再成形（Re—Balled）焊球阵魏封装的焊球强度评估

近年来,许多国家禁止在电子产品中铅的使用,但是一些特定产品拥有豁免权。拥有豁免权的电子产品生产厂商面临含铅元器件供应缺乏的现状,因此生产厂商开始寻求利用焊球再成形技术把焊球阵列封装中的无铅焊球转变为锡铅焊球。焊球再成形技术曾经被用于元器件的回收再利用．但是关于焊球再成形元器件的可靠性信息十分有限。介绍了利用焊球再成形技术使无铅焊球阵列封装转变为锡铅焊球阵列封装。两种焊球去除方法和两种焊球再贴装方法分别用于实现从无铅焊球到锡铅焊球的转变,用以调查再成形工艺对于封装质量的影响。热时效试验以及焊球强度评估用于检测焊球再成形工艺过程。     

焊球植球凸块工艺的可靠性研究

焊球植球是一种最具潜力的低成本倒装芯片凸块制作工艺.采用焊球植球工艺制作的晶圆级芯片尺寸封装芯片的凸块与芯片表面连接的可靠性问题是此类封装技术研究的重点.为此,参考JEDEC关于电子封装相关标准,建立了检验由焊球植球工艺生产的晶圆级芯片尺寸封装芯片凸块与芯片连接及凸块本身是否可靠的可靠性测试方法与判断标准.由焊球植球工艺生产的晶圆级芯片尺寸封装芯片,分别采用高温存储、热循环和多次回流进行试验,然后利用扫描电子显微镜检查芯片上凸块剖面的凸块下金属层分布和测试凸块推力大小来验证凸块的可靠性.试验数据表明焊球植球工艺生产的晶圆级芯片尺寸封装芯片具有高的封装连接可靠性.     

与无铅焊接工艺匹配的无铅BGA焊盘设计

BGA——阵列封装技术，因其强大的I／O接口优势、生产工艺简单及封装尺寸的小型化，使其在电子工业界的需求不断增加。原来的锡／铅组装工艺、生产及返工／返修工艺己趋成熟，不再是批量生产瓶颈，可谓“Trouble—free，无麻烦”，然而自2006—7—1，环境立法要求电子生产／设备／材料／工艺转向无铅生产，所以BGA器件封装材料、与之匹配的BGA焊盘设计及PCB组装工艺都要逐步满足无铅需求。     

BGA锡球再置可靠性

已有很多关于混合合金焊点的可靠性的文章发表,主要重点放在BGA器件上。乍看起来,这些BGA器件上的混合合金焊点看来有可以接受的焊点强度及可靠性,但工序要求对回流焊工艺和温度曲线有更大的控制。因此,很多制造商以含铅锡球工艺对无铅BGA进行锡球再置,并未更改工序即加工组件。论述了有关经再置锡球的器件的可靠性问题,特别是器件焊盘铜溶解及额外热循环对芯片/封装的影响。     

用于高速光电组件的光焊球阵列封装技术

本文介绍了用于高速光电组件的表面安装型焊球阵列(BGA)封装技术。     

采用锡铅焊膏粘接的Sn—Ag—Cu BGA元件的焊点可靠性

在转向无铅电子产品过程中，元件供应商可能需要支持无铅和合铅元件的双线生产。而这可能合在生产制造中引起广泛的后勤问题。全部使用无铅元件是这个问题的一个解决方法。因此，用锡铅共晶焊膏粘接的Sn-Ag—Cu BGA元件的焊点可靠性需加讨论。在这篇论文中介绍了对两种无铅封装：超细间距BGA(VFBGA)和层叠式CSP(SCSP)的焊点可靠性评估结果，它们是应用锡铅共晶焊膏贴在PCB板上。而这些封装都是采用不同的回流曲线在标准的锡铅组装条件下组装的。采用合保温区或斜升区的热度曲线。回流峰值温度为208℃和222℃。组装后PCB(称为板级)进行温度循环(-40℃—125℃，每个循环30分钟)和落体实验。下面将会详细叙述失效分析。     

用于IC先进封装的邦壮焊球

上世纪末，IC的先进封装所需要的关键结构材料Solder Ball（焊球），在国际市场上出现了供不应求的局面。一外籍人士萌发了一个很好的创意，极力鼓励国内厂家生产。当时，我们通过外国在华分公司进行询价，对63 Sn 37 PbФ0．76mm的焊球，竞报出了120元／K的天价。霸州邦壮电子材料有限公司为顺应我国未来IC新型封装结构的需要，历经数年研究开发了铅锡、铅锡银和无铅的多系列的焊球产品。本文简略地介绍邦壮焊球产品的技术规格、焊球生产的基本工艺路线、生产过程中的质量管理以及国产邦壮焊球所具有的优势。     

CBGA植球在线质量检测与控制技术

文章主要阐述了CBGA（陶瓷焊球阵列封装）植球过程中焊球、锡膏的选择,基板上焊盘镀金层厚度的控制,植球网板与印刷网板的制作,回流工艺的设定,焊球与陶瓷基板黏附质量的无损检测和破坏性检测方法。介绍了CBGA产品植球过程中的在线质量检测与控制,对提高CBGA产品的植球质量、成品率、一致性以及剔除焊球互连中的缺陷,提高产品的可靠性有帮助。     

产品博览

Microchip 提供符合 RoHS 标准的 无铅封装产品 美国微芯科技公司近日宣布,该公司所有的产品自　2005年1月起将采用符合环保要求的无铅焊镀封装,以符合即将在全球范围内实施的政府法规和行业标准。Microchip将采用雾锡(Matte　tin)作为新的焊镀材料,确保所有的无铅产品都能向后兼容于行业标准和锡/铅焊接工艺,并向前兼容用于采用锡 / 银 / 铜等专业无铅锡膏的高温无铅工艺。Microchip计划在2006年前逐步减少锡铅焊镀产品的库存量,并逐渐停止生产该类产品。 德州仪器推出新一代全差动放大器 日前,德州仪器　(TI)　宣布推出业界…     

焊球阵列转变与绝缘基板技术

在半导体整体的焊球阵列封装(BGA)领域,一份针对数个关键封装形式所进行的分析报告中,显示了造成不同焊球阵列封装形式成长或下跌的原因,并更清楚地点出了目前使用的数种基板技术的缺点。这篇分析报告列出了主要的焊球阵列封装的形式和基板发展潮流,还清楚地指出焊球阵列封装整体的发展延缓了硅芯片技术的演进,这在某些BGA领域中尤其明显,主要是因为缺乏先进的基板技术。因此文后得出结论,封装产业供货供应链基板市场中可能出现新的厂商,其也许来自主机板市场。     

Solder Ball Attachment Assessment of Reballed Plastic Ball Grid Array Packages

The ban of lead in consumer-based electronics by many countries has resulted in a dramatic reduction in the availability of electronic components with tin-lead terminations. With the uncertainty associated with lead-free reliability and the issues associated with mixing lead-free solder with tin-lead solder, medical, defense, and aerospace equipment manufacturers are examining and in some cases implementing reprocessing practices to convert lead-free terminations to tin-lead. For area array packages, the practice is referred to as reballing. While reballing has been used for part reclamation, very little information is available on the reliability of reballed parts. This paper presents lead-free ball grid array (BGA) packages subjected to two ball removal and two ball reattachment techniques. Solder attach strength was used as a metric to examine the reballing process. Both the ball shear test and the cold bump pull (CBP) test were used to test solder strength. The impact of isothermal aging was also examined. The solder strength of reballed BGAs remained at the same level when different reballing methods were used and under different aging conditions. The lead-free non-reballed BGAs had higher solder strength and wider strength distribution than reballed tin-lead BGAs. The pull strength increased as the pull speed increased in the CBP test.      

Microstructural Analysis of Reballed Tin-Lead,Lead-Free,and Mixed Ball Grid Array Assemblies Under Temperature Cycling Test

In this study, ball grid array (BGA) packages with Sn-3.0Ag-0.5Cu (SAC305) solder balls were reballed with Sn-37Pb solder balls. Three different reballing methods were used. The non-reballed lead-free BGAs were assembled with SAC305 and Sn-37Pb solder pastes to form the lead-free and mixed assemblies. The reballed Sn-Pb BGAs were assembled with Sn-37Pb solder paste to form the reballed Sn-Pb assemblies. All assemblies were subjected to a temperature cycling test with a temperature range of −55°C to 125°C. For the same component type, the reballed BGA assemblies showed similar temperature cycling reliability regardless of the reballing methods. However, the temperature cycling reliability of the reballed assemblies was worse than that of the mixed and the lead-free assemblies. The mean cycles-to-failure of the mixed assemblies was larger than or equal to that of the lead-free assemblies. Failure analysis revealed that the failure site in reballed Sn-Pb assemblies was located in the bulk solder at the component side regardless of the component type and the reballing method, indicating that the reballing method did not influence the crack propagation in reballed assemblies. The mixed assemblies had the same failure site as the lead-free assemblies, i.e., in the bulk solder at the component side. The microstructure differences between the tin-lead, lead-free, and mixed assemblies are also discussed in detail.     

有铅和无铅混装工艺的探讨

对于高可靠性的产品通常还是采用有铅工艺,但是随着无铅化的深入,对于某些元器件,在市面上已买不到有铅元器件。这就出现了有铅制程下,有铅和无铅元器件混用的现象,那么如何才能同时保证有铅和无铅元器件的焊接质量呢?通过分析元器件引线框架或焊端镀层的成分,结合元器件封装形式来探讨有铅制程下有铅和无铅混装工艺的相关问题及应对措施。     

SMT生产线制程工艺控制细则

从符合RoHS指令及无铅产品可靠性方面考虑,EMS企业最好把无铅制程与有铅制程划分区域、分线进行,但由于资金缺少或有铅产品还占有很大市场份额等种种原因,部分中小型EMS企业不得不采用无铅有铅制程共线的方案.在这种复杂的情况下,为防止有铅产品及其材料对无铅产品造成污染,必须要严格对无铅产品生产过程中的各个工序进行有效控制...     

军用无铅器件组装可靠性分析及对策

无铅焊接技术已经广泛应用于消费类和通讯类电子产品中,但由于其发展时间较短,可靠性仍需进一步研究验证。军工企业出于可靠性的考虑仍旧采用有铅技术,但在实际生产中,不可避免地遇到越来越多的无铅器件。如何在采用有铅制程的情况下焊接无铅器件并保证其可靠性已成为军工单位迫切需要解决的问题。围绕混装工艺的可靠性,详细介绍适用于军工单位的有铅工艺制程焊接无铅元器件的工艺方法和可靠性分析,最终结合工作实际给出较为完整的应对策略。     

有铅和无铅BGA混装工艺研究

分析比对了有铅和无铅两种焊料的不同温度特性。针对军工产品经常面对的有铅和无铅BGA同时组装在一块印制板上的情况,提出了有铅和无铅BGA混合组装的工艺难点。通过工艺试验列举了混合组装中各个环节所应注意的要点,强调要加强过程控制。最后利用各种可靠性试验和分析证明了混合组装焊点的可靠性。     

电子封装无铅化趋势及瓶颈

欧盟通过法令限制电子用品中铅等有害物质的使用,含铅电子产品不久将退出市场,电子封装的无铅化已成必然趋势。焊料的无铅化是无铅封装的关键,目前无铅焊料的研究集中在Sn基焊料和导电胶粘剂两个方向。文中介绍了三种典型无铅焊料体系的不足之处,以及银导电胶研究中的三个难题。另外,关于无铅焊料还没有一个统一的标准。     

Research concerning the separation and recovery of used printedwiring board solder

In recent years, with industries becoming more concerned about environmental problems, there has been a noticeable move toward regulating the use of lead in Europe and other regions. In line with this, there has been an increase in research concerning lead-free solder and its use as a substitute for regular solder. However, even if lead-free solder is used in newly developed products, products already on the market will still incorporate regular solder. This paper reports the results of tests using experimental equipment to verify a method of separating and recovering solder from the printed wiring boards (PWBs) of products to be scrapped     

军工电子元器件混装工艺的应用研究

在国内外"绿色制造"的要求下,电子产品无铅化的推行愈演愈烈,诸多行业基本实现电子产品的无铅化。但是军工、航天以及医疗等领域基于高度可靠性的要求,仍然采用了有铅制程下的电子装联技术,而无铅元器件的广泛覆盖,使得实际生产过程中出现有铅元器件、无铅元器件混装的现象,本文将针对混装工艺的可靠性展开分析,并针对相关问题制定解决措施。