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本文研究了旋转对称面共形阵互耦的分析的方法。文中提出了“等效环”的概念,把旋转对称面上不等元分布共形阵等效为等元分布的情形,简化了共形阵的物理模型。通过把阵的任意激励分解成与结构对称性相匹配的一组本征激励的线性叠加的方法,避免了大矩阵的求逆,大大的减少了运算量。这对于共形阵的分析和综合有重要意义。 相似文献
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在互耦自由度未知条件下给出了柱面共形阵列多参数联合估计算法。针对柱面共形阵列中多参数相互耦合的难题,首先通过阵列结构设计,利用柱面共形载体单曲率特点,构建ESPRIT子阵,基于一维搜索与ESPRIT算法,实现了互耦自由度和信源俯仰角的估计;在此基础上,结合秩损理论和互耦矩阵的Toeplitz性质,估计出信源的方位角,并对可能出现的方位角模糊进行了分析,给出解模糊方法;最后利用时域ESPRIT算法,完成了极化状态和互耦系数的联合估计。该算法不需要任何互耦和极化的先验信息,也无需参数配对,估计精度高、分辨力强。计算机Monte-Carlo仿真验证了所提算法的有效性。 相似文献
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超分辨测向中阵元间互耦的校正 总被引:1,自引:0,他引:1
该文基于子空间基本原理,提出了一种天线阵单元间互耦的校正方法,该方法的优点在于校正时允许天线阵同时接收校正信号和待测信号。文中给出的计算机模拟结果证明了这种方法适用于均匀线阵或圆阵以及相干信号源的测向。 相似文献
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本文研究了旋转对称面共形阵互耦的分析方法。文中提出了等效环的概念,把旋转对称面上不等元分布共形阵等效为等元分布的情形,简化了共形阵的物理模型。通过把阵的任意激励分解成与结构对称性相匹配的一组本征激励的线性叠加的方法,避免了大矩阵的求逆,大大的减少了运算量。这对于共形阵的分析和综合有重要意义。 相似文献
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该文研究了阵元位置互质的线性阵列(CLA)的互耦分析和角度估计问题。首先,给出了阵元位置互质的线性阵列的定义,证明了其导向矢量是不模糊的。随后,利用高阶累积量,建立了阵列输出信号的3阶张量模型,并通过张量分解得到导向矢量的估计。最后,利用得到的导向矢量估计,推导了一种无模糊的信号角度估计的方法。CLA可将相邻阵元间的间距设计远大于半波长,因此可显著降低阵列互耦效应。通过阻抗匹配互耦模型比较了CLA和常用典型阵列结构的互耦与角度估计性能,表明了CLA的有效性。 相似文献
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基于子空间的阵元间互耦校正方法 总被引:6,自引:0,他引:6
本文基于子空间基本原理,提出了一种均匀线阵或均匀圆阵单元间互耦的校正方法.该方法的优点在于只需要一个辅助校正源,并且它的方向可以未知.计算机模拟结果证明了这种方法的正确性和有效性. 相似文献
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阵元间互耦会严重影响阵列的测向性能。文章基于子空间类测向方法,在远场情况下,提出了一种新的阵元互耦有源校正算法。文中的算法是以迭代的形式给出,其目标函数建立在信号子空间性质的基础上,并且适用于多个校正源同时存在的情况。计算机仿真验证了它的有效性,而且可推广至校正源方位估计存在偏差的情况。 相似文献
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基于全波仿真得到的广义阵元有源方向图,该文提出一种用于综合多方向图共形阵列的新方法:自适应动态Meta粒子群优化(ADMPSO)算法。在传统Meta粒子群优化(MPSO)算法基础上,定义了优势子群和非优子群的概念,并通过植入非优子群裁减、优势子群规模膨胀以及惯性权重自适应更新等机制,实现了优化过程中多子群的自适应动态调整,全面提高了算法性能。ADMPSO成功用于12元微带锥面共形阵列非赤道面的多方向图综合,综合过程考虑了由共形载体导致的阵元极化指向各异特征,在公共激励存在约束情况下,使阵列同时实现了笔形、平顶,以及余割平方波束总功率方向图,其与该阵列全波数值仿真完全吻合,优化结果和收敛速度相比于其他算法均有显著改善。 相似文献
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计入阵元间互耦影响的阵列方向性图综合 总被引:2,自引:0,他引:2
基于自适应天线理论,在考虑了天线阵中阵元间互耦影响的情况下,对均匀和非均匀直线阵列的方向性图进行了综合,并讨论了加权值幅度和相位误差对天线阵列方向性图的影响。 相似文献
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阵列天线互耦补偿技术研究 总被引:3,自引:0,他引:3
分析阵列天线的互耦机理,利用电磁散射理论研究阵列天线的散射特性,得到阵列天线的散射矩阵,并根据散射矩阵中的实际物理意义,将矩阵进行分解,推导出阵列天线的互耦补偿公式,避免了复杂的计算,并在实际测试数据的基础上,利用提出的算法进行互耦补偿,验证了该算法的有效性。 相似文献
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紧凑型双馈圆极化微带天线阵列在E面和H面存在严重互耦,会导致天线阵列的整体性能显著下降.为此,设计了二单元圆极化微带天线阵列,建立了参数化HFSS模型,对天线单元间距、辐射基片切向方向边缘效应对E面和H面互耦影响进行了仿真和分析,结果表明存在临界单元间距值.小于该值时,H面的互耦比E面的严重,反之H面的互耦会随着间距加大而显著下降;对于E面互耦,辐射基片切向方向的介质边缘存在对应最小E面互耦的最佳尺寸,但对于H面互耦,介质边缘效应并不显著.进一步设计了具有典型参数值的实物样品,测试结果验证了上述情况,并表明:介质边缘效应只能改善E面互耦,但对H面互耦的改善需要采用其它方法. 相似文献