X射线荧光光谱法测定硅石中主次量元素组分

以Li_2B_4O_7、LiBO_2和LiF(质量比为45∶10∶5)为混合熔剂,NH_4NO_3为氧化剂,LiBr为脱模剂,熔融制作样片,采用硅质砂岩、石英岩标准样品和配制标准样品作为校准样品,建立了熔融制样-X射线荧光光谱法(XRF)测定硅石中主次量成分(SiO_2、Al_2O_3、TFe_2O_3、MgO、CaO、K_2O、MnO、TiO_2、P_2O_5)的快速分析方法。对样品制备以及分析测试过程中的条件进行了优化,在最优条件下,对标准样品(GBW03112、GBW07835)进行重复测定,相对标准偏差RSD<2%。同时对3个混合配制的硅石标准样品进行分析,结果与参考值无显著性差异。     

X射线荧光光谱法分析硅微粉

该文介绍了采用玻璃熔片法,建立了测定硅微粉中的SiO2、ZrO2、Al2O3、Fe2O3等的X射线荧光光谱分析方法。以锆英石标准样品和具有代表性的硅微粉样品作为标准样品绘制标准曲线,解决了没有硅微粉标准样品的问题,并对熔剂选择、熔融条件和测量条件等进行了探讨。该方法用于硅微粉中主、次成分的测定,结果与化学分析和ICP-AES法进行比对,结果表明,该方法可满足硅微粉生产与科研中的分析要求。     

熔融制样-X射线荧光光谱法测定钨钼锡矿中的主次成分

采用熔融制样-X射线荧光光谱法测定矿物中的Cu、Pb、Zn、Mo、W、Al、Fe、Si、K、Na、Ti、Ca、Sn等13种主次量元素,采用混合均匀的三混熔剂,以硝酸锂为氧化剂、溴化锂为脱膜剂,进行实验条件优化选择。在650℃下对样品进行预氧化,在1 100℃下高温熔融,熔融时间为300s,最后制成均匀透明,表面光滑无气孔的熔片,以部分国家一级标准物质和自制的钨钼锡标准样品,熔融制片进行测定,线性拟合建立标准曲线,并通过测定谱线选择、基体校正,使钨钼锡的测定范围扩宽,从微量到主量均能进行测定,并且适用于多种不同矿石的测定。样品的组成和含量变化会对分析线强度造成吸收、增强以及谱线重叠的影响,采用经验系数和理论α系数结合来校正其产生的基体效应。相同条件下熔融10个标准样品进行测定,其相对标准偏差(RSD)均小于5%,表明方法的准确度、精密度均满足国家相关质量标准的要求。选用一些含量不同的标准样品进行测定,最终的测定结果与标准值相符,表明方法可用于钨钼锡矿的测定。     

X射线荧光光谱法在水泥生料检测中的应用

采用压片制样法,利用波长色散型X射线荧光光谱仪测定水泥生料中的SiO2、Al2O3、Fe2O3、CaO、MgO、K2O、Na2O等7个成分的含量,并对压片制样的条件进行了较仔细的试验,同时利用计算函数由生料化学成分得到生料率值,实现了生料率值自动配料。通过实践证明。利用荧光分析测定生料,方法简便快捷,有较高的精密度与准确度,是理想的质量控制手段。     

X射线荧光光谱法测定除尘灰中砷、铅含量

以熔融制样法处理试料,采用X射线荧光光谱法对除尘灰中的有害元素砷、铅含量进行了测定,对样品的烧失温度进行了讨论,发现在950℃灼烧温度下灼烧2h时除碳完全。砷和铅的相对标准偏差为0.15%和0.20%,测定结果与化学分析法、原子吸收光谱法等结果相吻合,方法制作工艺简单,分析速度快,样品可长期保存,还能满足其他元素的日常分析。     

X射线荧光光谱熔融片法测定铜矿中的主次元素

本文采用了熔融片法制样,使用X射线荧光光谱仪对铜矿中的13种主次量元素进行了测定,希望可以提供一些有价值的参考意见.     

X射线荧光光谱法在岩矿分析中的应用及有关技术要点

讨论Ｘ射线荧光光谱法在岩矿分析主、次、微、痕量元素中的应用及相应的样品制备、基体校正等技术要点。     

X射线荧光光谱法分析岩石中的化学成分

采用粉末压片制样方法,利用X射线荧光光谱法分析了岩石中的化学成分,具有简便、快速、准确等优点。本文系统地介绍了实验整个过程,有助于增进对X射线荧光光谱分析技术的全面了解和应用。     

X射线荧光光谱法测定钠冰晶石的主要化学成分

选用国家标准样品和高纯物质配制实验用标准样品,采用混合熔剂(67%Li_2B_4O_7+33%LiBO_2)熔融制样,使用X射线荧光光谱法测定钠冰晶石中SiO_2、Fe_2O_3、MgO、CaO、K_2O、TiO_2、P_2O_5、Na、F、Al各组分的含量,实验结果表明,各组分的相对标准偏差(RSD)在0.57%～6.5%,与第三方实验室对比测定结果表明,方法可以满足工厂检测要求。     

X射线荧光光谱法同时测定矿石中铀和钍

建立了X射线荧光光谱法测定矿石样品中铀、钍含量的快速分析方法。采用高压粉末制样法,对不同含量的放射性样品的压片压力、粒径、含水率、用量等处理条件到进行单因素实验。在400 MPa压力下压制,克服了低压制样的弊端,制备的样片表面光滑、致密,大幅改善了制样重现性,有效地减少了部分基体效应,铀校准曲线的标准偏差从0.053%降到0.0071%,钍校准曲线的标准偏差从0.062%降到0.0057%。经国家一级标准物质验证,表明方法准确、可靠,能满足样品中铀、钍含量日常分析要求。     

X射线荧光光谱法测定高炉返粉组分

建立了X射线荧光光谱法测定高炉返粉中化学成分的方法,采用高温熔融法将试样制成玻璃状体,消除了基体干扰;通过对熔样条件、干扰元素、仪器参数、工作曲线拟合方式等方面进行实验研究,确定了最佳分析条件,实现了高炉返粉中主要成分SiO2等8种成分的同时测定,方法具有准确度高、同时测定多元素、分析速度快等特点。     

X射线荧光光谱法测定陶瓷、色料和釉等物料中主量及次量元素

采用熔融片制样用X射线荧光光谱法对陶瓷、色料和釉物料中Na,Mg,Al,Si,P,S,K,Ca,Ti,Mn,Fe,Ba,Zr,Zn,Hf 15种元素进行了测定,用理论α系数校正基体效应。方法简便、快速、分析结果的准确度完全能满足上述物料分析的要求。还用纯化学试剂和标准样品按一定比例混合制备标准样品,弥补了色料和釉缺少标准或没有标样的困难。又对Zr和Hf元素分析线进行了选择,用ZrLα和HfLβ1作为分析线,而不采用ZrKα,不仅使制备的熔片达到ZrLα线的饱和厚度,使分析结果的准确度和重现性好,而且还消除了ZrKα的谱线对HfLβ1分析线的干扰。     

X射线荧光光谱法测定地质样品中的硫和氟

采用粉末压片制样-X射线荧光光谱法研究地质样品中硫(S)和氟(F)元素的快速测定方法。通过分级过筛实验优化确定样品粒度,探讨样品粒度对测定结果的影响,并进行实际样品和标准物质验证。结果显示,样品粒度为85μm时,经实际样品和标准物质验证,测定结果与化学值和标准认定值相符,且相对标准偏差(RSD)均小于2%。方法具有准确度高、检出限好、测试范围宽、简便快速等优点,能确保样品分析结果的准确性,实现了地质样品中S和F的快速测定。     

粉末压片-X射线荧光光谱法测定铜冶炼炉前各种炉渣、冰铜中5种组分

应用X荧光光谱仪结合压片法制样快速测定铜冶炼中炉前的炉渣和冰铜中的铜、铁、二氧化硅、氧化钙及冰铜中各组分的分析。利用手工分析制备质控样品作为标准物质绘制工作曲线,解决了炉前样品没有标准样品的问题。对炉前分析样品基体不稳定带来的背景干扰,采用手工分析对照,不断调整工作曲线进行对照校正,通过质控管理能够满足生产指标控制的要求。分析结果表明,方法的相对标准偏差(RSD)为0.01%~0.28%,测定结果与通用的容量法分析结果对比,结果基本一致。     

X射线荧光光谱法测定镓酸钠溶液中的镓和钒含量

建立了X射线荧光光谱法测定镓酸钠溶液中的镓和钒含量的方法,通过塑料样品杯和麦拉膜封装液体样品,测定中添加仪器自带Zn、Cr两种影响元素排除干扰,减少X射线荧光光谱仪对样品测定结果的偏差,即可得出镓和钒在样品中的含量。结果表明,方法的相对标准偏差(RSD)小于3%,加标回收率为93.33%~102.1%,可实现金属镓生产过程中的物料成分快速检测。     

X射线荧光光谱法测定含铁原料中钾、钠、锌含量

由于钠、钾为轻元素,极易受其它元素干扰,因此在生产中普遍采用电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法测定,但较长的分析周期不能满足高效的生产节奏。采用熔融制样,建立X射线荧光光谱法测定含铁原料中的钾、钠、锌的含量。通过实验确定了熔解铁矿石的稀释比为1∶8,在1 150℃熔融12min,K、Na、Zn的测定范围在0.01%~0.5%。用来测定含铁原料中的有害元素,结果与ICPAES法测定结果一致,满足生产检验周期和准确度的要求。     

X射线荧光光谱法快速测定FeSiB非晶合金薄带中硅、硼、铁

提出了以自制的标准样品,采用单点法绘制校准曲线,利用X射线荧光光谱仪测定FeSiB非晶薄带样品中硅、硼和铁的含量。对于4个FeSiB非晶合金薄带样品中硅、硼和铁进行了10次测定,其分析结果的相对标准偏差分别为0.4%~0.5%、1.3%~4.2%和0.2%~0.4%。方法的分析结果与火花源原子发射光谱法、化学重量法和电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法的测定值吻合较好。方法快速、简便,薄带样品无需制样,适用于FeSiB非晶合金薄带的快速成分分析。