NP-1型x光电子能谱仪的研制

本文介绍了NP-1型x光电子能谱仪总体方案的考虑和选择、半球形静电分析器及减速透镜的设计。给出了调试结果:仪器分辨率Ag3d5/2谱图的半高宽度为0.99eV;x射线源功率300瓦时,最大计数率为275,000个/秒;信号与本底之比大于9。还给出了用本仪器作的聚四氟乙烯、氧化铝的化学位移及硫的粉末样品的谱图;讨论了影响仪器分辨率的因素及调整方法。     

X 光一步成像感光材料研制成功

一种新型的 X 光一步成像感光材料最近在杭州首次通过技术鉴定。参加该项研制工作的有:杭州照相机械研究所,上海中山医院、杭州市中医医院等单位。新研制成功的感光材料是利用了“银盐扩散转移”的原理。整个系统除感光材料外,还包括有加工器、新型增感屏等。此外,给使用者提供了使用方法。本系统能用于任何 X 射线检查时的记录工     

X光电子谱术

介绍了光电子谱术的基本原理，谱图解释和化学态的确定等基本问题，它们是入门必需的。同时也给出了进一步了解光电子谱术的资料。     

ESCALAB MKⅡ型电子能谱仪数据系统改造

介绍对目前国内占主导地位的ＶＧ系列谱仪的数据收集及处理系统的改造方法。主要采用当今流行的ＩＢＭ－ＰＣ机与工业及实验室用ＰＣＬ－８１２控制卡取代原谱仪所带的ＰＤＰ－１１／７３为主的数据系统，改造后各项指标均达到原谱仪水平，数据收集及处理方面还有些改进，由于以ＡＰＰＬＥⅡ系列微机为数据系统的ＶＧ谱的微机／谱仪接口与以ＰＤＰ－１１微机数据系统的基本相同，所以该方法对前者的改造同样适用。     

ESCALAB MK Ⅱ型电子能谱仪数据系统改造

介绍对目前国内占主导地位的VG系列谱仪的数据收集及处理系统的改造方法。主要采用当今流行的IBM－PC机（8086－80586系列）与工业及实验室用PCL－812控制卡取代原谱仪所带的PDP－11／73为主的数据系统。改造后各项指标均达到原谱仪水平，数据收集及处理方面还有些改进。由于以APPLE　Ⅱ系列微机为数据系统的VG谱仪的微机／谱仪接口与以PDP－11微机数据系统的基本相同，所以该方法对前者的改造同样适用。     

X光电子谱的散射修正

运用 Ｗ． Ｓ． Ｍ． Ｗｅｒｎｅｒ等学者的理论模型,研究光电子从产生处向固体表面输运过程中弹性散射和非弹性散射对ＸＰＳ谱峰的影响,计算出散射响应函数,并将其应用于ＡＵ和Ｃｕ的ＸＰＳ峰形修正中,用最大熵非负退卷积方法有效地消除散射响应失真,得到光电子在激发处的真实状态和谱峰。     

X光电子谱的实验数据处理

X光电子谱在固体表面成分分析及表面电子能态的研究中具有非常重要的地位。但是除了使用单色器或以同步辐射源为光源的X光电子谱外,一般来说它的分辨率比较低。为了更好地提高谱的分辨率,从谱中获得有用的讯息,必须对实验数据进行必要的数据处理。如果设f~t(E)是真实的X光电子谱,由于实验中所使用的X光并非是单色光而具有一定的光谱分布B_1(hv),因此非单色X光所产生的光电子谱将是这里*表示卷积运算,即     

研制成功LD-01型电子拉力试验机

宁夏吴忠微型试验仪器厂在有关单位的协助与支持下研制成功LD-01型电子拉力试验机,该机已通过技术鉴定和用户验收。其测量范围为5克力-100公斤力,可用来测定金属丝材、箔材、绞合线等的抗拉强度和伸长率,其力值和变形的测量均用数字仪表显示,读数准     

X光电子谱的散射修正

运用Ｗ．Ｓ．Ｍ、Ｗｅｒｎｅｔ等学的理论模型，研究光电子从产生处向固体表面输运过程中弹性散射和非弹性散射对ＸＰＳ谱峰的影响，计算出散射响应函数，并将其应用于Ａｕ和Ｃｕ的ＸＰＳ峰形修正中，用最大熵非负退卷积方法有效地消除散射响应失真，得到光电子在激发处的真实状态和谱峰。     

EDX-LE型X射线能谱仪测试银饰品含量的条件设置

利用能量色散型X射线荧光光谱仪(XRF)测试贵金属首饰含量,测试结果受选择的测试条件、样品成分、样品形状特征等因素的影响。通过日本岛津公司的EDX-LE型能量色散型X射线荧光光谱仪测试银首饰中的银含量,分析得出样品测试面是否平整、准直器的大小是影响实验测试值准确性的最主要因素,测试时需要选择较大的准直器、选择平整的测试面且多次测量以得出测试结论。     

电子能谱仪多通道信号系统升级改造

一种电子能谱仪多通道数据收集系统升级方案。在SSA(球扇型能量分析器)出口处以多通道板或多只电子倍增器代替单只倍增器,信号经过多路前置放大器后进入电脑,经移位合成后输出所需谱图,其灵敏度为原信号的多倍且分辨率有所提高。     

X—Y型5.5kW减速机研制成功

5.5kW的X—Y型减速器是杭州机械设计研究所研制的一种新型减速器,具有结构简单、易于制造、承载能力大、运转平稳、噪声低及传动效率高等优点。它克服了一般少齿差存在的主要缺点而保留了其独特的优点。在浙江温岭机械厂协作下研制了五台功率为5.5kW,传动比为17和23两种规格的X—Y型减速器。样机试制后在上海华东化工学院传动实验室进行性能试验,测试结果:满载时传动效率η=85.5％,温升Δt=43℃,嗓声为78dB(A),三个方向振幅分别为6mm、5mm和13mm;在超载40％时传动效率     

Si(Li)X射线能谱仪

<正> 前言 Si(Li)x射线能谱仪于一九六八午首次应川在电子探针,成为一种x射线微分析的工具。此后,在能量分辨率、计数率和数据分析等方面作了许多改进,目前已经成为电子探针和扫描电镜的一种受欢迎的附件,甚至在透射电子显微镜上也得到应用。 Si(Li)能谱仪的主要优点如下:     

CZ-1型冲击测量仪研制成功

黑龙江省计量科学研究所研制成功三台CZ-1型冲击测量仪,并在一九七九年六月二十一至二十三日召开的鉴定会上通过了鉴定。经过与会代表的测试和比对,一致认为该仪器性能良好,精度高,采用数字显示,调节使用方便,抗干扰和超载能力强,克服了国外同类仪器容易损坏的缺点,漂移小,低频特性好,特别适于静态测量。会议确认该仪器的主要技术指标达到了国外同类仪器的先进水平,为建     

纺织纤维表面的X光电子能谱研究

由于纤维聚集体不同于紧密结构材料,在用XPS测定分析纤维表面结构时,电子被电离射出的最要小得多,测定的灵敏度较低,通常纤维的聚集结构越紧越密,对测定分析结果越有利,机织物是曾好的测试材料形式,在对纤维表面元素含量测定时,低含量成分为变小的趋势,而高含量成分有变大的趋势,在测定分析纤维表面元素含量时,这种影响趋势对测定低含量成分可能会有较大的影响。     

俄歇电子能谱仪在材料科学中的应用

材料科学是三大前沿学科之一。它的发展不仅直接影响国民经济的发展,而且也影响着其他学科的发展。所以,它一直得到人们的垂青。在材料研究中,人们用光学显微镜,继而用电子显微镜来研究材料的显微结构,在冶金和陶瓷行业中都已取得了显著进展。应用这些技术,可以确定相变、晶粒大小及形状;加上电子显微探针,在成分分析中又取得一大进步。但这些手段主要的不足之处在于缺乏深度分辨率,因此不能直接得到结构和组分在深度分布上的信息。而如回火脆性、腐蚀性、摩擦、     

俄歇电子能谱仪高能量分辨率的获得

一、引言 俄歇电子能谱仪(以下简称俄歇谱仪)是本世纪六十年代末出现的表面分析仪器。主要用于表面几个原子层内组成元素的定性、定量、价态和能级密度分析。它利用一束低能电子辐照固体,使其表面发射背散射 电子,随后分析其中的俄歇电子和等离子损失电子的能量和数量,获得上述信息。 由于有些元素俄歇电子能量相差很小, 浓度、价态和能级密度变化引起上述两种电子能量和数量的变化一般也较小,因此要求俄歇谱仪有较高的能量分辨率(以下简称分 辨率)。 俄歇谱仪的分辨率以试样表面发射的某一能量电子在N(E)～B(电子数量～能量)曲线上形成的…     

纺织纤维表面的X光电子能谱研究袁骏

由于纤维聚集体不同于紧密结构材料，在用XPS测定分析纤维表面结构时，电子被电离射出的量要小得多，测定的灵敏度较低。通常纤维的聚集结构越紧密，对测定分析结果越有利，机织物是较好的测试材料形式。在对纤维表面元素含量测定时，低含量成分有变小的趋势，而高含量成分有变大的趋势。在测定分析纤维表面元素含量时，这种影响趋势对测定低含量成分可能会有较大的影响。，During the determining and analyzing the surface structure of the fiber by XPS, it is much different compared with the compact materials. For the less ionized electron emitted, the determining sensitivity is relatively lower. In general, the compact gathering way of fiber will do advantage of the determination, i.e. the woven fabric is the better sample way. The result analysis shows that the small amount element will be determined lower than its real amount, while the majority element will be determined much higher. This trend ought to be taken into account when analyzing the small amount element.     

非晶态铬镀层表面的X光电子能谱研究

非晶态铬镀层具有优良的物理、化学和机械性能，根据非晶态铬镀层的特点用Ｘ－射线光电子能谱（ＸＰＳ）对于进行表面元素全分析和Ａｒ＾＋溅射浓度剖析，发现所获非晶态铬镀层由Ｃｒ、Ｏ和Ｃ等元素组成。Ｏ和Ｃ元素不仅存在于镀层表面，而且存在于整个镀层中。其中Ｏ是以－ＣＯＯＨ和吸附Ｈ２Ｏ及Ｃｒ的氧化物形式存在；Ｃ以－ＣＯＯＨ和石墨存在；在Ｃｒ则以Ｃｒ、Ｃｒ２Ｏ３、ＣｒＯ２及ＣｒＯＯＨ形式存在。