单跳变敏化

出于定量地测量被测通路的传输延迟的考虑 ,文中提出一种基于波形敏化的“单跳变敏化”的概念 ,对波形敏化与传统的通路敏化的区别 ,以及基于波形敏化的单跳变敏化的特点进行了分析 ,并利用带时间参数的测试产生系统 DTGWTP[7] 取得了单跳变敏化的实验结果 .利用单跳变敏化在目标通路的原始输出线上输出单跳变的特点 ,可以进行时延故障诊断 .实验数据表明 ,单跳变敏化的覆盖率远远高于单通路敏化的覆盖率 ,从而能够给时延故障诊断提供更多的有用信息     

微机控制时间继电器参数测试系统

本文介绍一个以APPLE—I兼容微机系统为测控核心的时间继电器参数自动测试系统的硬件、软件设计和工作原理。该系统只需输入被测试品的型号规格就能自动完成10个被测件的延时值及其重复动作误差、电源波动误差的同时测试,并进行数据统计、质量评判和结果打印。整个测试系统采用总线式结构,具有结构简单,便于维护,工作稳定可靠的优点。     

针对串扰引起的时延故障的测试产生

串扰的出现可能会导致电路出现逻辑错误和时延故障．因此,超深亚微米工艺下,在设计验证、测试阶段需要对串扰问题给予认真对待．由于电路中较长的通路具有较短的松弛时间,因此容易因为串扰问题产生时延故障．针对这类故障给出了一个考虑较长通路上串扰现象的时延故障测试产生算法,该算法采用了波形敏化技术．实验结果表明,采用文中的技术可以对一定规模的电路的串扰时延故障进行测试产生．     

一种基于混沌搜索的IDDT测试产生算法*

针对瞬态电流测试提出了一种测试产生算法。该算法利用改进FAN算法的反向蕴涵部分激活故障并将测试向量空间映射到混沌空间,采用混沌搜索来确定未确定的测试向量位。模拟实验结果表明,将这种方法用于瞬态电流测试产生是可行的。     

分离器分离参数测试系统

介绍了一种分离器分离参数测试系统,该系统通过光电检测方法,利用高速数据采集卡和高精度传感器对分离器的分离冲量、预紧力和分离时间进行测试.介绍了硬件结构和软件设计.实际运行测试表明,该分离器特性参数测试系统工作稳定,可靠性高,整体技术性能满足设计要求.     

一种低成本的测试码自动产生算法

为了降低超大规模集成电路（ＶＬＳＩ）测试中的测试产生和测试应用代价，本文提出了一种低成本的测试码自动产生算法－临界路径跟踪测试产生（ＣＰＴＴＧ）。本文主要从算法的搜索策略、扇出源的临界性确定及测试产生过程中的加速技术三个方面，介绍ＣＰＴＴＧ的主要思想和关键技术。文中给出了ＣＰＴＴＧ对国际通用的１０个组合电路范例的实验结果，表明了ＣＰＴＴＧ可以在较短时间内获得具有较高故障覆盖率的较小测试集。     

在LINUX下测试图形的产生

文章阐述测试图形生成器及其在ＬＩＮＵＸ下的运行，ＴＰＬＰｒｏｇ是电子部支持的八五攻关课题，集成电路ＣＡＤ／ＣＡＴ工程之一的子项目，它运行于ＳＵＮＳｐａｒｃ２的ＵＮＩＸ下，是为用户开发测试图形服务的一个集成开放式环境，ＬＩＮＵＸ是国际互联网上ＵＮＩＸ的仿制品，文章详述了ＴＰＬＰｒｏｇ移植到ＬＩＮＵＸ的技术实现，从而论证建立“测试中转工作站”实现中小ＩＣ用户共享中高级测试设备的可能性。     

如何测试软硬盘驱动器参数

随着ＰＣ机硬件的高速发展，各种应用软件对外设的要求也不断提高，这使有些软件的设计者在开发软件时有必要对主机的配套设备进行检查，以便能更好的充分利用这些设备。如对处理器ＣＰＵ、协处理器及驱动器的检测等。ＣＰＵ及协处理器的测试方法已有不少文章论述过，而很少对驱动器测试的论述，本文介绍了如何测试驱动器与读取硬盘参数，并给出此相应的子程序源码。读者可根据自身需要将其变成一独立之程序，也可将其加入到自身的应     

变压器参数微机测试系统

本文按《变压器试验导则》的思路叙述了变压器试验的硬件设备，按测试过程叙述了软件系统的设计，并介绍了采用微机测试变压器的整个过程，最后举例说明了两个测试项目，比较发挥微机的优势后所具有的自动测试特点。     

结构测试中的路径产生

通常在结构测试的过程中首先就是测试路径的产生，接着是生成指定路径的测试用例。文章阐述了一种路径产生的方法，重点讨论了控制关系和非约束边集合在路径产生中的作用。     

加速路径时滞故障的强健测试产生

探讨如何利用针对固定型故障测试产生的比较成熟的算法，结合时滞故障的特点，进行路矩时滞故障的强健测试产生，在十值逻辑完备的基础上，提出最大输入组的概念，减少测试过程中不完善和重复的选择；给出多路回退过程中的目标传播规则，以减少传播过程中的目标个数，加快回退速度；改进了路径敏化方法，强调了对局部结果的保存和利用，减少重复计算，探讨了时滞测试中ＸＯＲ／ＮＸＯＲ门的直接处理方法，在ＦＡＮ算法基础上，实现了     

一个有效的通路时滞故障测试生成系统DTPG

本文提出了一种两向量测试模式下的通路时滞故障分类，并在此基础上设计并实现了一个有效的通路时滞故障测试生成系统ＤＰＴＧ，该系统可识别强健可测通路、非强度可测通路和功能可敏化 通路。     

线性时滞系统依赖于时滞的H~∞状态反馈控制

对具有纯滞后输入的线性时滞系统 ,在系统的状态时滞与控制输入时滞不同时 ,研究了依赖时滞的 H∞ 状态反馈控制器设计问题 ,其控制器存在的充分条件由一个线性矩阵不等式 (L MI)的形式给出 ,并给出了相应的 H∞ 控制器的综合设计方法     

UML statecharts的测试用例生成方法

测试用例生成是软件测试的关键。根据UML statecharts的层次和并发结构,研究相应的测试用例产生方法。它视复合状态为抽象状态,分别构造主UML statecharts和复合状态所对应的子UML statecharts的测试基,并依据一定的合成规则和Wp－方法生成整个UML statecharts的测试用例。这种方法能够支持递增式测试用例的生成。理论和实验结果说明,如果满足测试条件,它们保证全故障覆盖,且产生较好的测试用例。这种改进对大型复杂系统尤其有效,也便于构造自动测试工具。     

不确定LTI-SISO系统的低通滤波时滞观测器控制

合理利用时滞可能获得意想不到的性能.研究表明,系统的不确定性以及受到的外部干扰可以利用时滞观测器来进行观测,从而实现系统的鲁棒控制.本文提出了一种低通滤波时滞观测器.避免了常规时滞观测器控制中出现的控制信号颤振,得到了一种结构新颖的控制器.仿真结果表明时滞观测器控制系统可以很好地抑制系统的不确定性以及受到的外部干扰,是一种性能优良的鲁棒控制方法.     

SQL测试用例集的自动生成

编写SQL语句是测试数据库管理系统的一个重要部分。自动生成SQL语句可以有效减少测试人员的工作量,而目前没有直接生成SQL语句的自动化工具。通过模拟产生式的直接推导过程,根据SQL文法,给出生成符合该文法的SQL语句,用作测试用例的方法;研究从表示文法的BNF文件生成SQL测试用例集合的自动化过程。这个过程包括几个阶段:将SQL文法的每一个非终结符转换成一个对应的解析函数,所有解析函数的集合构成规则库;遍历文法的产生式自动生成SQL测试用例;使用权值数组结合随机数,加大生成测试用例的灵活性;使用非终结符的最大调用次数来终止SQL测试用例的生成。通过介绍的工具原型,可以得到符合SQL语法的SQL测试用例。     

基于Z规格说明的软件测试用例自动生成

提出了一种基于Ｚ规格说明的软件测试用例自动生成方法,通过对软件Ｚ规格说明的分析,找出描述软件输入、输出约束的线性谓词,经过经性谓词转换,线性谓词到线性不等式组的转换,找出区域边界顶点和边界附近的测试点等过程自动生成测试用例。同时还介绍了基于Ｚ规格说明的软件测试用例自动生成方法的实例,并通过一个实例进一步加以说明。     

同步时序电路测试生成研究

本文分析了固定故障所反映出的状态变换特征，提出状态变换故障模型。基于无复位时序电路，详细研究了有复位的同步电路测试生成问题及在无复位电路中的应用。最后讨论了故障精简以及启发知识在测试过程中的应用。     

测试集自动生成方法中的可执行化研究

自动生成的测试集是可执行的才具有实用意义。讨论了在测试集自动生成系统TUGEN中实现的参数化可执行化算法。分析了该算法的效果,不足及其原因;讨论了可执行化处理中所涉及谓词可满足性问题的复杂度和测试路径可执行性问题,并在此基础上进一步提出并实现了“可执行参数”的算法,克服了前一算法的不足,提高了TUGEN的实用性和执行效率,在进行了讨论分析后,以实例进行了对比和说明,并对今后的研究方向进行了展望。