GaAs晶体位错缺陷的同步X光透射形貌研究

利用同步X光透射形貌技术,研究了液封直拉（LEC）、水平布里支曼（HB）、垂直梯度凝固（VGF）三种生长技术制备的Φ2"晶片的位错缺陷。发现LEC晶体中缺陷明显高于HB、VGF晶体,VGF缺陷缺陷最低,HB晶体居于两之间。结合生长界面温度梯度和杂质掺入水平,讨论了位错分布差异的原因。     

基于晶体衍射的X射线偏振源

基于X射线的晶体衍射,实验设计并搭建了X射线偏振源.该X射线偏振源主要包括X射线光管和用于起偏的布拉格晶体.当X射线以45°角入射到晶体表面上时,经过布拉格衍射,可以得到线偏振的X射线;当X射线的入射角度偏离45°时,将产生部分偏振X射线.实验中利用微通道铅玻璃板做准直器,很好地保证了入射角的大小和X射线的透过率.实验中使用的晶体是LiF晶体和CaF2晶体,并分别用连续能量的X射线和单一能量的特征X射线入射到晶体上,产生能量分别为6.10和4.54 keV的线偏振源,并利用二次衍射的方法对产生的偏振源进行了测量.     

KTiOAsO4晶体的铁电畴与位错的多种实验方法研究

利用原子力显微镜,同步辐射X射线形貌术和化学腐蚀光学显微等方法深入研究了KTiOAsO4晶体缺陷中的铁电畴和位错。首次用原子力显微镜给出了用两种腐蚀剂腐蚀过的KTA晶体表面的铁电畴和位错蚀坑的照片及定量信息,如发现铁电畴的明区要高于暗区,且两的粗糙度明显不同。这为研究各种晶体的生长缺陷开辟了一条新的途径。     

软X射线晶体标定系统研制

研制了一套完整的软X射线晶体积分反射系数标定系统,包括针对CC224M软X射线源所设计的专用的晶体标定室、晶体与探测器的转动控制机构、复合真空及供气系统、作为标定探测器的流气式正比计数器等。在这一系统上开展了实验研究,获得了TAP晶体对Cu-Lα(13.33)、Al-Kα(8.32)两种入射波长的积分反射系数,验证了系统的有效性。     

同步辐射X射线形貌术在晶体生长和缺陷研究中的应用

本介绍了同步辐射光源的特点,以及在应用于X射线形貌术时带来的各种好处。并通过介绍在北京同步辐射装置上所做的若干实验成果,扼要叙述了同步辐射X射线形貌术在晶体缺陷研究和晶体生长中的应用。     

基于X射线衍射仪的X光晶体参数标定

基于实验室X射线衍射仪,利用其运行稳定性和高精度角度控制能力,通过设计、制作晶体样品架,对X光平面晶体的本征参数晶格常数和积分衍射效率进行了实验标定,并给出其不确定度。该方法快速、高效、方便、灵活,实现了X光晶体的实验室标定,为ICF物理实验线谱诊断设备晶体谱仪的定量化测量提供了数据支撑。     

石墨晶体预衍射X射线荧光分析中的基体影响

X射线荧光分析是一种重要的仪器分析方法，在元素分析方面有着非常广泛的应用。但在后处理工艺分析中，X射线荧光分析应用较少，主要原因是样品本身的放射性对测量产生较大干扰。本实验室根据文献报道以及X射线衍射基本原理，白行设计组装完成了一套石墨晶体预衍射EDXRF分析装置。在实际的测量中，由于基体组成复杂，因此，本工作研究了在1AW中的主要基体元素对U测定的影响。     

入射离子特征X射线分析研究

为了开展重核同量异位素鉴别方法研究,建立了入射离子特征Ｘ射线测量方法,开展了利用入射离子Ｘ射线法的应用工作。     

透射式特征X射线测厚仪研制

论述了透射式特征X射线测厚原理,并对样机的硬件组成特征X射线发生装置、X射线探测器、数据处理器和监控软件进行了介绍.通过对测厚样机的实验测试,结果显示测量较薄物质时测厚仪反应灵敏,测量精度较高,相对误差在±5%以内,达到设计要求.     

Al2O3晶体的亚晶粒结构的同步辐射形貌分析

本通过比较两个不同晶体生长历史的温梯法Al2O3晶体,通过同步辐射衍射形貌相研究了晶体内部的完整性,在正常晶体生长条件下Al2O3晶体的FWHM仅为10弧秒,而在正常晶体生长受到间停电破坏时,Al2O3晶体内易出现亚晶粒等缺陷。其内在原因与温梯法晶体生长工艺有关系。     

LiNdP4O12晶体的生长缺陷

报道了用同步辐射X射线白光形貌术和光学显微法研究由助熔剂籽晶旋转法生长的LNP晶体的生长缺陷。本除对晶体中的包裹物和位错缺陷等进行了详细观察描述外，还发现了一种比较奇特的腐蚀沟槽。最后分析了这些缺陷的成因和克服办法。     

高温相偏硼酸钡（α—BaB2O4）晶体的缺陷行为分析

运用同步辐射X射线白光形貌研究了α-BaB2O4晶体内部的完整性并分析了α-BaB2O4晶体的缺陷行为及缺陷形成原因。在(001)面发现了生长扇界和亚晶界,而在(100)面和(120)面分别观察到了位错、位错组以及针状包裹体。运用白光形貌拍摄到高清晰的旁埃斑。     

特征X射线激发效率的蒙特卡罗模拟

针对某一特定元素的特征X射线进行探测,激发源能量的选择是重要指标之一.本文利用蒙特卡罗的MCNP4C程序,研究分析不同能量的激发源对铁、铜、银特征X射线激发效率的影响,并与实测数据进行比较,结果符合实际情况,表明能够利用蒙特卡罗模拟设计最佳特征X射线探测系统.     

铜镜的X射线荧光分析

建立一种不取样的分析古代青铜镜的方法,给出了52面铜镜的铜、锡、铅含量值。从所获得的含量值看,铜镜中的铜、锡比例很接近,这就证明了《考工记》里“金锡半谓之鉴燧之齐”的记载基本上是正确的。     

YAG晶体在软X射线荧光靶探测器中的应用

荧光靶探测器是同步辐射光源光束位置定位的重要设备之一,本文在96 500 eV软X射线内对CVD金刚石薄片和Ce:YAG晶体薄片进行光致发光亮度的测试,观察到Ce:YAG在该能量段的发光亮度比金刚石高,完成了上海光源软X射线荧光靶探测器靶材的实验研究与探测器的设计;同时给出了YAG晶体荧光靶探测器在线使用时观察到的相干光的衍射图像。     

LiNdP4O12晶体的生长缺陷

LiNdP4O12(LNP）晶体是一种新型的激光材料。本报道了用同步辐射X射线白光形貌术和光学显微法研究由助熔剂籽晶旋转法生长的LNP晶体的生长缺陷,观察到了圆形生长台阶及精细的系列台阶结构,对晶体中的包裹物和位错缺陷等进行了详细的观察描述,还发现了一种比较奇特的腐蚀沟槽,分析了这种腐蚀沟槽的形成机理及各种缺陷的成因和克服办法。     

稀土元素X射线快速自动分析系统

文章阐述了一种新型稀土元素测试系统(即稀土X射线快速自动分析系统)的研制。叙述了系统配置及有关功能,分析了数据获取及处理系统软件包的特点,其特点在于运用了INTEL8086/8088汇编语言和编译BASIC语言混合编程方法,起到充分利用IBM-PC/XT微机的硬设备资源的效果,重点介绍了系统软件包的设计思想(人机接口、稀土元素X荧光分析方法、回归曲线拟合、软件稳谱),表明该系统既可用于工业生产部门也可用于科研单位。