and manufacture vehicles that meet the needs and expectations of its customers. Laboratory (lab) testing is a critical step in developing vehicle components or systems. It allows the design engineer to evaluate the design early in the product development process. Establishing a good lab-test minimum-life requirement (bogey) is an important task for the engineer in order to provide a reliable product. When applying the techniques in this paper to the automotive industry, the test procedures can be generalized to any situation for which the Weibull distribution (with known shape parameter) appropriately describes failure behavior, and for which accelerated lab-tests are being correlated with field-test data. This paper covers approaches for determining reliability-test target development, lab-test bogey conversion, and the quantity of test samples (and the test length) which must be tested to meet the reliability demonstration target requirement