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同轴探头测量电磁参数的变频率法研究 总被引:5,自引:0,他引:5
基于频率是反射系数的独立变量和电磁参数本身是频率的函数的事实,本文利用扫描插值思想提出了同轴探头测量介电常数和磁导率的变频率法新技术,推导了反射系数的谱域全波模型,从实验上验证了变频率法的可行性。该方法只需要一次扫描反射测量,可以减少误差因素,简化测量手段,从而实现现场宽带快速测量。 相似文献
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微波吸收材料特征参数的测量 总被引:5,自引:0,他引:5
本文对微波吸收材料的复介电系数和复磁导率的测量方法进行综述和分类。接着对平衡电桥-干涉法、微波矢量网络分析仪法、双六端口技木、多入射角透射测量、时域法和用噪声源的相关法等近15~20年发展起来的新测量技木进行扼要的原理性论述。最后给出用平衡电桥-干涉法在x和K_a频段某些吸波材料的测量数据及误差估计。 相似文献
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电磁材料和复介电常数和复磁层率的空间标量测量方法 总被引:1,自引:0,他引:1
本文介绍了应用空间标量方法扫频测量平板电磁材料传输系数│T│的测量系统。该系统采用频域数据平滑的方法降低了天线反射面之间通过样品材料的多次反射对测量数据的影响;采用蒙特卡罗法提高了选择初值的效率,采用变尺度法实现了由│T│求εrμr的反演过程。本文最后给出在26.5-40GHz频段该系统对聚四氟乙烯和石英等典型材料的测试结果。 相似文献
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用自由空间法测试介质电磁参数 总被引:6,自引:0,他引:6
提出了一种测试介质材料微波复介电常数和复磁导率的新方法;建立了测试方法的物理模型;通过理论分析,获得了求解被测材料微波电磁参数的计算表达式;研制了测试装置和测试系统,讨论了用于测试系统的校准方法和提高测试准确度的时域门技术.在8~12GHz的频带范围内,对多种介质材料进行了实测,结果表明,本文提出的测试方法和研制的测试系统是正确可靠的,具有实用价值. 相似文献
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用六端口和开口同轴线测量介电常数的一种校准方法 总被引:3,自引:0,他引:3
本文提出了一种六端口测量介电常数的校准方法,该方法将六端口和开口同轴线两次校准合为一次,特别适合于介电系数的在线测量。 相似文献
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开端同轴线应用于无损检测的理论分析 总被引:1,自引:0,他引:1
基于测量待测物质在开端波导处的反射以确定其介电特性,由于无需制作样品而成为一种简便的无损检测方法,其关键是要确定反向系数与待测物质介电常数之间的对应关系。在本文中,应用并矢格林函数和特征模理论研究了同轴线开端处的电磁场。利用矩量法进行数值计算,得出介电常数与反射系数的数值对应关系。数值结果与有关文献的比较分析证实了理论分析的可靠性。 相似文献
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用3D-FDTD法分析用于近场光存储的光纤探针电磁波传输特性 总被引:5,自引:1,他引:5
提高近场光存储的存储信息密度的关键主要在于掌握近场存储光纤探针的透光率、近场光斑直径尺寸以及场梯度等近场物理量。采用三维时域有限差分 (3D FDTD)法分析了可用于近场光存储的光纤探针尖的光学性质 ,对不同类型光纤的近场光场分布进行了数值计算 ,给出结果并进行比较 ,从光学性质的角度对其在近场光存储中的应用加以讨论。完全镀膜光纤尖在极近场处的光斑可获得 10nm的尺寸 ,远小于传统光纤光学聚焦的光斑尺寸大小。 相似文献
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介绍了在米波雷达发射机中使用电子管FU-113F作为放大管、采用共栅电路的同轴谐振方腔的设计,重点介绍了构成同轴谐振方腔的输入匹配电路、输出匹配电路和中和电路,叙述了谐振方腔和电子管采用的风冷方法,最后给出了电子管工作时的测试结果. 相似文献
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双CCD交汇测量系统结构参数的优化方法 总被引:3,自引:0,他引:3
吴宁 《电气电子教学学报》2003,25(4):32-34,44
在分析非接触式坐标测量技术可能产生的测量误差的基础上,建立了双CCD交汇测量系统的数学模型,并对该数学模型进行误差分析,然后提出了优化结构参数的四个条件。再通过计算机仿真的方法,对双CCD交汇测量的结构参数进行优化设计,得出在不同靶面尺寸时的优化结果。从理论上证明了两个CCD交汇测量时,必须是光轴正交交汇的结论,可应用于今后的实际测量中。 相似文献
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分析了通过控制直流工作电压来测量LCD模块电光参数的测量方法,并进一步提出了一种亮度比对测量法,可更方便地用一般的LCD测量系统来测量LCD模块的电光参数。它适用于用任何方法(包括佳化幅值选择寻址法)驱动的LCD模块电光参数的测量。 相似文献