基于IMAQ的小孔径测量

利用IMAQ的逼近法寻找圆周边缘可以实现孔径检测，但是对于小孔径测量是无效的。采用圆弧定圆心法和微圆填充法，用于小孔径的尺寸测量；通过尺寸校正系数获得测量值。实验结果表明，利用数字图像处理技术对零件孔径进行检测，是一种有效的方法。     

宽光束波前测量子孔径拼接方法研究

目前检测大口径光学系统质量一般是使用大口径干涉仪,需要加工高精度的标准表面,不仅难度大,而且制造周期长,制造成本高.因此,在ICF应用上使用子孔径拼接的方案,用小口径、高精度、高分辨率的干涉仪来复原大口径光学元件的波前相位数据.这是一项新的高精度大孔径面形检测手段.既保留了干涉测量的高精度,又免去了使用与全孔径尺寸相同的标准波面,降低了成本,并且可获得大孔径干涉仪所截去的波面高频信息,为高空间频率范围的检测评价提供了手段.文中提出一种不同于ICF应用上的一种子孔径拼接方法.     

深盲孔内径量表的改进

现有一批产品需加工盲孔,其孔径尺寸为Φ61．8±0．06mm,孔深为432±0．1mm,距孔底20mm范围内有装配要求,故需提供孔径实测值。原检测方法采用了四种手段：（1）用三爪内径千分尺进行测量。检测优点是测量准确、速度较快,但由于量具长度较短,此方法只能检测到工件口部的尺寸,     

基于IMAQ工件尺寸测量方法的研究

针对传统接触式测量方法的局限,本文提出一种基于IMAQ实现工件尺寸非接触在线实时测量的方法.介绍了尺寸的测量原理及软件实现测量的方法.     

基于泊肃叶公式的纳米阵列孔径测量

通过测量超纯水通过纳米阵列的平均流量、样品上下表面压强差,利用哈根一泊肃叶公式,求得纳米阵列的平均孔径.泊肃叶流量法与AFM电镜法相比,具有操作简单、测量误差小、周期短、花费少和对样品无损伤等优点.     

环规专用检测配件

我们利用万能测长仪内尺寸测量附件,普通螺纹环规中径最小尺寸只能测至M18,光面环规孔径只能测至Φ10mm,借助于图1所示专用小测钩和专用     

镗杆不抽出测量孔径

在孔径尺寸加工中,常常有不允许抽出镗杆面必须测量孔径的要求,如图1所示。在镗杆不允许抽出情况下,显然用通用内径量表是无法测量的。一般情况是采取如图2所示的弓形千分尺测量。弓形千分尺一端安装一个微分头,另一端是个固定测头。使用时,要在轴向找最小值,径向找最大值,显然,操作很不方便。我下面介绍一个新方法,简单易行,方便准确。可在     

多次函数拟合法计算光纤模场直径

光纤的模场直径是评价光纤性能的一个重要参数。测量单模光纤模场直径的常用方法是远场可变孔径法。通过测量给定单模光纤透过不同尺寸孔径光阑的多组远场辐射光功率数据并对实测数据进行处理,可得到被测光纤的模场直径。在实际测量过程中,为了消除被测光纤模场中心与孔径光阑中心偏离引起的测量误差,应用多次函数拟合法对远场可变孔径法测得的数据进行处理,以此自动识别并排除测量数据中的个别不合理的误差数据,从而有效提高模场直径的测量精度。     

拼接干涉测量技术

利用相关拼接技术实现光学波面检测，可以用较小的测量口径实现较大面积的测量，并保持高的测量精度、高的空间分辨率和系统的低成本。获得高精度的子孔径波面分布和有效的拼接方法是这一技术的关键。简述了采用相移技术测量子孔径波面的关键技术。两个子孔径之间的拼接是比较容易的，但采用两两拼接的方法会有很大的误差累积。因此采用了具有误差均化作用的拼接方法，该方法本质上是一种并行的方法。文中简述了该拼接方法的数学模型和求解方法。最后给出了拼接的实测结果。     

用非零位补偿法检测大口径非球面反射镜

研究了利用圆形子孔径拼接和环形子孔径拼接检测非球面的方法,以实现非零位补偿法对大口径非球面的测量.分析和研究了该技术的基本原理,并基于齐次坐标变换和最小二乘拟合建立了综合优化和误差均化的拼接数学模型;分别开发了圆形子孔径拼接和环形子孔径拼接检测非球面的算法软件;设计和搭建了子孔径拼接干涉检测装置,并分别利用圆形子孔径拼...