对σ的意义与作用的再认识

1 σ的影响因素射线照相对比度修正系数σ是日本学者仙田富男首先提出的,80年代初被介绍到国内。多年来,这一参数除了在论述射线照相对比度公式面ΔD=-0.434μγΔT/(1 n)时提及外,有关研究和应用时均很少见。σ的推导过程比较复杂,概念本身也比较难理解,对σ的认识也不尽统一。此外,影响σ研究和应用的原因还有两点:(1)国内有些学者认为“σ实际上反映的是几何不清晰度对小细节射线照相影象的对比度的影响”,这种看法使σ丧失了独立的意义与作用。因为既然是几何不清晰度的影响,那么就不必专门研究,结果是σ被轻易扬弃了。     

射线照相缺陷测高——理论与实践的最新进展

提出根据一次曝光在单张射线底片上的缺陷影像对比度来测定缺陷自身高度的方法。这里先讨论缺陷测高的理论基础——缺陷深度位置和缺陷大小对散射线强度乃至射线照相对比度的影响。     

射线照相对比度公式的研究及应用

在射线照相检测中，保证射线照相的影像质量达到一定的水平，这是射线照相原理在检测实践中得以物化的前提和基础。在目前的理论和实践中，射线照相检测的影像质量一般认为由三方面组成，即对比度、不清晰度和颗粒度。其中，射线照相对比度是最重要也是最基本的概念。     

射线照相缺陷测高——理论与实践的最新进展 第一部分 缺陷对散射线和对比度的影响

提出根据一次曝光在单张射线底片上的缺陷影像对比度来测定缺陷自身高度的方法。这里先讨论缺陷测高的理论基础——缺陷深度位置和缺陷大小对散射线强度乃至射线照相对比度的影响     

CR和DR成像技术

本文对数字化X射线照相检测技术应用中关于计算机射线照相检测(CR)和直接数字化照相(DR)以及胶片扫描数字成像系统(FDR)的基本原理、应用以及设备做了较系统的介绍,有助于无损检测技术人员对目前最新型的数字化X射线照相检测技术的了解。     

射线检测技术20年回顾

20年来,我国射线检测技术得到了迅速发展.介绍技术、设备、应用、标准化等方面发展的情况,展望了发展射线检测技术时必须注意的方面.     

第三专题 分辨力与光栅影象

1 分辨力定义及测量方法 可见光成象装置有一个非常重要的性能指标,即分辨力,通常用摄有各种密度黑白线对图形的测试卡进行实际测试。分辨力被定义为从所得图象上肉眼能分辨的最大线对密度,单位是每毫米长度上所包含的黑白线对数,记作1p/mm。 参照可见光成象装置分辨力的定义和测试办法。可用金属做成的线对密度测试卡来实际测试X射线成象装置(包括感光胶片和图象增强器等)的设备分辨力和实际成象检验的空间分辨力。 如果把测试卡直接放置在射线探测器件表面,则测量的是设备分辨力,它是一维的分辨力;如果把测试卡像透度计那样放置在被检试件射线源一侧的表面上,则测量的是实际成象检验的空间分辨力(或称立体分辨力)。     

中子照相技术及其在无损检测中的应用研究

中子照相是20世纪60年代兴起的一种射线照相无损检测技术.中子与常规X射线原理相类似,但在穿透物体时的吸收特性显著不同,因此两种照相技术在适用范围上有一定的互补关系.国外中子照相技术已在航空航天、生物、考古、电子等方面有成功应用,国内由于中子源资源不易获得,应用研究滞后.简要介绍了中子照相技术的原理和检测系统构成,其基本构成为中子源、准直器和像探测器.阐述了中子照相技术的发展过程及国内外发展现状,列举了中子照相技术目前的国外的主要标准和工程应用情况,最后从研制移动式中资源、开展工业应用研究,建立相关标准等方面对我国中子照相技术发展趋势进行了展望.     

射线照相法的缺陷检出灵敏度

简述射线照相检测方法的缺陷检出灵敏度与对比度和可见度之间关系,射线照相灵敏度与产品透照技术等级、缺陷评定质量级别的关系和重要性。介绍检出缺陷尺寸几个关系式,说明影响检出缺陷灵敏度的主要因素及标准中的几个隐含参量。射线检测人员在实际工作中,在考虑影响因素的同时,可用公式计算结果预计所能达到的检测灵敏度。     

实用胶片特性曲线的测绘

射线照相底片上的图像是射线照相检验的结果，而图像质量的好坏直接影响检验灵敏度。射线照相胶片是射线照相检验所用的记录介质。但此记录介质的特性还与所用增感屏和显影条件相关。     

第五专题 海底管线的检测

海底管线水下无损检测(UWNDT)分为管线外和管道内检测两大类.重点探讨海底管线外检测的内容、要求及程序,对管道内检测及其各种智能清管器也作了简要介绍.     

数字射线照相法现状评述

概述和简析三种数字射线照相技术的基本特点和方法要点，凸现其相对于传统的胶片法射线照相技术的各种优点，并展示其在工业上的应用前景，以期该新技术在国内迅速推广。     

空心叶片残留型芯影像的射线照相对比度

从型芯影像射线照相对比度的角度分析了残芯在叶片中的可检性。通过推导的残芯影像对比度公式,分析了影像对比度的各种影响因素,并在理论上进行了计算。从试验与理论计算相比较的结果表明,通过改善梯度和散射能有效地提高型芯影像的对比度。得出型芯在叶片材料上的最小可检厚度。     

X射线实时成像技术在钛合金焊缝探伤中的工艺试验研究

通过测定相关质量控制参数，系统地探讨了X射线实时成像与计算机图像处理技术的特点。以钛合金气瓶为例，进行了大量的工艺试验和图像采集。试验结果表明，X射线实时成像所得图像质量的对比度和清晰度可与X射线照相法中的底片质量媲美，缺陷检出效果良好。由此优选出了一套最佳的工艺组合，并验证了系统最佳放大倍数的通用性。     

第四专题 双壁双影照相条件

1 双壁双影照相术的关键对于外径≤89mm(即3.5in.)钢管对接环缝射线照相时常常采用双壁双影的照相方法.众所周知,双壁双影照相时管子各部分的实际透照厚度变化幅度特别大.中心部分的透照厚度是个极小值,等于管子壁厚T的两倍(如果焊缝的余高不等于零,则还要加计余高);射线与管子内壁相切方向上的透照厚度最大;再往外,透照厚度迅速减小到零.透照厚度的大幅度变化必然导致焊缝影象黑度的大幅度变化.对管子环缝的照相胶片,首先要问黑度适宜的有效评定范围到底有多大?在大多数情况下,认为相隔90°的两次双壁双影照相即能实行对整圈焊缝的检验,换句话说,每次照相的有效评定范围应该不少于1/2周.     

第一专题 水下无损检测技术综述 (-) 对象、目的与方法

介绍水下无损检测服务对象的类型及其工作环境特点,分析损伤缺陷的种类、形式及其对构件失效速率和可靠性的影响。简要阐述了水下无损检测的目的和技术方法。     

第一专题 水下无损检测技术综述：（三）过程,程序与基本特征

介绍水下无损检测(UWNDT)的基本工艺过程与检测程序,包括检测计划、检测准备、操作方法、原始记录及检测报告等内容。同时还提出并阐述了UWNDT的技术特征。     

射线照相缺陷测高—理论与实践的最新进展(续) 第二部分 胶片·试件距离的控制

就胶片—试件距离 (FTD)对散射线的影响作了理论研讨 ,得知当 FTD≥4 f( f:缺陷直经 )时 ,缺陷深度和直径对散射线的影响可忽略不计 ,此时射线照相对比度△ D只取决于缺陷高度 h,由此找到缺陷测高新方法的理论支柱。对理论推出的结果通过实验得到有效验证。     

半钢轧辊堆焊修复用隔离层材料的研制

依据半钢轧辊的成分特点和服役工况,设计开发半钢轧辊堆焊修复用的隔离层材料,研究采用隔离层材料打底,配合工作层材料修复半钢轧辊的可能性。结果表明,在半钢轧辊表面堆焊隔离层材料后,脆性高碳马氏体周围析出了韧性的珠光体组织,增加了隔离层的韧性储备,隔离层中无裂纹等冶金缺陷,且隔离层材料与工作层材料具有良好的相容性,解决了半钢轧辊不可堆焊修复的技术难题。