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西安,一个享誉国际的文化古都,亦是中国高等教育、科学和高新技术产业的重要基地之一的城市,和量测业竟也关系匪浅。量测仪器业界的领航巨擘─安捷伦科技,日前宣布其Agilent93000SOC系列测试系统已获西安集成电路系统工程技术研究中心(以下简称“西安IC工程中心”)承购采用,用来测试高速应用和混合信号设备。这一系统将成为目前中国西部地区首台半导体高端测试设备,帮助西安IC工程中心具有高性能SOC的测试能力,成为西部地区领先的SOC测试机构,面向西安及整个西部地区的高科技企业,提供测试和培训服务,以帮助他们获得先进的半导体测试… 相似文献
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《电子工业专用设备》2006,35(12):52-52
爱德万测试(ADVANTEST CORPORATION)和清华大学微电子所于近日共同宣布清华大学微电子所购入爱德万测试最成功的SOC测试系统之一——T6575测试系统作为清华大学微电子专业教学的主力设备;爱德万测试将为清华人学微电子所的科教建设提供有力的技术支持和完备的售后服务,支持中国IC测试产业的高速发展,为蓬勃向上的中国半导体产业注入创新动力。 相似文献
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SOC(系统级芯片)测试对IC ATE(集成电路自动测试设备)制造商提出了挑战,同时也提供了新的发展机遇.目前,各种系统级芯片不断面世,包括数字蜂窝电话芯片、PC图形芯片、电缆调制解调器芯片、千兆以太网交换器芯片、网络控制器芯片以及各种多媒体器件.这预示了SOC测试将是未来几年ATE市场中的一个新增长点.SOC对测试设备要求非常高,它要求设备能测试芯片上的数字逻辑电路、模拟电路和存储器.低成本、多功能SOC测试设备对集成电路制造商有更大的吸引力,因为这种设备的测试能力能替代多台单功能IC ATE. 相似文献
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2003年新年伊始,中国华大集成电路设计中心与安捷伦科技有限公司在京联合宣布,华大将引进安捷伦先进的93000 SOC测试系统,此举意味着华大IC测试部将成为国内北方地区第一家有能力提供SOC测试服务的机构,这无疑会对北京及周边地区正在崛起的IC设计公司提供有力的支持。而在华大,执掌 相似文献
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本文介绍如何扩展低端IC测试系统,使其具备13.56MHz RF IC卡芯片批量测试能力,为一些IC设计或测试企业利用现有低端数字测试系统,降低RF IC卡测试成本提供一种可能的选择。 相似文献
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SOC设计方法学和可测试性设计研究进展 总被引:4,自引:0,他引:4
随着微电子工艺技术和设计方法的发展,系统级芯片(SOC)设计成为解决日益增长的设计复杂度的主要方法。文章概述了SOC设计方法学和SOC可测试性设计的发展现状,阐述了目前SOC测试存在的和需要解决的问题,描述了目前开发的各种SOC测试结构和测试策略。最后,提出了今后进一步研究的方向。 相似文献
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最新SOC测试的发展趋势 总被引:2,自引:0,他引:2
随着SOC芯片结构的复杂化,功能模块的多样化,SoC芯片的测试也面对诸多挑战,诸如测试资源和成本的兼顾。本文简单描述了现今SOC芯片的发展和趋势,以及相对应ATE测试系统的应对。 相似文献
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随着半导体行业测试技术不断提高,IC分选机技术不断升级,昂贵的集成电路测试设备是导致集成电路测试成本偏高的主要因素。如何最有效地使用好现有设备,充分利用设备资源,降低测试成本,提高测试效率,是工程技术人员需要探索的问题。从如何实现两台IC分选机并行测试展开具体的说明,详细介绍两台IC分选机与测试系统并行测试的通信原理,以及实际工作中的一些注意事项,避免出现质量事故,并通过试验说明并行测试的优越性。 相似文献
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《电子工业专用设备》2003,32(5):38-41
安捷伦科技与北京大学共同成立SOC测试教育中心和SOC测试工程中心全面合作加速半导体测试的研究和发展(北京,2003年8月20日)全球领先的跨国科技(NYSE:A)与北京大学微电子学研究院今天共同宣布成立北京大学-安捷伦科技SOC测试教育中心和北京大学-安捷伦科技SOC测试工程中心。北京大学一安捷伦科技SOC测试教育中心是华北地区首家SOC测试教育中心,将加速北京大学乃至中国半导体测试技术的研究和发展。同时,北京大学-安捷伦科技SOC测试教育和工程中心也将与业界开展广泛的合作,致力于推动中国半导体产业的发展。这项合作是知名高校与… 相似文献
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近日,国家无线电监测中心检测中心(SRTC)对外宣布:该中心获得了电磁暴露(SAR)测试系统校准的国家CNAS认可资质,成为国内第一家也是唯一一家可以提供SAR测试系统第三方校准服务的专业机构。这项针对中国大陆地区的移动通信终端企业的内部SAR测试实验室及其他专业SAR测试实验室提供的便捷服务,结束了以往实验室需要将SAR测试探头、DAE设备以及偶极子天线等设备寄送到国外进行校准的历史.将大大节省企业的时间成本和费用成本。 相似文献
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SOC(系统级芯片)测试对IC ATE(集 成电路自动测试设备)制造商提出了挑战,同时也提供了新的发展机遇。目前,各种系统级芯片不断面世,包括数字蜂窝电话芯片、PC图形芯片、电缆调制解调器芯片、千兆以太网交换器芯片、网络控制器芯片以及各种多媒体器件。这预示了SOC测试将是未来几年ATE市场中的一个新增长点。SOC对测试设备要求非常高,它要求设备能测试芯片上的数字逻辑电路、模拟电路和存储器。低成本、多功能SOC测试设备对集成电路制造商有更大的吸引力,因为这种设备的测试能力能替代多台单功能IC ATE… 相似文献
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随着集成电路深亚微米制造技术和设计技术迅速发展,系统芯片(SOC)作为一种解决方案得到了越来越广泛的应用。SOC的测试中,内建自测试(Built.In Self-Test,BIST)成为人们研究的热点。文中对SOC的设计特点及其BIST中的混合模式测试进行了探讨。 相似文献