集成电路分选机的维修及应用

随着经济发展和技术的进步,集成电路产业取得了突飞猛进的发展。集成电路测试在集成电路产业链中的作用越来越大,专业化的集成电路测试业是集成电路产业中一个重要组成部分,是保证集成电路性能、质量的关键环节之一。各大半导体生产厂家都在竭力提高生产效率和检测效率,生产厂家在芯片生产中采用了自动化的半导体测试仪器和高速、智能化的集成电路分选机。以CTS800分选机为例,详细介绍了集成电路分选机常见故障的维修及应用。     

存储器并行测试方法

存储器是集成电路中最常用的器件之一,存储器的工艺不断改进,使得它的容量增大、集成度和工作速度也在不断增加。快速而高效地对存储器测试,是批量存储器测试工作的一个重要课题。本文介绍了有关大容量存储器集成电路测试系统的软件原理和硬件构成,对存储器并行测试方法作了初步探讨。     

乒乓模式在IC量产测试中的应用

随着目前国际集成电路封装测试产业不断向中国转移,更多国际知名公司均希望在中国找到低成本、高品质的解决方案。集成电路测试作为品质把关的重要一环,其成本在整个集成电路产业链中占有较高比重。据统计,目前有很多集成电路的测试成本已高达整个集成电路生产成本的45%以上,因此,测试成本的有效降低能够明显减少集成电路制造成本。昂贵的集成电路测试设备是导致IC量产测试成本偏高的主要因素,需要负责IC量产测试的工程技术人员不断地探索和钻研如何最有效地使用这些测试设备。本文详细地阐述了如何使用乒乓测试模式充分利用设备资源,从而有效降低IC的测试成本。     

铝电解电容器测试分选机的设计方案

JHT-LD-380型高精度电容器全自动测试分选机是铝电解电容器生产专用设备。该机选用了ST-280型电解电容器测试电桥,该电桥集极性、漏电流、电容量、损耗各参数的测试及通过I/O接口对外部电路进行控制于一体,性能优异。电桥与外围电路配合良好。在测试电桥、充电片、测试头等关键点的设计上独具匠心。该机具有自动分选、操作简便、测试准确、速度快等优点,在测试精度、速度、分选准确度等方面均达到国外同类机的水平。1998年评为国家级新产品。     

用TestStand构建通信产品并行测试平台

提高测试效率进而提高测试设备的使用性是当前测试仪器发展和设计的研究前沿。本文分析了利用测试管理环境TestStand 2．0功能强大的内嵌式同步工具来规划和管理并行测试系统,从而达到测试量和设备利用率之间的最佳平衡的实现方法,同时利用TestStand API定制并行测试用户界面,建立了一个并行测试平台,将其运用于通信产品测试领域。     

Multitest的InCarrier^TM测试分选机凭借可靠性和成本优势赢得新订单

Multitest的InCarrier^TM测试分选机目前获得欧洲一家IDM公司的首个多系统订单。这些系统将用于小型MEMS传感器的多测位并行测试。     

薄膜电容器自动分选机

新一代竖装履带式分选机将逐步被广大电容器制造厂所接受,介绍了分选机国内发展状况及XF10B分选机的工作原理和存在的缺陷,并对使用分选机中存在的误区进行了分析。     

混合IC测试系统有效降低测试成本

Credence推出的Sapphire D-10是为满足，消费电子产品市场的低成本测试需求而设计的混合信号IC测试系统。Sapphire D-10是一个高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案，该方案是为微控制器、无线基带、显示驱动器和消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而特别设计的。它具有集成度高、体积小、模块化、较高的并行测试能力等特点。     

CTA8280集成电路测试系统的研究应用

集成电路测试系统对测试精度、测试速度、测试功能等方面提出了越来越高的要求,测试系统并行测试和乒乓测试结合可以更好地利用现有的硬件资源,最大限度地提高系统的测试效率,降低测试成本。针对CTA8280测试系统结构、关键技术、应用案例进行分析介绍。     

并行LED驱动电路的多SITE测试方法

并行LED驱动电路的多SITE测试对系统资源和测试速度有较高要求,文章介绍了并行LED驱动电路的工作方式、常见测试参数以及常见参数的测试方法。探讨了在中测阶段进行多SITE测试的方法,对该类电路多SITE测试中的一些难点进行了分析,并提出了一种新的测试方案。该测试方案通过资源复用的方式,采用最新的切换技术,可以有效提高测试准确性,并提高测试效率,降低测试成本。最后介绍了多SITE测试的一些其他要点以及最终的测试结果。     

基于Ultra-FLEX测试系统的集成电路测试开发

在半导体技术高速发展的今天,对集成电路的测试要求越来越高,测试开发的难度、复杂度都在增加,如何应对当前集成电路的测试需求,成为测试开发者需要考虑的问题。Ultra-FLEX测试系统是新一代的测试系统,用以应对当今的测试需求。文章介绍了Ultra-FLEX测试系统的硬件资源,列举了部分模块及其功能和参数;描述了一般集成电路测试开发的流程,并以数字集成电路为例介绍了相关测试内容;介绍了Ultra-FLEX测试系统的软件环境,列举了测试程序构成要素以及各自功能;介绍了Ultra-FLEX测试系统的程序调试环境,测试系统提供的调试工具以及调试方法。     

SW233 PIN驱动器自动测试系统的研制

介绍了一种集成电路自动测试系统，该系统采用计算机并口作通信接口，用VB6编程，实现了对外围测试电路的控制，用IEEE-488接口卡控制测试仪器，可对SW233电路的36个参数进行自动测试，并将测试结果自动保存在数据库中。该测试系统具有自动化程度高、操作方便、测试结果精确等特点。     

二十四所集成电路设计/测试技术发展历程与展望

回顾了中国电子科技集团公司第二十四研究所各类模拟/混合信号集成电路设计/测试技术的发展历程,简述了二十四所照相制版和计算机辅助设计等从无到有的历程;最后,对二十四所集成电路设计、测试技术未来的发展进行了展望.     

一种集成电路测试用程控信号源的设计

针对目前集成电路测试系统中交流参数的测试现状,提出一种基于PCI总线和直接数字频率合成技术（Direct Digital Synthesize, DDS）的程控信号源设计方案;文章先介绍了整个信号源系统的构成与工作原理,随后详细论述DDS信号发生模块、幅度调节模块等模块的硬件设计;目前该信号源已通过相关部门验收并交付使用,该信号源可满足各种测试环境要求,同时其技术指标也达到了预期设计的精度要求。     

一种集成电路测试用程控信号源的设计

针对目前集成电路测试系统中交流参数的测试现状,提出一种基于PCI总线和直接数字频率合成技术（Direct Digital Synthesize,DDS）的程控信号源设计方案;文章先介绍了整个信号源系统的构成与工作原理,随后详细论述DDS信号发生模块、幅度调节模块等模块的硬件设计;目前该信号源已通过相关部门验收并交付使用,该信号源可满足各种测试环境要求,同时其技术指标也达到了预期设计的精度要求。     

一种低压差线性稳压电路的并行测试方法

介绍了一种特别的低压差线性稳压电路,以及针对该电路的测试方法。该电路的特殊之处在于圆片上所有管芯的输出端短接在一起,无法直接用常规方式进行多工位并行测试,需要使用浮动电源对每个工位进行隔离测试。同时在测试方案中加入了自校准功能,可以在长期大规模测试中有效地保证测试准确性,避免因测试系统出现异常造成误测。     

模拟集成电路直流参数测试系统的研制

文章介绍了自动测试系统的原理与内部模块之间的工作过程及系统的总体结构。懈决了精确测量单元等关键技术．研制了一种通用性强,成本低．性能可靠的自动测试系统。经过实验与生产应用,所研制的测试系统适合于半导体行业的实际生产需要,具有比较高应用价值。     

集成电路芯片安全隐患检测技术

现代信息产业的基础是集成电路,集成电路的安全性决定了信息产业的安全,在集成电路芯片设计过程中考虑不周全或恶意植入不受使用方控制的程序或电路,是对现代信息产业安全的重大挑战.通过对集成电路芯片中安全漏洞的分析,提出了三种检测芯片安全隐患的方法:物理检测、电学检测和协议检测,认为采用物理检测和电学检测相结合的方式可以比较有效地检测出芯片的安全隐患,并对基于电流变化的电学检测技术进行了详细地论述.