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红外系统中的扫描型和凝视型FPA 总被引:5,自引:1,他引:4
红外探测器是红外系统的核心器件,第二代红外探测器就是FPA。由于红外系统的任务和FPA的特点、技术、价格等原因,FPA的发展既有与IC发展类似的规律,又有其自身发展的 特殊性。通过对制冷的扫描 型和凝视型FPA的分析和比较,认为在今后FPA的发展中,这两种FPA将并行发展,以为凝视型FPA要代替扫描型FPA的看法可能是过于简单了。 相似文献
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红外凝视成像系统中的光学微扫描技术 总被引:3,自引:2,他引:3
简要介绍了国内外微扫描技术研究情况,讨论了用于凝视焦平面探测器的微扫描技术原理和分类,按伺服电机驱动和压电陶瓷驱动两种形式,分析了微扫描技术的原理、结构和信号读出方式,最后总结了微扫描技术的优点. 相似文献
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本文首先论述了机械扫描成象系统的局限性,以至于使目前的扫描成象系统性能受到了很大的限制,特别是红外成象系统的快速性受到了极大的制约。文章中讨论了凝视红外成象系统的概念和有关性能的数学表达式以及在信息处理方法上的可能变化;并对如何利用现有的技术,发展凝视系统提出了初步设想。最后指出,为了研制凝视系统,应该预先开展哪些技术的研究。 相似文献
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基于两点法的实用FPA非均匀性校正系统 总被引:1,自引:0,他引:1
红外焦平面器件的非均匀性已经成为制约红外成像质量的主要问题,通过对凝视型和扫描型FPA器件成像特点的分析,综合几种校正技术,认为两点法是目前最实用的处理方法.本文从探测器数据采集、校正处理以及应用出发,搭建了实用的FPA非均匀性校正系统,实验证明该系统满足了实际应用要求. 相似文献
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凝视红外成像技术是凝视红外成像制导武器中的一项新技术,凝视红外成像制导武器的成像系统在性能指标和使用环境方面与一般的热像仪存在差别。文中对凝视红外成像系统的技术特点进行了分析,给出了影响凝视红外成像制导武器成像性能的因素,对主要性能指标进行了分析,提出了凝视红外成像制导武器成像性能的指标体系。在指标体系中提出了环境条件、大气传输模型等约束条件,同时考虑制导武器的实际使用需求,将作用距离指标拓展到指标体系中,为系统设计、测试与评价提供依据。 相似文献
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凝视型红外焦平面组件的军事应用 总被引:4,自引:3,他引:4
随着军事技术的发展,对用于侦察和制导的红外探测 器的要求也越来越高。目前,红外探测器已发展到了第三代--红外焦平面列阵。文中着重讨论了凝视红外焦平面的概念,并介绍了其与机械扫描系统相比应用于军事目的的优点,如提高了信噪比和热灵敏度、结构紧凑、更好地发挥探测器的快速 性、易于信号处理和可批量生产等。针对各个波长范围内的应用情况,对如何利用现有技术发展红外凝视系统提出了几点建议。 相似文献
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英国QinetiQ公司为英国国防部研制了一种海上红外搜索与跟踪(IRST)演示器。该系统使用两台凝视型红外摄像机以及能够分裂视场的光具以便对地平线进行全景跟踪。同现有的扫描型红外搜索与跟踪系统相比,使用凝视型探测器的红外搜索与跟踪系统具有更高的灵敏度和追踪速率。演示器配备的是已成商品的640×512元中波红外探测器,但它在将来也可接纳1024×768元的探测器。演示系统装有一种特殊的可变换滤光片以便根据主要的环境状况选择最佳的工作波段,并装有一种光束转向器以利于非均匀性校正和图像的稳定。利用现场可编程门列阵(FPGA)和用于探测和跟踪的PowerPC硬件,演示系统已实现了实时数据处理。本文描述凝视型海上红外搜索与跟踪系统并介绍其一些输出图像。 相似文献
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介绍了红外焦平面(简称FPA)探测器黑体探测率Dbb的定义和测试方法,比较了用点黑体辐射源和面黑体辐射源的对FPA探测器的响应率Rbb测试结果,讨论了FPA探测器的伏安特性对信号输出的影响. 相似文献
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Status of LWIR HgCdTe-on-Silicon FPA Technology 总被引:1,自引:0,他引:1
M. Carmody J.G. Pasko D. Edwall E. Piquette M. Kangas S. Freeman J. Arias R. Jacobs W. Mason A. Stoltz Y. Chen N.K. Dhar 《Journal of Electronic Materials》2008,37(9):1184-1188
The use of silicon as an alternative substrate to bulk CdZnTe for epitaxial growth of HgCdTe for infrared detector applications
is attractive because of potential cost savings as a result of the large available sizes and the relatively low cost of silicon
substrates. However, the potential benefits of silicon as a substrate have been difficult to realize because of the technical
challenges of growing low-defect-density HgCdTe on silicon where the lattice mismatch is ∼19%. This is especially true for
long-wavelength infrared (LWIR) HgCdTe detectors where the performance can be limited by the high (∼5 × 106 cm−2) dislocation density typically found in HgCdTe grown on silicon. The current status of LWIR (9 μm to 11 μm at 78 K) HgCdTe on silicon focal-plane arrays (FPAs) is reviewed. Recent progress is covered including improvements in noise
equivalent differential temperature (NEDT) and array operability. NEDT of <25 mK and NEDT operability >99% are highlighted
for 640 × 480 pixel, 20-μm-pitch FPAs. 相似文献
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晶体硅中缺陷和沉淀的红外扫描仪研究 总被引:2,自引:0,他引:2
晶体硅中的杂质或缺陷会显著地影响各种硅基器件的性能.通过红外扫描仪观察晶体硅中的晶界、位错和不同金属沉淀的分布和形貌,并分析其相关信息.与传统研究手段相比,红外扫描仪不仅可以直接观察到体内的缺陷或沉淀,而且不会破坏样品. 相似文献