电线电缆的自动测量装置及计算机控制系统(续)

2.电线电缆等挤出流水线上计算机的应用和测量监控装置近年来,在线缆等的挤出成形中,利用微型计算机和小型计算机来进行程序监控或程序控制得到了迅速的发展。     

塑料挤出层的非接触式电感测量仪

本文叙述用于测量塑料挤出层厚度、偏心和直径的设备。     

基于机器视觉系统的半透明薄膜缺陷检测及厚度测量研究

提出了一种基于机器视觉系统的薄膜缺陷检 测与厚度 测量的方法。该方法通过建立CCD接收到的放置薄膜前后的图像灰度与厚度之间的关系,利 用同样的图像采集硬件 和不同的软件分析方法,在保证实现最小缺陷0.1mm×0.1mm检测的同时,完成单次66mm的大范围厚度测 量。在基于透射光密度原理进行厚度测量时,为减小测量误差,采用标准密度值标定板对系 统进行标定,对计算的 理论光密度值进行偏移校正。以四氟薄膜为例,其厚度检测平均误差为5.7%,标准偏差为6.66%。仅需匹配简单的 扫描装置,便可在普通的视觉系统上完成薄膜划痕、气泡等表面二维缺陷的识别以及三维轮 廓的全场在线测量。     

厚薄膜测量

为透明和半透明材料、厚薄膜测量设计的薄膜厚度测量装置性能好于类似的 CCD系统。光谱国际公司的薄膜厚度测量装置能测量比类似 CCD传感器薄的膜。薄膜厚度分辨率为 2 nm,重复性在± 1%或 0 .4 nm,可在现场单独应用。此装置可用于计算吸收和非吸收材料的折射率 ,可进行多个薄膜层的同时测量。也可用于测量未知厚度和未确定成分的膜。系统可测量电介质膜 ,如氮化物、氧化物 (氧化硅、氧化铝 )等聚合物涂层和吸收材料薄膜 (如硅、聚硅、无定形硅和其他半导体材料 )。此装置性能先进 ,有广泛应用 (包括半导体晶片、太阳电池、平板显示和光…     

线缆工业中的测试与控制

《The nire industy》Vol.34.№.407.NoV.1967.P.1161-1169. 大约20年以前,线缆制造过程中,几乎不用或者根本不用仪表设备,随着高速度流水线的出现,原材料价格的提高,仪表设备在线缆工业中越来越起到重要的作用。本文将对挤出流水线用的现代仪表设备进行评论,并且将讨论由于其使用所带来的实际好处。     

线缆护层挤出方式及挤出模具的设计

在线缆制造过程中,线缆护层的挤出占据了十分重要的地位.线缆护层挤出方式以及挤出模具对挤出护层质量至关重要.目前挤出方式有很多种,但都是由三种基本挤出方式单独作用或组合而成.介绍了线缆的三种基本挤出方式的优缺点及其适用范围,以及挤出模具的设计原理,给出了部分材料的拉伸比和拉伸平衡比.并以挤管式模具设计为例,详细介绍了模具设计方法及其相关典型参数,最后简要介绍了模具的装配规则.     

基于单片机的零件尺寸数控测量装置

本文主要介绍一种基于单片机的零件尺寸测量装置的工作原理,在此基础上针对测量装置的机械系统和控制系统进行设计。该产品可以对小型轴类零件外径尺寸和管类零件的内外径尺寸进行测量。     

棱镜—薄膜耦合器的耦合间隙对薄膜参数测量误差的影响

利用等厚干涉法测量了棱镜—薄膜耦合器的耦合间隙,在不同耦合间隙下测量了薄膜波导模式的传播常数、薄膜折射率和薄膜厚度。用 Tien 和 Urich 有关棱镜—薄膜耦合器的理论分析了耦合间隙对薄膜参数测量误差的影响。     

F46挤出中的予对同心法

F46挤出和其它热塑性塑料的挤出一样,在挤出一开始首先要调偏心,这对于挤出线缆的质量很关重要,在挤出机的操作中也是一项技术性较强的工作。怎样使在电线挤出中,调偏心的工作,减到最简单,一直是从事电线挤出工作者所关心的事,有许多人作过很多有意义的研究。 F46挤出模具,由于F46材料所具有的特性,大都采用管式模。通过实践,我们发现,只要机头里分料器的曲线设计合理的话,那未,     

YbF3和ZnS薄膜的折射率和厚度的分光光度法测定

本文给出了一种简单而准确地确定光学薄膜折射率和厚度的方法。利用分光光度计分别测量光学薄膜样品以及基底透射率曲线,采用柯西（Cauchy）色散模型以及非线性单纯形优化法对透射率测量曲线进行拟合,从而确定薄膜的光学常数和厚度。采用电子束热蒸发和电阻热蒸发方法,分别在CaF2基底上镀制ZnS薄膜和在Al2O3基底上镀制YbF3薄膜,通过测量其在400nm-2600nm波段内的透射率曲线,计算出ZnS和YbF3薄膜材料的折射率色散曲线以及膜层厚度。     

750℃下用低压化学汽相沉积在Si上外延生长单晶SiC薄膜

在（１００）硅单晶衬底上，７５０℃外延生长了立方晶系（１００）晶向的ＳｉＣ薄膜，该生长温度是目前所报道的最低生长温度。采用一种简单的硅碳比为１：１的甲基硅烷（ＳｉＣＨ３Ｈ３）源材料和Ｈ２，用低压化学汽相沉积工艺生长了ＳｉＣ薄膜。用透射电子显微镜（ＴＥＭ）、单晶和双晶ｘ射线衍射仪、红外吸收、椭球仪、厚度测量、四探针测量以及其它方法表征了生长的薄膜。ｘ射线测量结果表明，我们生长的薄膜结晶学质量与类似厚度的商用ＳｉＣ薄膜的质量相当。介绍了本研究中所用的新的生长装置和ＳｉＣ薄膜的性质。     

半导体薄膜特性实时检测的新装置

利用光学和电子学结合的方法,建立了基于多光束光学传感器和光电检测电路的检测薄膜特性装置.通过对反射光光点间距变化和光强振荡的检测,实时检测薄膜应力、厚度、生长率等常数的信息.通过理论分析,该装置厚度测量的精度优于2nm,应力的灵敏度优于5MPa,可以应用于半导体集成电路生产线的薄膜生长过程控制检测.     

外径千分尺测量误差占比分析

为了确保导体电阻率测量准确性,对线缆产品使用性能作出判定,必须减小导体单丝外径测量误差。导体单丝外径千分尺测量误差主要由系统误差和随机误差组成。在千分尺标准要求误差许可内,对系统误差和人为误差的占比情况以及误差出现原因进行了试验研究。研究结果发现,测量误差围绕千分尺系统误差值上下波动,千分尺系统误差占比约72.5%,人为误差占比约27.5%;同时因检验人员测量能力不同,所获测量结果标准偏差存在明显差异。为提升导体单丝外径测量结果准确性,宜选用系统误差较小的外径千分尺,并根据标准要求适当加严误差要求。     

偏心测量和控制 在电气绝缘挤出过程中连续监控偏心率和同轴电容变化

本专利叙述控制几何学和有关挤出基本绝缘和挤出护套的电气特性。着重叙述挤出造形的偏心率和同轴电容的监控问题。历史背景在称为挤出线对和挤出四线组的塑料绝缘组件塑料绝缘线的制造中及在电缆组件上加塑料护套时,重要的是保持所希望的均匀绝缘厚度或护套厚度,以及保持绝缘相对于中心轴的同心度。     

光学干涉法同时测定二氧化硅薄膜折射率和厚度

本文利用二氧化硅薄膜的光学干涉效应和可变角度反射测量装置,给出了一种同时测定薄膜折射率和厚度的新方法.薄膜折射率和厚度的测量误差分别小于5%和6%.     

纳米薄膜的光学参数及厚度提取方法研究

采用磁控溅射法在玻璃基底上分别制备了不同厚度的单层TiO2、Au纳米薄膜和双层TiO2/Au纳米薄膜,并测量了这些薄膜的透射光谱.通过设计计算机程序拟合透射光谱;获取了薄膜的折射率和消光系数随波长的变化曲线以及薄膜的厚度.这种拟合方法是以非线性约束优化理论为基础的,具有透射光谱易测量、计算精度高等特点.     

基于X射线的薄膜在线测厚系统

本文设计了一套能够进行实时厚度测量的X射线测厚系统。在文中我们介绍了该测厚系统的测厚原理、系统方案以及软件设计。目前该测厚系统已经成功运行在PVC薄膜生产线上,满足了薄膜生产企业对厚度测量系统的要求。     

强吸收衬底上薄膜厚度和折射率的测量新方法

提出了一种同时测量强吸收衬底上薄膜厚度和折射率的方法。对生长于强吸收衬底上的透明薄膜,提出在该薄膜上镀一层薄金属,形成金属-薄膜-强吸收衬底的类波导结构。由于小角度入射光在强吸收衬底上具有较强的反射率,使该结构可容纳一系列共振模。利用自由空间耦合技术和导出的共振模模式本征方程,同时确定透明薄膜的厚度和折射率。实验中测量了硅衬底上制备的聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)薄膜的折射率和厚度,测量的相对误差均小于10-3。该方法具有简便、可靠、可测量任意折射率薄膜的优点。     

一种有机聚合物光波导的制备及性能研究

溶胶凝胶法制备了聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)掺杂偶氮类化合物分散红1(DR1)薄膜波导,并通过对薄膜厚度、折射率以及紫外-可见吸收谱的测量,分析了波导薄膜的性能。通过使用棱镜薄膜耦合装置激发薄膜波导的导模,观察导模激发情况。利用m线光谱学测量并计算了导模的同步角,计算了波导有效折射率,并在理论上分析了波导的一些重要参数。     

无偏心挤出机头的设计和应用

一、概述在电线电缆行业中,对于如何正确而有效地测量和控制电线电缆绝缘和护套的偏心度是一个很重要的问题。在通常的设备上进行挤出时,由于用手工调节偏心,一开始就要浪费大量的材料和耽误不少的工时,降低了生产能力。再则,由于调节机头偏心往往是依靠肉眼的观察来作出结论,所以即使在肉眼看来调好了偏心,但实际上还可能存在着较大的偏心,