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高亮度LED球泡灯研制及其温升分析 总被引:1,自引:0,他引:1
输入LED的电能大部分转化为热能,导致在其结区产生高温,使用大功率LED阵列的高亮度LED灯在LED阵列结区产生的温度更高,而结区高温会严重影响到高亮度LED灯发光的稳定性和使用寿命,因此良好的热结构设计和散热性能是研制高亮度LED的关键问题。研制了一种高亮LED球泡灯,以替代照明用白炽灯。设计了该球泡灯的硬件结构和恒流驱动电路;使用流模拟仿真并分析了灯体内LED阵列的发热及散热情况;实验测试了该球泡灯使用时,灯体内实际散热情况,仿真结果与实验结果吻合良好。仿真与实验结果均表明该球泡灯散热结构合理,散热性能良好,可以满足稳定地高亮照明要求。 相似文献
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《中国照明电器》2017,(10)
为了研究实验室环境温度对LED灯丝灯的影响,参照JJF 1051-2015《小功率LED单管校准规范》中环境条件的要求"环境温度(23±3)℃",对LED灯丝灯的灯电压、光通量、色温3个参数进行测量。当实验室环境温度恒定时,研究了LED灯丝灯在55~85℃范围内参数随温度变化的规律;然后研究了在实验室环境温度20~26℃范围内,温度对LED灯丝灯参数的影响机制。两种实验结果均表明:随温度升高,LED灯丝灯的灯电压下降,光通量衰减,色温升高;与白炽灯相比,LED灯丝灯光通量衰减严重,衰减系数约为0.20%/℃,电压衰减系数约为0.04%/℃。因此,为降低环境温度对LED灯丝灯的影响,建议在实验室测量过程中控制温度在(23±1)℃范围内。若温度变化大于2℃且小于6℃,可用衰减系数进行修正,得到较准确的测量结果。 相似文献
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功率LED热特性分析 总被引:1,自引:0,他引:1
随着LED功率的升高,热应力对LED的影响越来越显著,过高的结温不但会使器件寿命急剧衰减,还会严重影响LED的峰值波长,光功率,光通量等诸多性能参数。因此精确掌握LED器件的温升规律便成为了提高设备工作可靠性和芯片结构设计的关键所在。本文通过标准电学法对不同颜色的1W功率LED及不同功率的GaN基白光LED的结温和热阻进行了测量,实验结果表明:同种结构LED的温度系数K虽然离散但比较接近,不同结构LED芯片K明显不同;在相同衬底材料,相同芯片结构条件下,LED芯片结温会随芯片功率的增大而升高。并首次进行了变电流下不同功率LED芯片的结温和热阻测量,发现无论功率大小,结温均随热电流的增大而上升,功率越大,上升幅度也越大。随着LED两端所加电流的增大,3W白光LED的热阻呈上升趋势,而1W白光LED的热阻随电流增加基本不变。 相似文献
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介绍多组大功率LED级联作为标准源使用时存在的主要问题,指出温度是影响LED光通量稳定性的主要原因。采用正向电压法测量结温并通过单片机温控系统将结温稳定在一定范围内的实验表明,结温对LED光辐射功率有直接影响,若保持结温恒定,光辐射功率将随电流增大线性增加。 相似文献
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《中国照明电器》2019,(8)
LED封装、模组以及终端产品LED灯和LED灯具的质量水平,例如发光量、色温等光性能,与LED内部芯片的结温高低密切相关。一般来说结温高,LED性能变差。因此,对于LED芯片企业和LED封装企业,了解LED芯片各层结构的热阻和COB-LED模组中各LED芯片的结温显得十分必要。同样,对于LED灯和LED灯具等终端产品企业,了解掌握LED芯片的结温也显得非常重要。目前现有的测量方法中多是非直接测量和计算,而影响LED结温测量的因素多,看不见、摸不着,导致对测量结果的定量可信度疑问,也就是对测量误差到底是多少心中无数。本文采用的测量方法是对LED封装的LED芯片结温和LED模组中各LED芯片的平均结温的敏感参数在实际的大工作电流下进行直接测量和分析。 相似文献
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《中国照明电器》2017,(1)
针对目前倒装发光二极管(LED)灯丝生产中银线间使用填充胶的封装工艺,采用推拉力测试机分别测试有无填充胶的倒装LED芯片所能承受的最大推力。采用积分球测试系统,测试在不同直流电流驱动下,两组倒装LED灯丝瞬时的电压、色温随输入电流变化的规律,将灯丝点亮15 min之后,测试稳态下两组倒装LED灯丝的电压及色温,将两组实验数据分别取平均值以减小误差,用热成像仪对比测试两组灯丝的最高温度。结果表明,银线间填充胶的使用增大了芯片所能承受的最大推力,有效防止由于锡膏黏连造成的芯片短路;使倒装LED芯片能更好地散热,降低了倒装LED灯丝的温度,在相同直流电流驱动下灯丝的稳态电压变高;对灯丝稳态下色温的增加量也有一定程度的影响。 相似文献