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金属镀层厚度测量结果的一致性研究 总被引:1,自引:0,他引:1
利用带有特殊台阶构造的Cr/Ni类型实验样品,分别采用X射线光谱法、轮廓法和截面法进行表面镀层厚度的测量,对三种方法测量结果的一致性问题进行探讨。实验结果表明,X射线光谱法的镀层厚度测量值较其它两种方法明显偏小,相对偏差甚至超过50%。由于利用X荧光测厚仪进行分析时未考虑实际样品与校准工作曲线用标准厚度片的密度差异,因此导致镀层厚度的测量值出现较大偏差。考虑到工业实际上目前普遍利用商品化标准厚度片进行X荧光测厚仪的校准,提出应对该类仪器现有计量校准体系做进一步研究。 相似文献
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为适应电铸镍生产的需要,在普通直流安培小时计的基础上改进研制了一种数字式镀层厚度自控仪。该仪器直接显示所需要的镀层厚度;镀前只需将镀件面积和所需镀层厚度预置进去;电镀时显示的是还需要沉积的厚度;到显示为0时,即可自动报警并切断电源。 相似文献
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为适应电铸镍生产的需要,在普通直流安培小时计的基础上改进研制了一种数字式镀层厚度自控仪。该仪器直接显示所需要的镀层厚庆;镇前只需将镀件面积和所需镀层厚度预置进去;电镀时显示的是还需要沉积的厚度;到显示为0时,即可自动报警并切断电源。 相似文献
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为了保证电子元件的质量,金属线上可焊性镀层的厚度是一个必须控制的参数,可焊性镀层的厚度必须保持在非常牢固的极限范围内,开发的X-射线荧光设备具有非常小的采样面积,可以测定直径小于50μm的金属线,该设备测定结果比常规方法至少精确50nm。 相似文献
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涂层镀层厚度的检测(二)化工部涂料工业研究所深圳华丰化工有限公司王叔孙二、校准测量要准确,要达到仪器规定的指标,使用前就必须校准,校准的原则是无覆层的校准试样与被测物的基材应具有:相同成分,相同厚度(在厚度小于仪器规定的最小值以下时),相同的曲率半径... 相似文献
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采用X射线荧光能谱仪,分别测量基底元素的强度,以求得金薄膜和镀层的厚度。用镀金片检验,当薄膜和镀层厚度t<3.0μm时,测量偏差<0.10μm,方法简便,可方便地用于镀层厚度的控制生产中。 相似文献
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一种测量表面膜层厚度的新方法 总被引:1,自引:0,他引:1
在近年来迅速发展的微细加工技术中,表面膜层厚度的测量是十分重要的问题。本文提出一种新方法,它利用迈克耳逊干涉光路,通过对膜层前后两表面反射光束和来自另一臂的反射光束产生的两组白光干涉纹黑线间隔的测量,即可得到表面膜层的厚度、这种测量方法迅速、简便、设备简单、精确度高、不损伤膜层表面,适合在实验室和工厂广泛应用。 相似文献
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分析现有圆度误差的几种测量方法的优、缺点后,提出一种基于光电扫描和数字图像处理的圆度误差测量与评定的新方法,该方法简便易行,而且测量精度较高,有一定的应用价值。 相似文献
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球小轴球径的高精度批量测量一直是计量工作中一道难题.针对这一问题,作者设计了一种正切机构式的比较测量装置,较好地解决了批量测量问题,而且精度高,速度快.本文重点介绍了此套装置的组成结构和工作原理,分析了其特点和优势,并分析了测量不确定度. 相似文献
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本文通过对使用百分表式测厚仪测量眼镜镜片厚度的不足之处,探究利用超声波测厚仪测量眼镜镜片厚度的方法,为广大眼镜镜片检验人员在测量镜片厚度领域提供了一种新的思路。 相似文献