CCD-Ⅰ型平面光栅电弧直读发射光谱仪测定地球化学样品中银锡硼

在地球化学样品测试中,目前对Ag、B、Sn的测定基本采用WP-Ⅰ型平面光栅摄谱仪、译谱仪读谱方法;其操作步骤复杂,在摄谱、读谱过程中受相板质量影响比较大,对读谱环境条件要求比较高。该文采用改装后的CCD-Ⅰ型平面光栅电弧直读发射光谱仪与WP-Ⅰ型平面光栅摄谱仪进行了对比,选用国家一级标准样品进行了Ag、B、Sn的检出限、精密度、准确度等实验,其结果表明:CCD-Ⅰ型平面光栅电弧直读发射光谱仪的测定结果优于WP-Ⅰ型平面光栅摄谱仪;该仪器采用CCD全谱单色器信息采集装置、中央控制器和数据采集功能,实现了摄谱后直接读取数据,完全摒弃了使用相板、洗相、译谱等过程;该方法具有分析速度快、分析结果精准、稳定性好的特点,可以一次曝光摄谱,满足1∶25万多目标区域地球化学调查规范要求。     

电感耦合高频等离子体光源的参数选择与分析应用

电感耦合高频等离子体(简称ICP)作为一种新的激发源用于光谱分析以来,正日益以其灵敏度高、稳定性好、同时多元素测定的优越性成为溶液分析的一种强有力工具。我们于1977年组装了该光源,先后与—28中型摄谱仪、E789光电光谱仪、WPZ—1光栅摄谱仪配套,进行了光源     

泡沫塑料富集ICP粉末法分析矿物中微量金

为了适应金矿地质研究和地球化学探矿的需要,满足测定矿物中痕量金的要求。木文介绍一种以王水分解试样,在10％左右的王水介质中,利用泡沫塑料富集,高温灰化,残渣加缓冲剂混匀,由高频等离子光源(即ICP)固体粉末法摄谱分析矿物中微量金的方法。检测限达0.005微克,取10克试样,分析下限可达0.xppb。方法简便、快速,经过实际生产考验,结果较好。 一、仪器及工作条件 摄谱仪:PGS—2型平面光栅摄谱仪,光栅刻线651条/毫米,一级光谱,光栏全圆,单透镜照明,狭缝宽20微米。 发生器:GP3.5—D_1型     

无铬滚珠轴承钢中镗、钕,铈的光谱直接测定

本方法采用直接摄谱法测定无铬滚珠轴承钢(GSiMnVR 及 GMnMoVR)中的稀土元素。采用直流电弧激发,在大型棱镜摄谱仪 NC—51型带800 mm 焦距暗箱)上试样作阳极测定 La 及 Ce;在3.4米平面光栅摄谱仪上试样作阴极测定 La、Ce 及 Nd。辅助电极为     

介绍一米平面光栅摄谱仪光谱图线表简易自制方法

WPG—100型一米平面光栅摄谱仪,是北京第二光学仪器厂制造的中等色散率摄谱仪,根据我室两年多的使用情况,仪器的稳定性和灵敏度均可满足要求,适用于紫外和可见光谱区域工作。但因该仪器设有附铁电弧光谱图线表,对定性、定量分析带来很大的不便。     

氧化钇中钐、铕、镝、铽和钇氧化物的光谱测定

本方法采用直流电弧粉末法,试样阳极激发,在3.4米平面光栅摄谱仪(1200条/毫米光栅)上摄谱,进行氧化钆中稀土杂质的测定。被测元素的测定下限均为0.01%,LgR—Lgc 绘制工作曲线,方法的相对百分均方偏差为3.4—14.2%。     

深孔空腔发射光谱法定量测定镓、铟、锗、铊、砷,锑、铋、银、锡、镉元素—水系沉积物及硅酸盐试样中的稀散元素

本文介绍应用深孔空腔发射光谱法及磺化铵、氟化钠、硫碳粉组成的缓冲剂。有效地提高了稀散元素的光谱灵敏度、准确度、精密度,实现了定量分析。实验在31WI—米平面光栅光谱仪上进行。以交流电弧为激发光源,电流19安培,可在一支深孔空腔电极上,实现一次装样,一次曝光(或重叠曝光)同时测定10项元素。     

发射光谱法测定锡铅合金中杂质

锡铅合金作为一种焊接材料在工业生产和科学实验中都有十分重要的意义．由于锡铅焊接材料（Ｓｎ６０％,Ｐｂ４０％）的特殊用途,合金中杂质的含量为如下数量级：Ｓｂ０．００ｘｘ％,Ａｓ０．００ｘｘ％,Ｆｅ０．０００ｘｘ％,Ｃｕ０．００ｘｘ％。本文叙述了用直流电弧原子发射光谱测定锡铅合金中杂质的方法,该方法的最大特点在于能同时测定多个杂质元素,方法简便,样品不需经过复杂的处理．１实验部分１．１仪器及Ｈ作条件ＰＧＳ—２平面光栅摄谱仪,光栅６５０条／ｍｍ,波长范围２２０．０～４００．０ｎｍ;光源用交直流电弧发生…     

纯氧化铕中镨、钕、钐、钆和钇氧化物的光谱测定

本方法以光谱纯碳粉为缓冲剂,与试样等比例混合,采用直流电弧阳极激发,在3.4米平面光栅摄谱仪上摄谱,LgR—LgC 绘制工作曲线。测定下限:Nd_2O_3和 Sm_2O_30.002%;Gd_2O_30.0015%;Pr_6O_(11)0.003%;Y_2O_30.001%。单次百分均方偏差±6—14%。     

发射光谱法测定金锭中杂质

矿粉中冶炼电解铜的过程中,可在铜阳极泥中回收金。随着生产规模的扩大,工艺流程的改进,金锭产品的生产周期已由原来的一个半月缩短到一周左右,因而成品金的分析任务相应地增大,用过去的化学法分析已经不能适应。为此,们研究了用发射光谱法测定金锭产品中杂质元素的含量。 一、仪器与标样系列 WPF-1型2m平面光栅摄谱仪;感光板:天津紫外Ⅱ型;镀铬锉。 金光谱标样由沈阳冶炼厂制造,其杂质含量见表1。     

ZID101铸铝合金中硅、铁、锰、镁、铜和锌的光谱测定

ZID101铸铝合金硅含量较高,用途广泛。作者采用高重复率光源,并用正交设计方法[L_9(3~4)]选择了再现性好、灵敏度高的条件,同时测定ZID101铸铝样品中的铁、锰、镁、铜、锌和高含量硅。 应用—28中型光谱仪,HFI—I型高压火花脉冲发生器。对光源的电容、电感、电阻和辅助间隙距离等放电参数进行了优选,对六种不同条件进行比较,最后确定:电容12mμE;电感100μH;电阻8Ω;辅助间隙1.1mm;每秒放电300次。上电极为φ6mm的石墨电极,顶端车成平面,预燃5s,     

氧化钕中镗、铈、镨、钐、钇氧化物的光谱测定(二)

提出以纯碳粉冲为缓剂,对氧化钕中稀土杂质进行光谱测定的方法。实验应用粉末法直流电弧阳极激发在 GE—340型平面光栅摄谱仪的负二级光谱进行摄谱。对镧、铈、镨、钐和钇的分析线作了选择和比较。各元素的测定范围分别为:La_2O_3、Y_2O_3.0.05%～0.2%;CeO_2、Sm_2O_30.01%～0.5%;Pr_6O_(11)0.02%～0.5%。方法单次摄谱相对的均方偏差为±2%—18%。     

氧化镗中铈、镨、钕、钐和钇氧化物的光谱测定

本方法以碳粉为缓冲剂,粉末直流电弧阳极激发,在大型平面光栅摄谱仪(光栅刻线1200条/毫米,一级色散2.5埃/毫米)上摄谱,三标准试样法,LgR～LgC 为座标绘制工作曲线。分析范围:除 Y_2O_3为0.003～0.3%外,其余待测杂质均为0.01～1%。方法单次测定相对均方偏差为6.1～14.1%。     

自装两米平面光栅摄谱仪(摘要)

光栅摄谱仪的谱线明锐清晰、灵敏度高、分光具有级次性。可利用不同级次的光谱满足不同色散率和分辨率要求及较宽的波段范围,进行摄谱分析工作。平面光栅摄谱仪是以平面反射光栅作色散元件,这种摄谱仪国内已广泛采用。我所原有石英棱镜摄谱仪,其色散率不能满足要求。为满足地质找矿和矿产综合利用的需要,在毛主席革命路线指引下,遵照伟大领袖毛主席关于“不是回避问题,而是     

镍铝合金粉中镍、钌的ICP光谱测定法

为配合新材料的研制,我们研究了采用ICP光谱法测定镍铝合金粉中的常量镍和钌。实验证明,ICP光源克服了一般电弧光源中的自吸现象,可测定高含量组分,例如可测定含量高达50％的镍。 一、试剂和仪器 试剂均用优级纯,水为二次蒸馏水。 美国ARL3520型ICP顺序光谱仪,主要工作参数见表1。     

纯氧化钇中钕、钐、钆、铽、镝、钬、铒和镱氧化物的光谱测定

本方法以光谱纯碳粉为缓冲剂,试样与碳粉按等比例混合,采用直流电弧阳极激发,在3.4米平面光栅摄谱仪(一级色散2.5埃/毫米)上摄谱,LgR—Igc 绘制工作曲线。测定下限:Nd_2O_3、Sm_2O_3、Gd_2O_3、Er_2O_30.001%;Tb_4O_70.002%;Ho_2O_3、Dy_2O_30.0005%,Yb_2O_30.0001%。单次测定相对百分均方偏差8.1—15.4%。     

电感耦合等离子体发射光谱分析铜精矿中钙、镁、铝、锌、铋、银、钴、镍、锰、铅

为了配合铜精矿的全分析,我们用ICP光源在PGS-2两米光栅上,对铜精矿中Ca、Mg、Al、Zn、Bi、Ag、Co、Ni、Mn、Pb进行了测定试验,一次溶样同时测定10个元素,均能获得满意结果,所以效率高、耗费少。 一、分析条件 1.仪器及工作参数 高频发生器:GP_6—DL_2型,工作频率27兆赫,功率6千瓦,电源电压380伏,丝压9伏,阳压6.8千伏,阳流0.7安,栅流100毫安;     

克服一米光栅摄谱仪水平电极撒料装置污染问题

水平电极撒料电极架同平面光栅摄谱仪主机配合使用,可降低光谱分析成本,减少分析人员劳动强度,提高工作效率,缩短分析项目周期.检出限为1×10-9(g·g-1)～1×10-6(g·g-1),可检测24个元素,能满足化探扫描的需要.     

氧化钐中镨、钕、铕、钆、钇氧化物的光谱测定

本方法以光谱纯碳粉为缓冲剂,与试样等比例混合,采用直流电孤阳极激发,在 GE—340平面光栅摄谱仪上摄谱,LgR—LgC 绘制工作曲线。测定下限:镨、钆为0.03%;钕为0.015%;铕、钇为0.005%。方法的精确度为±5.46—12.73%。     

含砷铁矿中杂质元素的发射光谱直接测定

本文对发射光谱测定含砷铁矿杂质元素中的激发电流参数、电极规格,缓冲剂的组分对灵敏度的影响进行了研究,拟定以国产2m平面光栅摄谱仪一次摄谱,同时测定砷、铝、硅、锰、铅、镁、铜、铋、钙、钛、铟、锌12个元素的方法,测定下限为: