内嵌快闪存储器的测试优化与分析

由于对快闪存储器的广泛应用,对优化测试和可靠性日益迫切的要求成为一大重要挑战。因此,本文通过分析阐述如何合理有效应用夺路并行测试策略,可以更有效的在快闪存储器测试时间和产量方面达到很好的平衡。     

闪速存储器AT29C040与单片机的接口设计

本文介绍了Atmel公司的新一代大容量快闪存储器AT29C040的使用方法，并以笔者开发的某测试仪器为例，给出了实际应用的硬件电路及软件设计。     

快闪存储器BIOS更新程序使用详解

AFLASH。EXE是一个将主板上快闪存储器芯片内的BIOS版本更新的公用程序。（该程序可在王板生产厂家网站上找到）。当计算机开机时,我们可以从屏幕左上角所显示的最后4个数字可以知道BIOS目前的版本,一般来讲,数字越大版本愈新。需要注意的是原始BIOS程序并没有含在支持软件AFLASH．EXE内。你必须趁机器正常运作时将主板上的BIOS程序进行备份（备份到软盘）。步骤参考快闪存储器更新公用程序中的SAVECURRENTBIOSTOFill一节。快闪存储器更新公用程序AJjTI,ran．EXE当运行AFthSHEXE时,如果FLASHTYPE是UNK…     

快闪存储器及测试编程技术

快闪存储器日益广泛地应用于电子装置上,严格测试其逻辑功能和电参数十分必要。文章首先简单介绍ＦＬＡＳＨ的工作原理,然后叙述 类器件进行数据编程的测试技术以及交流参数测试方法。     

快闪存储器KM29N16000TS与单片微机的接口

介绍快闪存储器KM29N1600OTS的特性及其与单片机的接口和编程方法     

一种高效数据缓存器的设计

介绍了一种使用较少器件便可实现的高性能数据缓存器，重点讨论了缓存器与计算机间高速数据传递及快闪存储器的应用。     

28FXXXS5系列快闪存储器在单片机系统中的应用

本文介绍Intel公司生产的28FXXXS5系列大容量快闪存储器中的三种器件的性能及其与单片机的接口方法。     

28FXXX55系列快闪存储器在单片机系统中的应用

本文介绍Intel公司生产的28FXXX55系列容量快闪存储器中的三种器件的性能及其与单片机的接口方法。     

HOLTEK推出工业级8位I／O型快闪微控制器

HOLTEK半导体正式推出符合工业规格的I／O型系列快闪微控制器HT48FxxE。全系列符合工业上-40℃～85℃工作温度与高抗噪声之性能要求，快闪程序内存（Flash Program ROM）可重复10万次之读／写，数据存储器EEPROM可重复100万次之读／写。     

新一代大容量闪存AT29C040在单片机系统中应用

本文介绍了Atmel公司的新一代大容量快闪存储器AT29C040的工作原理及使用方法，并且以激光打标控制器为例给出了实际应用的硬件电路和源代码。