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本文介绍东电子部工艺研究所最新科研成果:红外探测器参数自动测量及数据处理系统。着重介绍系统的组成,技术原理与指标,总体水平及利用国内技术力量对电子行业进行技术改造的深远意义。 相似文献
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对于在低温背景条件下应用的红外焦平面探测器,在其设计阶段首先需要确认的是探测器在低温背景下的主要性能参数是否满足应用需求。通过单元探测器的基本理论公式,从性能测试的角度,推导出了焦平面探测器主要性能指标的理论计算公式,包括峰值响应率、噪声、峰值探测率、动态范围等。提出了红外焦平面探测器主要性能参数计算的设计流程,并通过实例对长波红外焦平面探测器在低温背景下的性能参数进行了计算、设计及验证,实测结果与理论计算符合较好。表明了理论公式及设计流程具有较好的实用性,可为红外焦平面探测器的应用设计提供参考。 相似文献
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介绍了红外探测器噪声定义、测量方法、测量仪器等，着重分析ＨＰ３５８９Ａ测量噪声的原理，并以实验验证了测量方法的可行性。 相似文献
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红外探测器的频率响应是表征探测器响应速度的性能参数。测量探测器的频率响应时,需要将入射的红外辐射强度进行正弦调制,改变调制频率,分别记录在各种调制频率下探测器输出的信号电压,然后进行归一化处理,就得到探测器的相对频率响应特性。在实际测量中,通常用机械调制的方法,借助正弦调制盘将恒定的红外辐射调制成辐射强度随时间按正弦规律变化的辐射。但采用机械调制盘不易得到标准的正弦调制,对机械调制盘的转速稳定性需要进行特 相似文献
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本文介绍了国外、内多种先进的红外探测器参数自动测试系统和自动测试技术新进展。文中对美国EO公司的自动测试系统、洛克希德Polo Alto实验室的焦平面器件测试台、飞点扫描器、霍尼威尔公司光电分部的中、短波长光伏探测器测试台、MCT光导阵列测试系统、镶嵌阵列计算机辅助测试台、休斯公司圣巴巴拉研 相似文献
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引言红外探测器的响应速度是系统设计中的一个头等重要的参数。响应速度通常用频率响应曲线表示,或用系统对一个光脉冲的响应表示。在低频时,是使用调制信号源来得到频率响应曲线。当频率接近兆赫级时,必须采用其他方法来获得频率响应曲线。在注入式激光器工作的光谱区,可对这类激光器进行电流调制而取得高频调幅光。已采用的其他方法是利用连续波激光器在荧光线宽范围 相似文献
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本文主要阐述红外探测器光谱响应自动测量的方法,扼要地介绍了测试系统及其性能、测量原理和系统设计。测量结果表明,这套系统能消除光源和环境变化的影响,提高测量的精度和速度。 相似文献
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红外探测器光谱响应测量系统 总被引：1，自引：0，他引：1
用迈克尔孙干涉仪及辅助检测平台建立了红外探测器光谱响应测量系统。利用计算机技术对被测红外探测器接收到的干涉图进行了傅里叶变换,得到了相对响应于入射波长的光谱响应曲线,并采用同时检测参考探测器光谱响应的方法,通过比较及运算,消除 了背景光谱的影响。 相似文献
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红外探测器参数自动测量阻值软件匹配的几个问题 总被引：1，自引：1，他引：0
本文对三个问题进行了讨论。一是红外探测器必须在匹配情况下测量,才能得到最大信号;二是讨论采用软件匹配的理论基础,推导出用软件匹配时的计算公式,并根据该公式编制出计算机程序;三是软件匹配与硬件匹配测量值的比较。根据比较结果,证明采用软件匹配是完全可行的,并符合要求。在比较过程中是根据实验曲线上的数据列成表格,进行比较,由于篇幅限制未刊载实验曲线。 相似文献
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讨论了使用频谱仪和微机系统测量红外探测器频谱特性的方法,采用频谱仪的扫频装置和大功率GaAs发光二极管作为调制光源,快速测量了红外探测器的噪声谱频N(f),响应率频谱R(f)和探测率频谱D~*(f)。复盖频率范围为3Hz～200kHz。 相似文献
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本文从理想黑体物理模型出发,导出红外探测器D~*测试中,被测探测器在非均匀辐照下,其光敏面上各点辐照度表达式和被测探测器D~*计算式。 相似文献
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讨论了使用频谱仪和系统测量红外探测器频谱特性的方法，采用频谱仪的扫频装置和大功率GaAs发光二级管作为调制光源，快速测量了红外探测器的噪声谱频N(f)，响应率频谱R（f）和探测率频谱D^*(f)，复盖频率范围为3Hz-200kHz。 相似文献
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