X射线荧光光谱法测定黄金首饰金含量不确定度的评定

黄金首饰的表层元素经X射线激发,发射出特征X射线荧光能量光谱线.不同元素的能量光谱线与其含量存在着特定的线性关系.能量色散X射线荧光光谱仪通过采用脉冲高度分析器和配套的相关软件将不同能量的脉冲分开,找出相应的元素,测量相应元素的具体含量值.通过X射线荧光光谱仪对黄金首饰的金含量测出的一系列测量值,依据GB/T18043-2013对黄金首饰样品金含量的不确定度进行计算.对采用的黄金标准物质运用最小二乘法建立数学模型,以标准值为x,3次测量值的平均值为y,找出线性关系方程.通过标准物质的运用,当置信因子k=2时,最终分别计算出18K金样品、足金样品金含量的扩展不确定度.     

探究不同处理工艺对X射线荧光光谱法测定银含量的影响

通过采用X射线荧光光谱法与电位滴定法对不同处理工艺的银合金进行检测,探究不同处理工艺对X射线荧光光谱法检测银合金的影响,以确认X射线荧光光谱法在银饰品上的应用。经实验分析表明,X射线荧光光谱法在开展不同工艺银合金的检测时,其检测结果受镀层厚度与镀层组分影响,甚至会造成误判,但通过打磨处理可消除其影响。     

掠入射 X射线反射法测量纳米尺度氮化硅薄膜厚度

掠入射X射线反射法是一种薄膜厚度的无损测量方法。采用掠入射X射线反射法测量纳米尺度氮化硅薄膜厚度,拟合模型的建立和测量条件的选择是测量结果准确性的重要影响因素。研究建立了合理的拟合模型,并研究了不同功率、不同步进及每步不同停留时间对测量结果的影响。结果表明,电压40kV、电流40mA、步进0.004°、每步停留时间2s为最佳的测量条件。     

金属镀层厚度测量结果的一致性研究

利用带有特殊台阶构造的Cr/Ni类型实验样品,分别采用X射线光谱法、轮廓法和截面法进行表面镀层厚度的测量,对三种方法测量结果的一致性问题进行探讨。实验结果表明,X射线光谱法的镀层厚度测量值较其它两种方法明显偏小,相对偏差甚至超过50%。由于利用X荧光测厚仪进行分析时未考虑实际样品与校准工作曲线用标准厚度片的密度差异,因此导致镀层厚度的测量值出现较大偏差。考虑到工业实际上目前普遍利用商品化标准厚度片进行X荧光测厚仪的校准,提出应对该类仪器现有计量校准体系做进一步研究。     

X荧光光谱分析法在镀层厚度测量中的应用

基于X射线荧光光谱的基础理论,简要分析了能量色散X射线荧光光谱分析方法的工作原理及其在镀层厚度测量中的应用技术.通过对一组相同结构不同厚度标准片的实际测量,在薄膜厚度测量非线性数学模型条件下,通过评估测量中各种不确定度来源和大小,总结出校准标准片在总不确定度中起的主导作用,为实际测量应用中提高精度提供理论基础.     

40~125kV脉冲X射线参考辐射场的建立

为解决用于X射线诊断、安检等涉及到的脉冲X射线剂量监测仪表的时间响应修正问题,建立了模拟上述辐射条件的40~125kV脉冲X射线参考辐射场。该参考辐射场同时具备了常规辐射场特性和脉冲辐射场特性。基于栅控技术的高压发生器可以调控光管产生不同脉冲特性的X射线,使用脉冲时间测量模块对产生X射线的脉冲特性(上升和下降沿时间、曝光时间等)进行测量,得到的结果表明该参考辐射场可用于主动式剂量监测设备的时间响应修正和剂量溯源。     

X射线荧光光谱结合聚类分析检验药品铝塑包装片

为建立一种简便快捷、准确可靠的检验药品铝塑包装片样品的分析方法,利用能量色散型X射线荧光光谱仪(XRF),对47个不同厂家、不同药品的铝塑包装片样品进行测定,以钼(Rh)为阳极靶,电压为40kV,电流为60mA,测试时间为60s。并且使用SPSS软件对测试数据进行分析处理。结果表明:依据样品中所含元素的种类和含量的不同,可以对样品进行聚类分析,达到区分目的。该方法操作简便快速、结果准确可靠、样品无需特殊的前处理,且属于无损检验,可用于公安机关实际办案。     

热解柠檬酸制备石墨烯量子点及其光学性质研究

通过热解柠檬酸制备发蓝光的石墨烯量子点(GQDs),并进一步水热处理得到蓝绿色荧光量子点(gGQDs)。通过紫外-可见吸收光谱、荧光光谱、傅里叶变换红外光谱、X射线光电子能谱和X射线衍射对制备的GQDs的结构和光学性质进行了表征和测试;同时,讨论了不同裂解温度和裂解时间及水热处理过程的温度和时间对GQDs荧光性能的影响。     

X荧光镀层厚度测量条件选择及方法研究

本文对影响X荧光镀层厚度测量的测量条件（准直器、测量时间、测量程式、镜头对焦方式）和测量方法（有无标准片校准及不同校准方法）进行分析并分组实验,通过对测量结果的研究以选择合适的测量条件和测量方法来提高X荧光镀层厚度测量的准确性和可靠性。     

X荧光镀层厚度测量条件选择及方法研究

本文对影响X荧光镀层厚度测量的测量条件(准直器、测量时间、测量程式、镜头对焦方式)和测量方法(有无标准片校准及不同校准方法)进行分析并分组实验,通过对测量结果的研究以选择合适的测量条件和测量方法来提高X荧光镀层厚度测量的准确性和可靠性。     

三氧化二锑-硅灰石复合填料的制备及在聚丙烯中的填充性能

以硅灰石、三氧化二锑为主要原料,采用化学沉淀法在硅灰石表面包覆纳米三氧化二锑,制备一种无机复合型阻燃粉体材料,并用硅烷1113和硬脂酸对这种复合粉体进行表面改性后填充聚丙烯制备复合阻燃材料。采用扫描电镜、粒度仪、白度仪、X射线衍射等手段对改性粉体材料表面状况进行了表征,并检测了填充聚丙烯材料的力学性能、热学性能及垂直燃烧和水平燃烧阻燃性能。结果表明:硅灰石表面均匀的包覆了一层纳米三氧化二锑;其水平燃烧时间由90s降到30s,燃烧长度由75mm降到20mm,垂直燃烧时间由60s降到10s,由不具阻燃性升高到阻燃级别为V-2。     

30~160keV单能X射线装置的单色性实验研究

单能X射线光源是由X射线光机、双晶单色器、标准探测器以及准直系统组成。X射线光机产生的连续X射线,通过与双晶单色器发生布拉格衍射完成单色化,调节不同的特定布拉格角度得到能量范围30~160keV的单能X射线。为了研究标定装置的能量展宽,需要对该装置产生的单能X射线的能量分辨率进行研究。结果表明Si(220)晶体产生的单能X射线的能量分辨率为0.91%@30keV和2.3%@70.6keV,Si(551)晶体为1.97%@80.1keV和3.45%@142.6keV。使用这套装置对溴化镧晶体探测器的能量响应进行校准验证,实验发现该装置的能量分辨率良好,可以应用在多种类型探测器的标定实验、X射线质量衰减系数测量以及多层膜反射率测量等领域。     

X射线荧光光谱在晶体材料组成分析中的应用

介绍了X射线荧光光谱在人工晶体材料组成分析中的应用.虽然x射线荧光光谱分析是一种非常有效的元素分析手段,但必须针对不同的样品和分析要求采用合适的样品制备方法,选择或配制合适的校正标样对基体效应进行校正.在样品为单晶时异常反射对光谱的定性解释和定量分析的条件选择可能产生影响,此时最好使用熔融制样法.使用测量结果时,应该充分考虑其不确定度.     

浅谈能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)的应用

本文介绍了影响能量色散X射线荧光光谱仪测量准确性的因素及如何进行谱图分析,减少测量误差,提高测量数据的准确性.     

X射线荧光光谱法检测含金量测量不确定度评定

采用X射线荧光光谱测定黄金含金量,应用现代统计学理论对其分析结果不确定度的来源进行分析,同时,对黄金含金量测量结果进行评定。结果显示,测量结果的不确定度主要来源标准物质引入的不确定度和仪器引入的不确定度。     

X射线荧光光谱法在矿石中微量元素测定中的应用

X射线荧光光谱法是一种应用较早,且至今仍被广泛应用的元素分析技术。从仪器选择、测量条件、试剂选用、试样制备、校准曲线绘制、标准样品特殊处理对X射线荧光光谱法在矿石中微量元素测定中的应用进行具体的说明,并以对比实验,验证其测定效果。     

用HXCF测量物质X射线质量衰减系数

X射线质量衰减系数是研究X射线的一个重要物理量,硬X射线探测器地面标定装置由于其单色性、稳定性以及其可测的绝对光子数,成为了研究质量衰减系数的一套理想装置.使用Cu、A12种不同材料分别在X射线能量为30 keV、50 keV、80 keV、100 keV和110 keV的情况下对其质量衰减系数进行测量,并将测量值与NIST的参考值进行了对比,得到了其标准偏差.根据NIST提供的质量衰减系数曲线,验证了Cu和Al在110keV处的质量衰减系数,为进一步研究做好了基础.     

X射线荧光光谱法在高纯镁砂主要成分测定中的应用

以淀粉做粘结剂,采用粉末压片,硼酸镶边垫底的制样方法,用波长色散X射线荧光光谱仪测定高纯镁砂中的SiO2、Al2O3、CaO、Fe2O3,MgO采用差减法计算,本法分析速度快,测量精密度好,测量结果与湿法化学和荧光熔片法分析结果相符。     

X射线荧光光谱法快速检验进口氯化钾

建立以X射线荧光光谱法测定进口高含量氯化钾的方法。采用粉末压片法对样品进行定性分析;采用溶液法对样品进行定量分析,工作曲线拟合满意,测量结果与标样标准值、未知试样化学分析值相符,方法操作简单、快捷。     

X射线荧光光谱法快速检验进口氯化钾

建立以X射线荧光光谱法测定进口高含量氯化钾的方法.采用粉末压片法对样品进行定性分析;采用溶液法对样品进行定量分析,工作曲线拟合满意,测量结果与标样标准值、未知试样化学分析值相符,方法操作简单、快捷.