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激光多普勒技术与直线度测量 总被引:1,自引:0,他引:1
在三坐标测量机(CMM)及精密加工机床等设备的高精度测量中,主轴及导轨的直线度、水平或竖直偏摆角的测量是相当重要的。在过去,这类机器的直线度的测量,大部实现起来比较困难,或者精度很低且费时。这里我们将介绍一种直线度测量的新方法,采用双光束系统的激光多普勒测量仪(简称LDDM),通过测量每一点的偏摆角,并按一定的准则计算出直线度。下面将分别简述有关的原理、精度及与其它测量方法相比较的优越性.由于这种测量技术可以对位移和角度进行同时测量,使得直线度实现了在线测量,这就为三维坐标测量仪器的精度拟合及代替线性编码器进行位置和直线性的标定提供了简易高效的新方法. 相似文献
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比较桥板法测量平尺直线度误差的方法和一种新型的自动测量方法,指出了桥板法测量的缺点,分析了自动测量的检测精度优势和实时采集数据计算优势,并通过实例计算来比较两种测量方法的精度,为平尺直线度误差测量提供了一种创新思路。 相似文献
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比较桥板法测量平尺直线度误差的方法和一种新型的自动测量方法,指出了桥板法测量的缺点,分析了自动测量的检测准确度高和实时采集数据计算的优势,并通过实例来比较两种测量方法的准确度,为平尺直线度误差测量提供了一种创新思路。 相似文献
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利用分段拼接测量方法能够将PSD激光准直测量系统测量范围扩大,相较于传统长导轨直线度测量方法,该方法可同时适用于连续型导轨和分离式超长导轨的直线度测量。首先,在(-5~+5) mm测量范围内,通过激光干涉仪分别测得激光准直测量系统的接收靶在水平和竖直方向上的位移,误差均优于±(1μm+1%H)。然后,在40 m范围内与激光准直测量系统的直线度测量精度进行对比,二者水平方向直线度误差相差0.06 mm,竖直方向直线度误差相差0.13 mm。最后,在70 m分离式超长导轨上,测得水平方向直线度为0.50 mm,竖直方向直线度为0.53 mm。该方法可迅速定位和调整直线度误差极值点位置,能够较为有效地解决分离式超长导轨的直线度装配调试问题。 相似文献
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本文依据标准的单模光纤模场直径(MFD)刀口测量方法,提出了一种新颖独特的双刀口法测量方案并在实验室实现.此方法最突出的优点是:测量操作方便,简洁,可以实现全自动,测量精度相当高. 相似文献
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研磨平尺直线度测量方法的探讨李俊(青海省计量测试研究所)用准直仪测量平直度,在平板、平尺及有平直度误差要求的零件中,已得到广泛的应用。它可以测量零级以下精度要求的平直类量具,其特点是:测量方法简单、迅速,能比较准确地测量出平直度误差。对于研磨平尺这类... 相似文献
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齿轮误差单面啮合运动测试技术的展望 总被引:3,自引:0,他引:3
本文将齿轮测试技术划分为啮合运功法和点轨迹法后,回顾了单面啮合运动法的发展过程,突出介绍了我国齿轮工乍者的研究成果.最后通过啮合运动法特点分沂,指出在线和临床测试是它的一个发展方向. 相似文献
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本文论述了现代测试系统在研制过程中的仿真研究 ,为测试系统的性能指标和研制方案的可行性论证提供了有力的依据。 相似文献
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The effects of off-focusing and beam deflection on polarimetric stress measurements of optical fibers are investigated. A simple method for reducing the distortion of the phase retardation caused by unwanted beam deflections in residual stress measurement is introduced. The method is examined numerically by ray-tracing techniques and experimentally by use of hollow silica fibers into which various index-matching liquids have been inserted. An autofocusing technique is introduced. The error in stress measurement reproducibility was determined to be less than 4%. We tested the absolute error in measured stress by applying incremental external tension and determined that it is less than 0.464 MPa. 相似文献
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A portable ellipsometer with a compact static polarimeter using an arrayed polarizer, an arrayed wave plate, and a CCD image sensor is developed. A high level of repeatability at a measurement speed of 0.3 s is demonstrated by measurement of SiO(2) films ranging from 2 to 300 nm in thickness deposited on an Si wafer. There is the potential to realize an ultracompact ellipsometer module by integrating the optical source and receiver, suitable for deployment in a variety of manufacturing equipment and measurement instruments. 相似文献
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Kasper M Fedrigo E Looze DP Bonnet H Ivanescu L Oberti S 《Journal of the Optical Society of America. A, Optics, image science, and vision》2004,21(6):1004-1008
We present a new method of calibrating adaptive optics systems that greatly reduces the required calibration time or, equivalently, improves the signal-to-noise ratio. The method uses an optimized actuation scheme with Hadamard patterns and does not scale with the number of actuators for a given noise level in the wavefront sensor channels. It is therefore highly desirable for high-order systems and/or adaptive secondary systems on a telescope without a Gregorian focal plane. In the latter case, the measurement noise is increased by the effects of the turbulent atmosphere when one is calibrating on a natural guide star. 相似文献