烧结时间对羟基磷灰石靶的影响

为研究烧结时间对羟基磷灰石靶的影响规律,把纯度为99%的羟基磷灰石粉末压制成圆盘形靶后,在氩气中保持800℃恒温分别烧结12小时、16小时、20小时和24小时。用X射线衍射仪和X射线光电子能谱仪对不同时间烧结的羟基磷灰石靶进行检测。检测结果表明：烧结时间对羟基磷灰石靶的结晶度和组成元素种类没有显著影响,但对钙磷比值有显著影响。烧结时间从12小时增加到20小时,Ca/P比值增大;从20小时增加到24小时,Ca/P比值反而减小。20小时800℃高温烧结的羟基磷灰石靶将具有更好的生物相容性和稳定性。     

烧结温度对羟基磷灰石靶的影响

为研究烧结温度对羟基磷灰石靶的影响规律,把纯度为99%的羟基磷灰石粉末压制成圆盘形靶后,在氩气中分别在600℃、700℃和800℃高温下进行烧结。用X射线衍射仪和X射线光电子能谱仪对未烧结和不同温度下烧结的羟基磷灰石靶进行检测。检测结果表明：烧结温度对羟基磷灰石靶的结晶度和组成元素没有显著影响。但是随着烧结温度的升高,羟基磷灰石靶的平均粒径和钙磷比值都增大。800℃高温烧结的羟基磷灰石靶将具有更好的生物相容性、生物活性和稳定性。     

羟基磷灰石-钛界面的HREM观察

在生物医学上，羟基磷灰石［Ｃａ１０（ＰＯ４）６（ＯＨ）２］具有卓越的生物相容性，特别是在骨和牙齿的植入上是一种重要的陶瓷材料。其组成接近自然骨的组成，能与自然骨形成良好的结合。但是陶瓷的脆性和力学性能差的特点又限制了它的深入应用［１，２］。金属钛及其...     

用于氮化铝陶瓷高温烧结设备的设计与验证

针对以“新基建”为代表的通信领域对高功率、高性能微波组件的需求,阐述了氮化铝陶瓷基板的优点和工艺复杂性。基于此,开发了高温烧结设备,进行氮化铝陶瓷高温烧结工艺试验,分析了烧结温度及时间、升降温速率、气体流量及炉体压强等因素对高温烧结产品性能的影响。     

脉冲激光沉积羟基磷灰石薄膜的研究现状

羟基磷灰石(HA)具有优良的生物相容性,被用作植入体涂层材料广泛应用于整形外科、神经外科和牙科方面,利用脉冲激光沉积(PLD)技术制备的HA薄膜具有高的结晶度和结合强度,受到人们的关注。综述了PLD技术制备HA薄膜的研究现状,系统地阐述了沉积过程中工艺参数对薄膜性质的影响,包括靶材的性质、气氛、衬底温度、激光波长和能量密度、缓冲膜等,分析了薄膜的力学特性和生物活性,展望了该项技术的应用前景。     

在烧结氧化中Se气氛对真空微电子平板摄像管CdSe靶面性能的影响

CdSe是研制高灵敏真空微电子平板摄像管光导靶材材料，在CdSe靶材的结晶过程中Se氛对形成完整的晶格结构起了至关重要的作用。介绍了精确控制Se气氛的实验装置和Se气氛对CdSe光导靶性能影响的实验结果。     

反应温度对合成纳米羟基磷灰石粉体的粒度和相结构的影响

采用化学沉淀法在Ca（OH）2／H3PO4／H2O体系下合成了纳米羟基磷灰石（HA）粉体,研究了影响纳米羟基磷灰石生成的重要参数——反应温度对粒度和相结构的影响,用FT-IR、XRD、TEM等对HA的粒度、相结构和形貌进行了表征。结果表明,反应温度不仅影响纳米卧粉体的粒度、结晶度,而且影响纳米结晶的生长习性。在25％。90℃范围内合成了纳米HA粉体,随反应温度的提高,纳米羟基磷灰石颗粒的结晶尺寸呈先增加后减小的趋势,形状由针状变为短棒状。     

基于羟基磷灰石的QCM湿度传感器研究

随着物联网信息化技术的发展,湿度传感器检测精度的要求越来越高,研究具有更好湿敏特性的材料变得日益重要.采用溶胶凝胶法制备了一种具有均匀棒状结构、绿色无毒的羟基磷灰石纳米材料,并将其负载在石英晶体微天平(QCM)上,构筑了高稳定性和敏感性的湿度传感器.通过测量QCM的共振频移,研究了所构筑传感器的湿敏特性,其共振频移源于...     

纳米羟基磷灰石/聚酰胺复合材料人工肱骨头柄界面成骨的实验研究

目的:探讨纳米羟基磷灰石/聚酰胺复合材料的人工肱骨头柄界面结合能力。方法:新西兰大白兔20只,行nHA/PA人工肱骨头置换术。术后3、6、12、24周分别处死动物。标本进行X线,组织学及计算机图象分析。结果:X线观察可见各期假体柄表面周围界面模糊,密度随时间增加,各周肱骨头假体无碎裂。组织学观察术后3周,围绕假体形成的界膜组织中可见成骨细胞呈镶边状排列,大量成纤维细胞、间充质细胞、成骨细胞浸润;随着时间的延长,界膜中纤维组织逐渐由类骨质代替。骨组织结合率:3周组<6周组<12周组<24周组(P<0.05),其中12周组和24周组更高达91%、97%。结论:nHA/PA植入体柄具有一定的界面骨结合能力。     

热处理对脉冲激光沉积羟基磷灰石薄膜组织和性能的影响

利用脉冲激光沉积技术在Ti6Al4V(TC4)合金表面制备了羟基磷灰石(HA)薄膜,研究了退火温度对薄膜组织和性能的影响。采用扫描电子显微镜(SEM)、能谱仪(EDS)、X射线衍射(XRD)和傅里叶红外光谱(FTIR)等分析手段对热处理前后薄膜的表面形貌、成分和组织结构进行了分析;采用轮廓仪、接触角测量仪分别对热处理前后薄膜的表面粗糙度和润湿性进行了测量。实验结果表明,利用脉冲激光沉积技术制备的HA薄膜致密、无缺陷,主要由非晶相组成。热处理后的薄膜结晶度提高、表面粗糙度增大,Ca/P比更接近于HA,具有更好的表面亲水性。但是过高的热处理温度(700℃)会导致薄膜中微裂纹的出现。     

红外高温目标自动追踪系统的设计

目前市场上能进行红外高温目标追踪的产品较少且大多只具有测温功能,远不能满足各种应用需求.提出了一种可对高温目标进行实时跟踪的红外高温目标自动追踪系统,并详细介绍了其硬件总体设计、软件总体设计和算法原理.测试结果表明,该系统不仅能够较好地实现红外图像显示,而且还能对高温目标进行精确测温和实时自动追踪.     

低温烧结0.5CaTiO3-0.5CaTiSiO5高频介质陶瓷

对添加2ZnO-B2O3玻璃实现0.5CaTiO3-0.5CaTiSiO5 高频介质材料900℃下低温烧结进行了系统研究。实验结果表明:添加质量分数为5%~10% 2ZnO-B2O3玻璃可使体积密度达到0.5CaTiO3-0.5CaTiSiO5理论密度的97%以上,且介电性能优异,r = 58~76,tg? 3.3?04,= (329~472)?06/℃,? 1012 cm。利用XRD、SEM和介电测量技术分析材料的晶相组成、显微结构和介电特性发现:材料由三种晶相组成,分别是单斜型CaTiSiO5、正交型CaTiO3以及一个新相,新相的生成可能是在液相烧结后期2ZnO-B2O3 玻璃在晶界处结晶而形成,低温烧结0.5CaTiO3-0.5CaTiSiO5 介质材料的介电性能很好地遵循李氏对数混合法则。     

低温烧结平面六方铁氧体的非线性磁性研究

介绍了低温烧结Y型平面六方铁氧体的非线性磁性能。采用固相反应法制备样品,使用HP4284A,配合HP42841A直流源,测试外加磁场对软磁铁氧体高频磁导率的调制特性。研究表明,随外磁场强度增加,材料的磁导率呈非线性下降。定义了磁性可调率,用以表征外磁场调制下磁导率的改变量,此参数与材料本身的磁性能和显微结构密切相关。随Zn含量升高,材料的磁导率和可调率同时上升,可调率最高可达50%以上。     

高温超导电缆发展的概况

首先讨论了超导体的基本概念、性能和种类。介绍了超导材料研究的进展情况、超导电缆的设计方案、结构和特性参数,并与普通电缆做了比较,最后报道了高温超导线材和导体的结构和特性参数。     

SnAgCuY钎料高温时效过程的显微组织演化

研究了无铅钎料合金Sn3.8Ag0.7Cu高温时效过程中显微组织,特别是金属间化合物(IMC)的演化规律,以及稀土Y的添加对其产生的影响。结果表明:在高温时效过程中合金内部组元发生扩散与重组,伴随着共晶组织的逐渐溶解,新的IMC在组织内部呈球形弥散析出。结晶初期形成的具有规则形状的较粗大的IMC逐渐发生解体,树枝状富Sn相逐渐取代共晶组织成为受腐蚀的对象。随着时效时间的延长,合金内部各组元的成分也在不断发生变化。     

中温烧结BaTiO3基瓷的非均匀结构对εr－T特性的影响

含低熔物Ｂｉ２Ｏ３·ｎＴｉＯ２及ＰｂＯ－Ｂ２Ｏ３的ＢａＴｉＯ３基中温烧结瓷料，通过改性物Ｌａ、Ｎｂ等在固－液相烧结过程中溶－析和缺位补偿固溶，主晶相ＢａＴｉＯ３晶粒形成核－壳结构，并存在玻璃相。这种非均匀结构对铁电相的制约作用，引起瓷料的εｒ－Ｔ特性的改变     

高压LDMOS导通电阻的高温特性分析

本文提出了高压LDMOS的高温等效电路,讨论了LDMOS泄漏电流及本征参数在25℃~300℃范围内随温度变化规律.根据本文分析:源漏pn结的反向泄漏电流决定了LDMOS的高温极限温度;导通电阻与温度的关系是(T/T₁)^y(y为1.5~2.5).     

Dielectric Properties of Yttria Ceramics at High Temperature

Based on Clausius-Mosotti equation and Debye relaxation theory, the dielectric model of yttria ceramics was developed according to the dielectric loss mechanism. The dielectric properties of yttria ceramics were predicted at high temperature. The temperature dependence and frequency dependence of dielectric constant and dielectric loss were discussed, respectively. As the result, the data calculated by theoretical dielectric model are in agreement with experimental data.