第二专题 清晰度与钢丝影象

1 清晰度的定义 影象要能被识别的必要条件除了影象与背景之间要有一定的对比度即黑度差之外,还必须具有一定的黑度梯度。如果影象与背景之间的黑度变化是平缓过渡的,即黑度梯度极小的情况,则不管存在多大的黑度差,人们终究看不出影象的轮廓。一旦该黑度梯度增大到某一程度,人们就能开始看出影象周围模糊的边界。黑度梯度越大,人们看到的轮廓就越清晰。因此所谓的清晰度在物理本质上就是指影象与背景之间的黑度梯度。     

散射线影响对比度还是清晰度

1 问题和经验有人提出:散射线既影响射线照相对比度,也影响射线照相清晰度.理由是有散射线灰雾的底片总是给人以不明快,不清晰的感觉.例如:用“散片搭接法”对厚壁容器环焊缝作周向曝光后,在观片灯屏上可发现每张底片总有一头在相邻两片搭接部分,其焊缝和缺陷影象“清晰度”要高于非搭接部分,就是由于搭接处有三层铅箔对散射线起强滤波作用,实际是散射比降低,对比度上升了,但感觉是影象清晰度提高了.还有,探伤工艺理论也指出:当影象处于临界可见度时,不清晰度U会影响对比度C,即     

散射线是影响对比度还是清晰度

本文通过实验引证和推理分析，指出射线照相中的散射线主要是影响射线照相对比度而不是清晰度。     

射线照相缺陷测高——理论与实践的最新进展 第一部分 缺陷对散射线和对比度的影响

提出根据一次曝光在单张射线底片上的缺陷影像对比度来测定缺陷自身高度的方法。这里先讨论缺陷测高的理论基础——缺陷深度位置和缺陷大小对散射线强度乃至射线照相对比度的影响     

射线照相对比度公式的研究及应用

在射线照相检测中，保证射线照相的影像质量达到一定的水平，这是射线照相原理在检测实践中得以物化的前提和基础。在目前的理论和实践中，射线照相检测的影像质量一般认为由三方面组成，即对比度、不清晰度和颗粒度。其中，射线照相对比度是最重要也是最基本的概念。     

第一专题 对比度与半值层

射线照相是一种十分普遍的无损检测方法。随着科学技术的进步,X射线实时成象检验系统在工业中的应用也越来越多。怎样获得优质影象以确保探伤灵敏度,始终是每个射线检测人员关心的课题。 有关文献中虽说射线照相的灵敏度是由影象的对比度和清晰度共同决定的,但只是深入研究了对比度,而清晰度却从来没有被严格定义过,更谈不上有什么数学公式可供计算。即使如此,对比度的研究还是没有完全脱离窄束X射线模式的影响,只是在窄束X射线情况的基础上加些修正后去解释射线照相检验中宽束X射线所得的结果。理论和现实的差距是明显的。 为了研究的需要,把清晰度定义为影象与背景之间的黑度梯度,并为透度计钢丝和测试分辨力用的光栅建立了成象数学模型,编制了计算程序。结合不同的射线源和试件的照相实例,把理论计算结果和实际视觉效果相对照,寻找出适应探伤要求的对     

第一讲射线照相检验技术的基础

1　射线分类和射线衰减规律1 .1　概述射线按其产生和特点常分为二类 :电磁辐射和粒子辐射。虽然 X射线、γ射线产生的机制不同 ,能量也可以不同 ,但它们的量子都是光量子 (光子 ) ,都是电磁辐射。而 α粒子、电子、中子和质子等都是粒子辐射。电磁辐射通过光量子和物质相互作用。光量子不带电 ,在与物质相互作用过程中 ,光量子的能量转移给物质原子的电子或转化为其它粒子。在与物质原子的一次碰撞中 ,损失其大部分能量或全部能量。在穿过物质时 ,其强度按指数规律减弱。对一定能区的电磁辐射 ,与物质的相互作用主要有光电效应、康普顿效…     

射线照相缺陷测高——理论与实践的最新进展

提出根据一次曝光在单张射线底片上的缺陷影像对比度来测定缺陷自身高度的方法。这里先讨论缺陷测高的理论基础——缺陷深度位置和缺陷大小对散射线强度乃至射线照相对比度的影响。     

对σ的意义与作用的再认识

1 σ的影响因素射线照相对比度修正系数σ是日本学者仙田富男首先提出的,80年代初被介绍到国内。多年来,这一参数除了在论述射线照相对比度公式面ΔD=-0.434μγΔT/(1 n)时提及外,有关研究和应用时均很少见。σ的推导过程比较复杂,概念本身也比较难理解,对σ的认识也不尽统一。此外,影响σ研究和应用的原因还有两点:(1)国内有些学者认为“σ实际上反映的是几何不清晰度对小细节射线照相影象的对比度的影响”,这种看法使σ丧失了独立的意义与作用。因为既然是几何不清晰度的影响,那么就不必专门研究,结果是σ被轻易扬弃了。     

数字射线照相法现状评述

概述和简析三种数字射线照相技术的基本特点和方法要点，凸现其相对于传统的胶片法射线照相技术的各种优点，并展示其在工业上的应用前景，以期该新技术在国内迅速推广。     

第四专题 双壁双影照相条件

1 双壁双影照相术的关键对于外径≤89mm(即3.5in.)钢管对接环缝射线照相时常常采用双壁双影的照相方法.众所周知,双壁双影照相时管子各部分的实际透照厚度变化幅度特别大.中心部分的透照厚度是个极小值,等于管子壁厚T的两倍(如果焊缝的余高不等于零,则还要加计余高);射线与管子内壁相切方向上的透照厚度最大;再往外,透照厚度迅速减小到零.透照厚度的大幅度变化必然导致焊缝影象黑度的大幅度变化.对管子环缝的照相胶片,首先要问黑度适宜的有效评定范围到底有多大?在大多数情况下,认为相隔90°的两次双壁双影照相即能实行对整圈焊缝的检验,换句话说,每次照相的有效评定范围应该不少于1/2周.     

第十二讲射线照相检验中的计算问题

1　概述在射线照相检验的培训教材中 ,所设计的计算问题大致可归纳为以下几类 :(1 )基本理论和概念计算　包括射线衰减规律计算、放射性衰变规律计算和求散射比 (综合性题 )的计算。(2 )曝光量计算　包括由曝光因子直接求曝光量或曝光时间、由曝光因子结合胶片感光特性曲线求曝光量或曝光时间、由曝光因子结合放射性衰变规律求曝光量或曝光时间和由曝光量波动结合胶片感光特性曲线作曝光量或曝光时间修正。(3)影象质量问题计算　包括求黑度、灵敏度、对比度、缺陷尺寸以及影象对比度比的计算。(4)胶片感光特性曲线与曝光曲线结合计算　包括…     

数字射线检测技术专题(三)——成像过程基本理论

从一般的成像概念,介绍了成像过程的卷积理论和空间频域分析傅里叶变换方法,给出了调制传递函数概念和瑞利判据,并讨论了射线检测的不清晰度与系统扩散函数关系。     

浅谈CR检测中的分辨力与分辨率

现行CR检测标准中涉及多个有关分辨力和分辨率的术语,如分辨力、分辨率、图像分辨率、系统分辨率和扫描分辨率等,容易混淆。通过理论分析、试验和实际应用几个方面入手,阐明其间的内在联系和区别,以为从业人员学习与应用CR检测技术提供帮助。     

X射线非晶硅面阵探测器B级像质的研究

基于非晶硅面阵探测器的检测技术代替胶片成像已成为今后射线检测的发展方向。尽管该方法优点众多,但在需求多变的工业射线检测中,其成像质量无法达到胶片B级的像质。以PaxScan系列非晶硅面阵探测器为例,通过分析影响成像质量的原因和探测器性能,确定最佳成像的实验条件,对系统成像进行预处理和后续处理后,成像质量明显提高。实验证明,信号处理后的成像对比度优于B级成像,并在某航空发动机叶片的工业在线检测中取得了较好的效果。     

“射线照相检验技术最佳黑度”的错误

从识别细节的最小黑度差理论和射线标准的有关规定,讨论了一些教材中普遍存在的关于最佳黑度叙述的错误。