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ESD保护电路已经成为CMOS集成电路不可或缺的组成部分,在当前CMOS IC特征尺寸进入深亚微米时代后,如何避免由ESD应力导致的保护电路的击穿已经成为CMOS IC设计过程中一个棘手的问题.光发射显微镜利用了IC芯片失效点所产生的显微红外发光现象可以对失效部位进行定位,结合版图分析以及微分析技术,如扫描电子显微镜SEM、聚焦离子束FIB等的应用可以揭示ESD保护电路的失效原因及其机理.通过对两个击穿失效的CMOS功率ICESD保护电路实际案例的分析和研究,提出了改进ESD保护电路版图设计的途径. 相似文献
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电源管理集成电路(IC)的自动测试机(ATE)测试故障主要包括连续性失效、直流参数测试失效、交流参数测试失效和功能测试失效.ATE测试适用于大规模量产的不良产品的筛选,但是将ATE测试结果直接应用于失效分析依然存在覆盖局限性问题.针对不同功能测试结果,采用了不同的失效模式验证和分析方法.综合运用I-V曲线测试仪、示波器、函数发生器等仪器进行失效模式验证;使用微光显微镜、光诱导电阻变化仪器进行缺陷的失效定位;并借助电路原理图、版图进行故障假设;分析由过电应力、静电放电损伤、封装缺陷等导致的物理损伤;最终揭示了电源管理IC功能失效的主要原因. 相似文献
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李雪玲 《电子产品可靠性与环境试验》2011,29(2):13-15
介绍了手机静电放电测试的要求和方法,总结分析了手机静电放电抗扰度试验的主要失效现象和模式,可供手机静电放电抗扰度试验及提高手机抗静电能力设计时参考. 相似文献
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热载流子是器件可靠性研究的热点之一.特别对于亚微米器件,热载流子失效是器件失效的一个最主要方面.通过对这种失效机理及其失效模型的研究,为设计和工艺提供帮助,从而有效降低由热载流子引起的电路失效,提高电路可靠性.本文主要针对几种典型工艺的栅氧厚度(例如:Tox分别为150 (A)、200 (A)、250 (A))的NMOSFET进行加速应力实验,提取寿命模型的相关参数,估算这些器件在正常工作条件下的寿命值,对亚微米工艺器件寿命进行快速评价. 相似文献
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针对竞争失效产品加速寿命试验存在试验时间长、费用高、效率低的问题,提出了一种基于Monte-Carlo仿真的竞争失效产品加速寿命试验优化设计方法。采用Monte-Carlo对竞争失效产品的加速寿命试验进行仿真模拟,以正常使用应力下的p阶分位寿命渐近方差估计最小为目标,以各试验应力水平及对应应力下的试验截尾数作为设计变量,采用MLE理论进行统计分析,建立了基于仿真的竞争失效产品加速寿命试验优化设计模型。最后通过GA-BP神经网络对目标函数进行拟合,降低了仿真规模,提高了试验效率,为电子装备寿命预测的加速试验方案优化设计提供技术支撑。 相似文献
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光纤通信系统中光电探测器可靠性理论 总被引:1,自引:0,他引:1
本文详细而系统地论述了用于光纤通信系统中光电探测器的可靠性。其主要内容包括:从可靠性考虑器件的设计和制造;器件关键性参数和潜在的失效模式;探测器退化和接收机灵敏度的关系;可靠性基本概念和参数;加速老化试验;寿命试验结果与计算。 相似文献
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本文采用步进应力的试验方法设计了一个针对GaAs红外发光二极管的可靠性加速寿命的研究方案.这种方法主要是把步进应力和恒定应力两种方法相结合,用此来评估GaAs红外发光二极管的可靠度;然后总结除了GaAs红外发光二极管这种光电器件的寿命分布形式和失效模式. 相似文献
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Accelerated Life Test Planning With Independent Weibull Competing Risks With Known Shape Parameter 总被引:1,自引:0,他引:1
This article presents methodology for accelerated life test (ALT) planning when there are two or more failure modes, or competing risks which are dependent on one accelerating factor. It is assumed that the failure modes have respective latent (unobservable) failure times, and the minimum of these times corresponds to the product lifetime. The latent failure times are assumed to be s-independently distributed Weibull with known, common shape parameter. Expressions for the Fisher information matrix, and test plan criteria are presented. The methodology is applied to the ALT of Class-H insulation for motorettes, where temperature is the accelerating factor. Two-level, and 4:2:1 allocation test plans based on determinants, and on estimating quantiles or hazard functions, are presented. Sensitivity of optimal test plans to the specified Weibull shape parameter is also studied 相似文献
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集成电路(IC)的发展呈现出小型化和集成化的趋势,使得IC电磁辐射越来越强,准确测试出IC电磁辐射对于集成电路电磁兼容设计有重要意义。横电磁波(TEM)小室法是目前最常用的IC辐射测试方法,它使用方形测试板,测试四个角度(0°, 90°, 270°, 360°)的IC辐射值,然而IC电磁辐射具有角度效应,仅用四个角度无法准确测试出IC最大电磁辐射水平。文中基于TEM小室全波仿真模型,使用单根微带线,验证了角度对于IC辐射的影响。设计了基于STM32芯片的圆形测试板和方形测试板,利用TEM小室测试了不同角度、不同模式下的STM32芯片电磁辐射,测量结果证实了不同模式下圆形测试板的测试结果都要大于方形测试板,最大偏差达到16 d Bm,因此圆形测试板更能准确测出芯片的最大电磁辐射水平。 相似文献
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This paper reports the reliability of twisted nematic liquid-crystal display for basic applications such as watches and calculators. We have studied significant stress factors such as voltage, temperature and humidity, and their corresponding failure modes. The main failure mode is LCD misalignment; many different modes appear corresponding to different stress conditions as well as material and process for the LCD. We have analyzed the accelerated test results by Weibull distribution, elucidated accelerating factors, and estimated life time. The life is inversely proportional to 1.78-2.45 power of applied voltage, depending upon misalignment modes. The distribution of life is well expressed by Weibull distribution with shape parameter between 2.5-3.0, and proportional to the square of coefficient of variation of life. We conclude that the acceleration factors could be determined and 99.9% of tested displays will live more than 10 years. The knowledge on reliability of LCD can be now applied to new fields of LCD, such as industrial use, home appliance, and automotive instruments. 相似文献
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介绍了IC可靠性对电子设备可靠性的影响及当前IC可靠性的局限性,阐述了故障预测的定义及详细介绍了"浴盆曲线"不同阶段的意义;从另一个角度介绍IC的可靠性,阐述了故障预测在集成电路设计中的价值.论述了故障预测在半导体设计中的应用问题,影响半导体器件寿命的因素.给出了静电损伤、热裁流子、TDDB和NBTI等影响半导体器件寿命的故障预测方案. 相似文献