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分析铝及铝合金焊缝射线检测国家标准的标准体系构成及发展现状,介绍GB/T37910.2-2019标准的主要内容,为无损检测工作者使用该标准提供有益的参考。 相似文献
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对GB/T11350┐89《铸件机械加工余量》标准的一点看法四川三台泵业有限公司(三台县621100)王从伦GB/T11350-89《铸件机械加工余量》标准是1989年颁布的,规定与GB6414-86《铸件尺寸公差》标准配套使用。标准的制定和实施对于... 相似文献
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《稀有金属材料与工程》1998,15(3):29-29
牙科钛铸件都采用失错铸造技术制成,铸件有缺陷是铸造加工中常遇到的问题.铸件缺陷包括变形、铸入不足、铸巢、气孔、铸件质地疏松等,景致命的铸造缺陷为铸入不足.造成牙科铸件有缺陷的起因有:①金属或合金凝固收缩所致的收缩孔;②熔化的金属或合金放出气体所致的缺损或铸巢;③铸入时空气卷入所致的缺损;④铸型内空气没有充分排出所致的缺损;⑤包埋材料与铸到反应或凝固时体积变化过大、铸型胶有缺损、包埋材料与熔化的金属或合金反应、铸型变形;⑤铸造用的合金或金属本身有质量问题.牙秆铸件缺损以收缩孔最常见.由于钛本身固有… 相似文献
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电位法作为准静态断裂韧度测量标准GB/T 21143—2014中推荐的方法之一,在某些情况下可对常用的柔度法不便测量的试样进行辅助测量。为了验证电位法在断裂韧度测量中的实际效果,按照标准中规定的直流电位法对试样进行了断裂韧度的测试,并将测试结果与柔度法进行对比。结果发现:GB/T 21143—2014中的方法1,即间接测量法可以更准确简便地测量裂纹的长度,结果与柔度法相当;而方法2,即直接测量法,在实际试验中不容易控制裂纹测量的准确性,准确性与便捷性均不如方法1。 相似文献
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电位法作为准静态断裂韧度测量标准GB/T 21143—2014中推荐的方法之一,在某些情况下可对常用的柔度法不便测量的试样进行辅助测量。为了验证电位法在断裂韧度测量中的实际效果,按照标准中规定的直流电位法对试样进行了断裂韧度的测试,并将测试结果与柔度法进行对比。结果发现:GB/T 21143—2014中的方法1,即间接测量法可以更准确简便地测量裂纹的长度,结果与柔度法相当;而方法2,即直接测量法,在实际试验中不容易控制裂纹测量的准确性,准确性与便捷性均不如方法1。 相似文献
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介绍新版焊缝射线检测标准的主要内容,分析新旧标准的差异,阐述新版标准与其他标准的关联性,为正确理解和使用该系列标准提供了参考. 相似文献
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介绍GB/T 9445 2005《无损检测 人员资格鉴定与认证》标准的修订概况和主要内容,并与GB/T 9445 1988和GB/T 9445-1999标准进行比较,总结出了新版标准的特点。 相似文献
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概述了GB/T-1999《防锈包装》的内容,指出了标准修订前后有关技术内容存在的差异。 相似文献
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对2005年同时颁布的两个射线检测标准GB/T3323—2005和JB/T4730.2—2005进行了对比分析。对两个标准的内容差异逐一进行了解析。阐述了各自标准的制定原则以及参考的国外标准,有利于更加深入地理解和使用GB/T3323—2005和JB/T4730.2—2005标准。 相似文献
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21射线源至工件表面的最小距离21.1对比内容GB/T3323与JB/T4730规定基本相同:所选用的射线源至工件表面的距离f应满足下式要求,即A级检测技术时f≥7.5d·b2/3,B级检测技术时f≥15d·b2/3(d为有效焦点尺寸,b为工件表面至胶片距离)。21.2内容解析(1)JB/T4730比GB/T3323多一项AB级规定,即AB级检测时f≥10d·b2/3。(2)GB/T3323比JB/T4730多一项对裂纹检出的规定,即①用A级技术时,若须检出平面型缺陷,则最小距离fmin应与B级同,以使Ug减半。②对裂纹敏感性大的材料有更为严格的技术要求时,应使用灵敏度比B级更优的技术进行透照。22γ射线照相曝光量22.1对比内容GB/T3323:用γ射线照相时,射线源到位的往返传送时间应不超过总曝光时间的10%。JB/T4730:采用γ射线源透照时,总曝光时间应不少于输送源往返所需时间的10倍。22.2内容解析GB/T3323与JB/T4730基本一致。23散射线控制23.1对比内容GB/T3323提出使用铅光阑和滤板。为减少散射线的影响,应利用铅光阑等将照射线尽量限制在被检区段;采用192Ir和60Co射... 相似文献
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9像质计(IQI)9.1对比内容GB/T3323采用线型像质计和阶梯孔型像质计,引用标准EN462-1《射线照相影像质量第一部分:概念,丝型像质计及像质数值的确定》和EN462-2《射线照相影像质量第二部分:概念,阶梯孔型像质计及像质数值的确定》。JB/T4730.2只采用线型像质计(普通和专用(等径丝)像质计两种)。引用标准JB/T7902—1999《线型像质计》和HB7684—2000《射线照相用线型像质计》以及附录F《专用像质计》。9.2内容解析(1)GB/T3323与JB/T4730.2关于像质计规定的差异在于①JB/T4730.2未采用孔型像质计,主要考虑孔型像质计应用不普遍,推广无必要。②GB/T3323容许使用“射线吸收系数小于被检材料”的像质计,ASME也容许使用比被透照材料射线吸收性能低的合金材料制作的像质计,但JB/T4730.2无类似规定。(2)实际使用时,铁(Fe)像质计可用于镍(Ni)、铜(Cu)材料的照相;不可用于钛(Ti)、铝(Al)材料的照相。(3)JB/T4730适用的厚度扩大到2~400mm,其引用标准JB/T7902—1999规定的金属丝直径范围不能满足要求,故当时引用H... 相似文献