5G Massive MIMO天线OTA测试方法探讨

针对5G Massive MIMO天线测试展开讨论,参考当前5G天线测量前沿技术提出5G Massive MIMO通信系统级测试的方案,实现对整个基站、终端在仿真信道环境中的上下行模拟,直接测量通信系统工作指标.对毫米波波段天线测量中常用的紧缩场系统进行深入介绍和分析,探讨紧缩场技术在5G Massive MIMO天线测试中的应用前景.最后,介绍天线近场聚焦的原理及相控阵天线在紧缩场中的测量应用.     

车载天线整车测试系统集成与实现

针对自动驾驶、车联网等新技术场景下汽车天线整车性能测试的新需求,借鉴近年来近场测量技术的研究成果,设计采用半球面近场与平面近场相结合的方式,集成了一套汽车天线整车测试系统.系统基于8 m直径的方位转台实现了中小型汽车的车载天线测试定位,基于12 m直径的弧形多探头采样架实现了 400 MHz～6 GHz工作频段内的车载...     

天线时域近场测量实验系统研究

总结了天线时域近场测量技术研究中进行系统实验验证在个阶段的进展情况,提出了组建天线时域近场测试验证系统的基本框架,总结了验证实验的基本过程和思路,提出了一种利用离散傅立叶反变换（IDF）技术完成天线的时域近场测量的方法,本文给出了各个实验阶段的测试结果,据此得出了对于天线的时域近场测量技术肯定的结论。     

"时间窗"对天线时域平面近场测试结果的影响

天线时域近场测试技术是一种新兴的、测试宽带场和工作在窄脉冲激励下天线辐射场的高效的测试技术.因为它可以利用"时间窗"技术进行信号处理,使其相对频域测试具有独特的优势.本文在已建立的天线时域近场测试系统的基础上,从实验的角度,对"时间窗"参数在天线时域平面近场测试中的影响进行验证分析.举例了三个波段标准天线方向图的测试分析结果,并得出初步结论.     

天线时域平面近场测量系统的研究

时域近场测量作为一种新发展起来的天线测量技术,具有和通常的频域测量不同的独特优势,它能得到天线的时域特性和宽带特性.首先介绍了时域平面近场测量系统的构成,为了能对雷达进行测量,系统采用了使用矢量信号源模拟产生复杂雷达信号的方案,并对标准增益喇叭进行了验证测试,把测试结果和理论仿真、频域近场测试结果进行了比对,证实了时域...     

天线时域平面近场测试实验系统的研究

天线时域近场测试技术是一种新兴、高效的天线测试技术,能够快速精确地测量出天线的时域场和宽带特性。目前我们已成功组建了国内第一套天线时域平面近场测试实验系统,并对L、S、C、X四个波段的标准天线方向图进行了验证测试,把测试结果跟频域近、远场测试系统上测得的结果进行比较,证明时域近场测试理论的正确性和测试系统的实用性。本文对这套系统的组成结构和天线的测试结果进行说明分析。     

球面近场下相控阵天线口径诊断研究

在近场测量系统中,天线口径诊断是其中一项重要功能,它能够帮助天线设计师发现相控阵天线设计或者网络配置问题.平面近场中的口径诊断技术已经广泛地应用在雷达天线测试中,在球面近场测量中同样需要这种算法.本文基于球面坐标系下电磁场模式方法,得到球面近场条件下的口径反演算法.在仿真模型中计算得到了被测天线的口径场分布,计算结果与理论模型结果吻合.对X波段阵列天线进行了实际测试,得到了不同配置下的阵列天线口径反演结果,经过数据比对,证明了本文算法的幅度反演精度优于1 dB.     

天线时域近场测量技术与实验系统

天线时域近场测试技术是一种新兴、高效的天线测试技术,能够快速精确地测量出天线的时域场和宽带特性。介绍了成功组建的国内第一套天线时域平面近场测试系统简单情况,给出了L、S、C、X四个波段的标准天线方向图验证测试结果,把测试结果跟频域近、远场测试系统上测得的结果进行了比较,证明测试理论的正确性和测试系统的实用性。     

平面近场测试系统在天线测试和诊断中的应用

介绍了天线近场测量的基本原理和HD-1型平面近场测试系统,并对近场测量在实际天线测试中的应用情况、发展方向和应用前景等作了简单的描述。     

平面近场测试系统在天线测试和诊断中的应用

介绍了天线近场测量的基本原理和HD－1型平面近场测试系统，并对近场测量在实际天线测试中的应用情况，发展方向和应用前景等作了简单的描述。     

RFID系统测试平台建设内容研究

本文通过分析RFID技术现状与发展趋势,对中国RFID系统测试平台建设内容进行了讨论,结合RFID测试平台的5个研究方向深入阐述了亟待解决的技术难点,并对RFID平台建设过程中应注意的问题提出了作者的看法。     

题库系统的研究和实现

介绍了一个用VisualFoxpro开发的计算机辅助教学中的试题库系统，本系统可以实现试题的统一管理、试卷的自动生成以及试题和试卷的简单测试和分析。从理论和具体实现两个方面对系统进行了分析和论述。     

The Role of Test Protocols in Automated Test Generation for Embedded-Core-Based System ICs

Modular testing is an attractive approach to testing large system ICs, especially if they are built from pre-designed reusable embedded cores. This paper describes an automated modular test development approach. The basis of this approach is that a core or module test is dissected into a test protocol and a test pattern list. A test protocol describes in detail how to apply one test pattern to the core, while abstracting from the specific test pattern stimulus and response values. Subsequent automation tasks, such as the expansion from core-level tests to system-chip-level tests and test scheduling, all work on test protocols, thereby greatly reducing the amount of compute time and data involved. Finally, an SOC-level test is assembled from the expanded and scheduled test protocols and the (so far untouched) test patterns. This paper describes and formalizes the notion of test protocols and the algorithms for test protocol expansion and scheduling. A running example is featured throughout the paper. We also elaborate on the industrial usage of the concepts described.     

语音题库系统的设计和实现

题库系统是计算机辅助测验系统的一种重要形式，本文研制和开发了一个《语音题库系统》，能更好的进行英语听力试题的管理及听力测试，系统不仅具有以往传统题库的特点，同时也结合了英语听力试题的特点，在实际应用中证明具有非常好的实用性。     

嵌入式软件单元测试研究

根据嵌入式软件特点,本文描述了软件单元测试基本理论、常用测试技术、测试工具功能、测试用例设计和工程实践中的测试过程,并参照以往型号经验对单元测试中一些常见问题加以讨论。     

一种基于TTCN的TD-SCDMA终端RRM一致性测试结构设计

RRM一致性测试是3G终端测试的重要组成部分,它对终端的研发和认证具有重要意义.本文分析了TD-SCDMA终端RRM一致性测试项,提出了一种基于TTCN的RRM一致性测试系统实现框架,并介绍了其内部结构和各个部分功能.这个结构已经用于实际的TD-SCDMA终端RRM一致性测试设备的研发中.     

CAS-BUS: A Test Access Mechanism and a Toolbox Environment for Core-Based System Chip Testing

As System on a Chip (SoC) testing faces new challenges, some new test architectures must be developed. This paper describes a Test Access Mechanism (TAM) named CAS-BUS that solves some of the new problems the test industry has to deal with. This TAM is scalable, flexible and dynamically reconfigurable. The CAS-BUS architecture is compatible with the IEEE P1500 standard proposal in its current state of development, and is controlled by Boundary Scan features.This basic CAS-BUS architecture has been extended with two independent variants. The first extension has been designed in order to manage SoC made up with both wrapped cores and non wrapped cores with Boundray Scan features. The second deals with a test pin expansion method in order to solve the I/O bandwidth problem. The proposed solution is based on a new compression/decompression mechanism which provides significant results in case of non correlated test patterns processing. This solution avoids TAM performance degradation.These test architectures are based on the CAS-BUS TAM and allow trade-offs to optimize both test time and area overhead. A tool-box environment is provided, in order to automatically generate the needed component to build the chosen SoC test architecture.     

基于NIOS边界扫描测试平台的开发

阐述一种新颖的基于NIOS边界扫描测试平台的设计,提出了采用SOPC技术的一种更加灵活、高效的嵌入式系统新解决方案.该方案将边界扫描主控器系统的多功能模块集成在Altera公司推出的低成本、高密度、具有嵌入式NIOS软核CPU的现场可编程门阵列(FPGA)上,大大提高了系统设计的灵活性、边界扫描的测试效率.同时USB接口技术的应用使得边界扫描测试系统具有热插拔,传输速率快等优点.详细论述了具有自主知识产权的JTAG总线控制模块的设计和NIOS平台上USB固件开发.实验结果表明,此测试平台的设计正确有效,能够进行精确的故障诊断.     

电子产品加速寿命试验研究

电子产品的使用者希望在其工作寿命内尽可能少发生甚至不发生故障,这对电子产品的可靠性提出了较高的要求。制造者为了确保电子产品的可靠性,必须针对产品作一系列的可靠性试验,加速寿命试验是可靠性试验中最普遍和重要的项目。本文简要介绍加速寿命试验的各种模型和它们的适用条件,分析各种加速寿命试验的优缺点。基于加速寿命试验的基本原理...     

环氧聚酯美术型粉末涂料及其防腐性能试验研究

通过多年来的批量生产实践,阐述了环氧聚酯美术粉末涂料的组成及其对原材料的要求和在电子测量仪器表面装饰的应用;并介绍其涂覆层经人工加速试验耐盐雾试验和耐湿热试验的结果,以及在各种气候条件下,经一年的天然暴露试验结果。