薄涂层光纤和光纤带中微弯损耗的研究

本文记述了由于环境引起的光纤弯曲光谱与双涂敷层光纤机械性能之间的关系，从这一关系，我们可以确定涂敷层的设计参数，它与微弯损耗有关。对直径从１６０μｍ到２００μｍ的典型薄涂层光纤和光纤带因卷绕于线盘而引起的微弯损耗也有说明。     

单模光纤的传输衰减随温度变化的研究

本文从实验上测量了单模石英光纤在－50～120℃范围内的损耗。随着温度升高，光纤的损耗随之降低，在常温附近达到最小。其后损耗随着温度的继续升高而增加。损耗的变化主要是由于杂质的吸收和微弯损耗。本文对杂质的吸收以及微弯损耗进行了数值模拟，并且从理论上定性地解释了损耗对温度的依赖关系。     

双包层光纤微弯传感器及其暗场检测技术研究

提出一种基于双包层光纤和耦合器的双包层光纤微弯传感器结构及暗场检测方法.通过理论和仿真分析,建立了双包层光纤弯曲损耗的理论模型;通过对光纤结构参数与传感器灵敏度关系的仿真,获得了实验用光纤最佳结构参数;理论和仿真分析了变形器的最佳周期、齿间距和齿数问题;对双包层光纤微弯传感器及其暗场检测方法进行了实验研究,结果显示,传感器输出光场与光纤形变之间有着较好的线性关系.     

多模光纤微弯特性的实验研究

本文基于多模光纤微弯损耗机理，对光纤结构及涂层属性进行了研究，自行设计了实验方法，对几家公司光纤的微弯损耗作了实验比较，在分析实验结果的基础上为改善多模光纤的微弯及低温性能提出了自己的见解。     

一种200μm涂层直径弯曲损耗不敏感光纤的设计及应用

我们开发了一种模场直径在9.2μm(1310nm)附近,并且满足ITU-T G.657 A1标准的低宏弯损耗性能的200μm涂层直径光纤.这种光纤的折射率剖面简单,包括芯层、下陷内包层和外包层,特别适合大规模生产.经试验证实,这种光纤具有良好的熔接特性和微弯曲损耗,特别适合用于色环光纤和并带光纤.     

低损耗红外传输Ge30As10Se30Te30玻璃光纤的制造

利用改进的纯化技术和工艺技术制造Ｇｅ３０Ａｓ１０Ｓｅ３０Ｔｅ３０玻璃光纤，所制得的光纤在６．６μｍ波长的最低损耗达０．１１ｄＢ／ｍ。这是所报道的红外区任何碲（Ｔｅ）玻璃光纤的最低损耗。此外，这种光纤在５．２５￣９．５μｍ的损耗小于１ｄＢ／ｍ。     

光纤宏弯传感器研究进展

从光纤宏弯曲损耗和微弯曲损耗的基本原理出发,介绍了光纤宏弯传感系统的构成和原理,对光纤宏弯传感器的研究现状进行了详细论述,分析了研究中存在的问题,提出了一种基于光纤宏弯传感的智能结构.     

光纤通讯传输常见问题阐述与解决方案研究

本文针对光纤通讯传输常见问题与解决方案,首先阐释了光纤通讯传输技术过程中的常见问题,其中涉及了光纤材料本身具备的技术局限、光纤断线技术因素引致的通信信号的损耗现象,以及光纤技术材料的微弯造成现象,之后从科学开展光纤材料的选择行为与切实减少光纤材料微弯现象引致的通信信号损耗两个角度,分析了有关技术问题的解决策略,仅供参考.     

制导光纤弯曲损耗研究

分析了制导光纤在缠绕状态下产生附加损耗的因素,建立一套解析模型,用来分析在精密缠绕过程中固有的交绕区的微弯损耗,并且将其结果与试验数据进行了比较.低温条件下,附加的光损耗主要来自于:(1)低温条件下的由于包层材料的杨氏模量的增大,使得交绕区微弯增大;(2)由于缠绕张力的增大使径向压力增加.对交绕区微弯建立起来的模型还可以用来预测在一定张力条件下缠绕的光纤损耗的趋势.针对实际的制导光纤,给出了实测的光纤弯曲损耗曲线和低温条件下的附加损耗数据,结论说明在适当的条件下,制导光纤的弯曲附加损耗和低温条件下附加损耗是能够满足制导系统的实际要求的.     

多模光纤微弯和弯曲损耗的实验研究

本文从实验的角度研究了多模光纤微弯和曲弯损耗与光纤参数的关系。以实验数据检验了前人所作的理论研究,并确立了以实验为基础的微弯和弯曲损耗的计算公式。     

单模光纤宏弯损耗性能的试验研究

研究了两种光纤(SMF28和1060XP)在波长1310nm处、弯曲半径5~15mm范围内的宏弯损耗性能。观察到了两种光纤宏弯损耗整体都随着弯曲半径增大而减小,并伴有振荡现象,其中1060XP光纤对宏弯损耗更敏感。用耦合模理论解释了WGM(whispering-gallery mode)对光纤宏弯损耗振荡的影响。测量了1060XP光纤涂覆层黑化后的宏弯损耗,结果表明:将光纤涂覆层烤黑能够减轻光纤宏弯损耗振荡。     

利用弯曲损耗法识别光纤

１弯曲损耗法原理弯曲损耗法应用的主要原理是光纤的弯曲损耗在１５５０nm波长上有较大的敏感。实验室测得的光纤弯曲损耗数据见表１。表１实验室测得的光纤弯曲损耗数据从表中可以看出，光纤在１５５０nm波长上的弯曲损耗会随着弯曲半径的减小而急剧增大，直至无法测出。因此，当给某根光纤制造一个微弯时，OTDR所测得的曲线上就会在相应位置出现大台阶，这时就可以容易地判断出该光纤了。２弯曲损耗法识别光纤弯曲损耗法识别光纤的测量系统如图１所示，其实现方法如下。（１）在局端按照光纤编号找出待割接或掏接的光纤，使用OTDR进行…     

掺铒光纤的拼接和拼接损耗估计

掺饵光纤放大器（ＥＤＦＡ）中的掺饵光纤通常具有较小的模场直径（约４￣６μｍ）。如果将这些光纤随意地与大模块直径（７．５￣１０．５μｍ）色散位移光纤或一般的光纤相拼接，则会引起大的传输损耗。然而，由于大多数掺饵光纤结构的扩散速度大于其它光纤，为了确保纤芯掺杂剂的最佳热扩散，我们在成像工艺和同步拼接评估法的基础上，开发了专用实时控制（ＲＴＣ）拼接技术，以在匹配光纤间产生锥形传输区，形成始终如一的低损耗     

温度修正的单模光纤宏弯损耗特性理论分析

为了研究单模光纤宏弯损耗特性与温度变化的关系,文章根据Faustini L提出的理论公式进行了热光效应和热膨胀效应修正,基于该公式对温度影响下的纤芯—包层—无限涂覆层结构SMF28和1060 XP单模光纤宏弯损耗分别进行了仿真分析,探究了温度、波长和弯曲半径等因素对单模光纤宏弯损耗特性的影响,并得到两种单模光纤与温度之...     

高性能长周期光纤光栅

长周期光纤光栅因其紧密性、低插入损耗和低后向反射而与带阻滤波器一样好用。一般用紫外辐射引起光纤纤芯中的周期性折射率变化,但其过程复杂。在韩国科技学院,研究人员演示了一种较简单的光栅制作方法,适用于任何类型的光纤。该光栅基于由电弧引起的周期性微弯。与紫外方法不同,该法用简单的衍射控像技术控制微弯波导的滤光特性。在光栅制作过程中,先用相距55ｃｍ的两个固定器拉直无包层光纤,随后将其中之一在垂直于光纤轴的方向上移动100μｍ,使之在光纤中感生横向应力。向局部剖面施加电弧,使光纤轻微变形,由电弧持续时间控制微弯幅度(…     

新一代的单模光纤设计

本文简述了单模光纤设计进展的四个阶段。从常规单模光纤开始，零色散波长于光纤通信工作的１．３１μｍ，其后激光管技术改进和光纤放大器实用化，使光纤通信工作波长转移，相应地出现零色散移位至１．５５μｍ的单模光纤。     

光纤微弯损耗与波长关系的实验及分析

本文从实验的角度研究了多模光纤、单模光纤微弯损耗与波长的关系。实验结果表明,多模光纤微弯损耗与波长几乎无关,而单模光纤的微弯损耗与波长关系极大。所得结果与前人理论分析结论一致。     

D型微孔单模光纤的研制

本文首次报道了采用ＭＣＶＤ工艺和冷加工方法制作的Ｄ型微孔单模光纤的研制方法及光纤的性能参数，光纤的工作波长为１．３μｍ，具有不同的纤芯到微孔平面的距离，其中一根的距离已接近于零，损耗仅为５．６４ｄＢ／ｋｍ。     

NGB入户光纤性能的研究

结合工程实际可知,用于NGB(下一代广播电视网)实现FTTH的入户光纤须具有较小宏弯损耗,提出传统单模光纤宏弯损耗的物理模型与经验模型,在此基础上,针对B6.B类光纤(弯曲不敏感光纤)与传统单模光纤的宏弯损耗特性进行了对比,前者更适于作为NGB未来的入户光纤。     

用于模式复用的少模光纤设计及特性分析

针对模式复用技术的特点,设计了一种用于模式复用的四模光纤。通过分析不同Δn(纤芯与包层的折射率差)值与少模光纤有效面积、有效折射率、微弯损耗以及色散之间的关系,确定合适的Δn值为0.96%。仿真分析了该少模光纤的模式特性,给出了光纤的主要参数,并与已有文献的相关参数进行了比较。结果表明:所设计四种模式的光纤的有效面积达120μm2以上,损耗小于0.2dB/km,其他各项参数较好,是一种适合模式复用技术应用的少模光纤。