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相似文献
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1.
同轴探头测量电磁参数的变频率法研究   总被引:5,自引:0,他引:5  
王守军  钮茂德 《电子学报》1998,26(12):52-56
基于频率是反射系数的独立变量和电磁参数本身是频率的函数的事实,本文利用扫描插值思想提出了同轴探头测量介电常数和磁导率的变频率法新技术,推导了反射系数的谱域全波模型,从实验上验证了变频率法的可行性。该方法只需要一次扫描反射测量,可以减少误差因素,简化测量手段,从而实现现场宽带快速测量。  相似文献   

2.
同轴探头法测量片状介质材料的微波介电常数   总被引:3,自引:0,他引:3  
吴明忠  姚熹  张良莹 《压电与声光》2001,23(1):63-67,84
提出了一种可用于测量片状介质材料微波复介电常数的同轴探头技术,该技术将同轴探头紧贴有导电衬底的片状介质,通过测量探头终端的矢量反射系数来确定介质的微波复介电常数。详细介绍了所采用的理论模型和测量系统。测量了一些常见介质材料的介电常数,测量值与理论值基本吻合。文章的同轴探头技术不仅可用于测量厚度较小的片状介质,而且可用测量样品量有限的液体。  相似文献   

3.
《无线电工程》2019,(4):332-336
波导馈源系统中的吸收负载通常要求体积小、结构紧凑,需要在电磁仿真软件中进行设计优化,而精确知道吸波材料的电磁参数是进行仿真工作的前提。针对这一问题,提出一种吸波材料电磁参数的测试方法,使用矢量网络分析仪和简单的测试工装即可得到较为精确的结果,给出操作过程和计算公式。该方法操作简便,适用于具有互易性和各向同性的材料,对较高频段如ka频段的材料测量也适用。  相似文献   

4.
微波吸收材料的电磁参数在评价吸收剂性能时是一个重要指标。参数重建属于电磁逆散射问题,而传统的阻抗方法仅利用正好足够的测试数据来获取电磁参数,未能利用冗余数据对材料的电磁性能作综合评定。本文介绍结合网络参数的多点测量阻抗的优化方法,在测量线上实现了电磁参数的自动测量。文中给出了标准样品和吸收材料的实测结果。  相似文献   

5.
本文根据强扰动理论,导出了随机取向颗粒混合媒质等效电磁参数的计算方法。将这一理论应用于吸波材料的研究,找出了吸收剂粒子的最佳外形;获得了多粒子外形铁氧体吸波材料等效介电常数和等效磁导率的计算公式。测试数据表明,理论计算与实际测量值吻合得很好。  相似文献   

6.
微波吸收材料特征参数的测量   总被引:5,自引:0,他引:5  
倪尔瑚 《微波学报》1989,5(4):64-74
本文对微波吸收材料的复介电系数和复磁导率的测量方法进行综述和分类。接着对平衡电桥-干涉法、微波矢量网络分析仪法、双六端口技木、多入射角透射测量、时域法和用噪声源的相关法等近15~20年发展起来的新测量技木进行扼要的原理性论述。最后给出用平衡电桥-干涉法在x和K_a频段某些吸波材料的测量数据及误差估计。  相似文献   

7.
本文论述了开口同轴(无外加法兰)非破坏测量微波集成电路基片复介电常数的方法。文中阐明了开口同轴FDTD法的建模与测量原理。由于FDTD法建模是一种全波分析方法,出此该模型相当准确。在S和X波段测量了聚四氟乙烯材料和另一种介质基片的复介电常数,所得结果与它们的典型值非常吻合。开口同轴法测量具有非破坏性,适于现场测量,而且具有设备简单、操作方便、测量精度高等优点。  相似文献   

8.
散射参数反演材料电磁参数的新方法   总被引:2,自引:0,他引:2  
基于传输反射原理,介绍了一种利用散射参数求复数形式的磁导率和介电常数的计算方法。通过建立同轴线的测试模型并将一个待测的材料放入其中,测试出待测材料的散射参数,从而将它们代入算法进行求解。通过与以前的几种反算电磁参数的方法进行比较,该算法可以在较宽的频带内更加准确地得到电磁参数并消除相位误差,这种方法同样适用于测量左手介质的电磁参数。  相似文献   

9.
电磁材料和复介电常数和复磁层率的空间标量测量方法   总被引:1,自引:0,他引:1  
赵常青 《微波学报》1997,13(1):26-32
本文介绍了应用空间标量方法扫频测量平板电磁材料传输系数│T│的测量系统。该系统采用频域数据平滑的方法降低了天线反射面之间通过样品材料的多次反射对测量数据的影响;采用蒙特卡罗法提高了选择初值的效率,采用变尺度法实现了由│T│求εrμr的反演过程。本文最后给出在26.5-40GHz频段该系统对聚四氟乙烯和石英等典型材料的测试结果。  相似文献   

10.
用自由空间法测试介质电磁参数   总被引:6,自引:0,他引:6  
唐宗熙  张彪 《电子学报》2006,34(1):189-192
提出了一种测试介质材料微波复介电常数和复磁导率的新方法;建立了测试方法的物理模型;通过理论分析,获得了求解被测材料微波电磁参数的计算表达式;研制了测试装置和测试系统,讨论了用于测试系统的校准方法和提高测试准确度的时域门技术.在8~12GHz的频带范围内,对多种介质材料进行了实测,结果表明,本文提出的测试方法和研制的测试系统是正确可靠的,具有实用价值.  相似文献   

11.
用六端口和开口同轴线测量介电常数的一种校准方法   总被引:3,自引:0,他引:3  
李康  孔繁敏 《电子学报》1996,24(3):74-76
本文提出了一种六端口测量介电常数的校准方法,该方法将六端口和开口同轴线两次校准合为一次,特别适合于介电系数的在线测量。  相似文献   

12.
开端同轴线应用于无损检测的理论分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
刘宏 《电子学报》1995,23(8):116-119
基于测量待测物质在开端波导处的反射以确定其介电特性,由于无需制作样品而成为一种简便的无损检测方法,其关键是要确定反向系数与待测物质介电常数之间的对应关系。在本文中,应用并矢格林函数和特征模理论研究了同轴线开端处的电磁场。利用矩量法进行数值计算,得出介电常数与反射系数的数值对应关系。数值结果与有关文献的比较分析证实了理论分析的可靠性。  相似文献   

13.
钱志方  杨鸿生 《电子器件》2002,25(3):263-266
本文主要用等效电路法推导了单探针激励矩形波导和圆波导时,探针输入阻抗的表达式。同时,利用反应的概念,探讨了双探针激励波导时,探针间的互阻抗问题,以及在进行多探针激励同一波导时,输入阻抗对功率合成的影响。  相似文献   

14.
刘凯  白明  鲁拥华  唐麟  王超  明海 《中国激光》2001,28(3):253-256
提高近场光存储的存储信息密度的关键主要在于掌握近场存储光纤探针的透光率、近场光斑直径尺寸以及场梯度等近场物理量。采用三维时域有限差分 (3D FDTD)法分析了可用于近场光存储的光纤探针尖的光学性质 ,对不同类型光纤的近场光场分布进行了数值计算 ,给出结果并进行比较 ,从光学性质的角度对其在近场光存储中的应用加以讨论。完全镀膜光纤尖在极近场处的光斑可获得 10nm的尺寸 ,远小于传统光纤光学聚焦的光斑尺寸大小。  相似文献   

15.
楼理敏  胡晓明  徐云  万俊  郑山  盛杰  方晖 《电子技术》2011,38(10):59-61
同轴电缆或高速数字通讯电缆芯线电容,是影响电缆性能的重要参数.在完成屯缆编织工艺前,准确测量芯线的电容,及时控制电缆单位长度的电容,使电缆具有均匀传输阻抗,是保证电缆质量的重要措施.文章从芯线测量原理、电容测量装置设计、测量仪器选择、测量步骤、影响测量的误差来源分析等方面对测量方法进行阐述.  相似文献   

16.
本文应用直线法理论严格推导了在极坐标系统中分析任意截面形状同轴线高次模的公式。根据这些公式可求出各模式的截止波数和相应的场分布。计算结果与已有的数据的一致性,证明了本文分析的正确性。  相似文献   

17.
许悦  李明儒  郭雁林  李民  王震 《电子科技》2012,25(6):53-55,59
用三维有限差分法对漏泄同轴电缆的电容进行了计算。文中首先由拉普拉斯方程导出封闭段和开槽段漏缆电位的差分方程,结合各分界面处的边界条件进行离散化,得到了电位的计算式,进而得到电容的计算式。讨论了该方法的计算精度对计算结果的影响,并与同规格漏缆实测值比较,验证了该方法的有效性。最后研究了漏缆缝隙角度对电容值的影响情况。  相似文献   

18.
介绍了在米波雷达发射机中使用电子管FU-113F作为放大管、采用共栅电路的同轴谐振方腔的设计,重点介绍了构成同轴谐振方腔的输入匹配电路、输出匹配电路和中和电路,叙述了谐振方腔和电子管采用的风冷方法,最后给出了电子管工作时的测试结果.  相似文献   

19.
双CCD交汇测量系统结构参数的优化方法   总被引:3,自引:0,他引:3  
在分析非接触式坐标测量技术可能产生的测量误差的基础上,建立了双CCD交汇测量系统的数学模型,并对该数学模型进行误差分析,然后提出了优化结构参数的四个条件。再通过计算机仿真的方法,对双CCD交汇测量的结构参数进行优化设计,得出在不同靶面尺寸时的优化结果。从理论上证明了两个CCD交汇测量时,必须是光轴正交交汇的结论,可应用于今后的实际测量中。  相似文献   

20.
刘忠安 《光电子技术》2000,20(3):192-195
分析了通过控制直流工作电压来测量LCD模块电光参数的测量方法,并进一步提出了一种亮度比对测量法,可更方便地用一般的LCD测量系统来测量LCD模块的电光参数。它适用于用任何方法(包括佳化幅值选择寻址法)驱动的LCD模块电光参数的测量。  相似文献   

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