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大功率LED器件的结温是其热性能的重要指标之一,温度对LED的可靠性产生重要的影响。采用板上封装的方法,利用大功率芯片结合金属基板封装出了大功率白光LED样品,利用LED光强分布测试仪测试了器件的I—V曲线,用正向电压法测量了器件的温度敏感系数,进而通过测量与计算得到器件的结温和热阻。最后利用有限元对器件进行实体建模,获得了器件的温度场分布。测量结果表明:正向电压与结温有很好的线性关系,温度敏感系数为2mV·℃^-1,LED的结温为80℃,热阻为13℃·W^-1。有限元模拟的结果与实测值具有良好的一致性。 相似文献
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双通道PWM的冷暖白光LED混色模型研究 总被引:1,自引:0,他引:1
LED光色度的动态调节是实现智能照明的基础, 采用冷暖白光LED和双通道脉冲宽度调制(PWM)法,基于1931CIE标准建立混合光源模型,推导出混合光源色坐标、相关色温 、最大亮度、显色指数与双通道调制脉冲 占空比比值的关系式。采用暖白光(色温3282 K)和冷白光(色温12930K)两种白光LED进行 混色实验, 通过微控制器输出PWM信号控制LED驱动电源,改变冷色光和暖色光的比重,得到的混合 光源色坐 标、最大亮度、相关色温及显色指数值与理论计算值吻合很好,证明了理论模型的正确性。 理论和实验结 果还表明,混合光源在双通道调制脉冲占空比比值为1的附近可得到低色温、高显色性和大 光通量的混合白光。 相似文献
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Yoshikatsu Ichimura Katsumi Kishino Masaru Kuramoto Mitsunari Satake Atsushi Yoshida 《Journal of Electronic Materials》1995,24(3):171-176
Thermal annealing effects on optical and electrical characteristics for p-type and n-type II–VI compound layers (ZnSe, ZnSSe,
and MgZnSSe) and on the emission efficiency of ZnCdSe/Zn(S)Se 6 quantum well (QW) light emitting diodes (LEDs) grown by molecular
beam epitaxy were investigated. It was clarified that serious degradation of optical and electrical characteristics was not
observed up to an annealing temperature of 400°C. In the case of p-MgZnSSe, the maximum permitted annealing temperature was
lower than that of Zn(S)Se. The light output of the ZnCdSe/Zn(S)Se multi QW LEDs was enhanced by a factor of three at optimum
thermal annealing conditions. The study suggests that this thermal effect for LEDs was produced by the improved crystal quality
of ZnCdSe QWs by thermal annealing. 相似文献
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热界面材料对高功率LED热阻的影响 总被引:2,自引:2,他引:0
散热不良是制约大功率LED发展的主要瓶颈之一, 直接影响着大高功率LED器件的寿 命、出光效率和可靠性等。本文采用T3ster热阻测试仪和 ANSYS热学模拟的方法对LED器件进行热学分析,以三种热界面材料(金锡,锡膏,银胶)对LE D热阻及芯片结温的影响为例,分析了热界面材料的热导率、厚度对LED器件热学性能的影响 ,实验结果表明界面热阻在LED器件总热阻中所占比重较大,是影响LED结温高低的主要因素 之一;热学模拟结果表明,界面材料的热导率、厚度及界面材料的有效接触率均会影响到LE D器件结温的变化,所以在LED器件界面互连的设计中,需要综合考虑以上三个关键参数的控 制,以实现散热性能最佳化。 相似文献
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本文提出了一种基于光谱积分宽度法来测量发光二极管(light emitting diode, LED)结温的新方法,并进行了理论分析和实验研究。本方法主要分为光谱数据采集、定标函数的测定和结温测量三个过程。首先,为了测量成本的降低和精度的提高而采用在正常工作电流下采集LED光谱数据,并通过采用不同温度下的光谱积分宽度与选定的某一基准状态下的值逐差可得到线性度达0.99以上的定标函数,并通过此定标函数可实时测定任意状态下的结温。其次,为了比较本方法测量结温的精确性,分别对单色和白光LED采用本方法和业界主流的正向电压法,通过自行设计的基于积分宽度法结温测量系统和美国Mentor Graphics公司的T3Ster型仪器的测量结果进行比较,两种方法测出的结温最大偏差为2.1℃,在可接受的误差范围内。实验结果表明积分宽度法测结温具有高效便捷且低成本的的特点,具有一定的应用前景。 相似文献
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《Microelectronics Journal》2014,45(12):1716-1720
As junction-to-case thermal resistance RthJC is a primary performance and reliability parameter for high power light emitting diodes (LED) an accurate specification of this value is of paramount importance. Currently thermal transient characterization methods are reserved to research and quality laboratories. Especially the thermal calibration procedure requires an enormous effort of time. Therefore the RthJC specification of a high volume production is based on a statistical approach. However, high test coverage or even a single unit test is desired. This paper presents a method for inline Rth control for high power LEDs. By skipping the conventional thermal calibration procedure the method compares the measured response of the device under test with a completely thermal characterized reference curve of a reference device. It enables to detect variations in thermal interface materials, e.g. failures in the thermal adhesive attach, with sufficient accuracy within some hundred milliseconds testing time. The achieved measurement results verify the applicability of inline Rth control in a high volume production. 相似文献
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大功率LED的脉冲响应及其大电流光调制技术研究 总被引:1,自引:1,他引:0
LED作为可见光通信(VLC)的发射光源时为保证足够 大的光信号覆盖范围和信号强度,应采用大电流脉冲调制。本文研究了大功率LED的光 -电脉冲响应比小功率器件较慢、从而造成光调制带宽降低的原因,以及LED注入电 子和空穴的缓慢复 合与驱动电路晶体管在大电流工作时的存储效应;由此设计了FPGA控制下的光脉冲整形方案 ,信号脉冲经由FPGA再生同时产生另外两路相位关联的短脉冲,同步控制驱动电路分别 在信号脉冲上 升沿施加一个瞬时高压加速载流子注入,在脉冲下降沿使LED两端短路将剩余载流子泄放, 使光脉冲边沿加速进行整形。对接收信号 的眼图和误码率(BER)的测试结果表明,在接近安培量级的 峰-峰值调 制电流下,通过这种同步控制方法使光信号质量得到有效改善,传输速率得到明显提高。 相似文献
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Light emitting diode (LED) is one of the most important light sources in the 21st century and has broad prospects in the illumination.Currently,the white LED is used not only for illumination,but also ... 相似文献