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在总结工程实践的基础上,研究了空空导弹可靠性增长试验用的试验剖面设计技术及在可靠性增长试验中可能采用的几种工程化方法。 相似文献
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载人航天运载火箭用元器件可靠性保证技术研究与应用 总被引:2,自引:0,他引:2
林德健 《导弹与航天运载技术》2004,(1):73-78
元器件的可靠性是影响载人航天运载火箭高可靠的关键因素之一.本文针对载人航天的高可靠要求,以现实条件为基础,以载人航天为目标,进行了元器件可靠性保证技术的研究,包括:管理控制、监制验收、复验筛选等.最后总结了元器件质量保证工作的成效与经验. 相似文献
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针对空空导弹武器系统的特点,介绍了空空导弹可靠性试验的目标和分类,结合工程实际探讨了空空导弹可靠性试验的基本方法,组织程序和监督管理等基本技术。 相似文献
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论空空导弹的可靠性指标 总被引:1,自引:0,他引:1
可靠性指标是订购方和研制方十分关注的问题。本文论述了可靠性指标的特殊性,并结合空空导弹整个寿命期内不同阶段的特点,探讨了空空导弹可靠性指标的形式。 相似文献
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通过工程实践总结了空空导弹可靠性试验剖面设计的和体会,论述了可靠性试验剖面设计的原则,并分析了比较了机载外挂武器和机舱内设备可靠性试验剖面的异同。 相似文献
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针对空空导弹在长期的贮存过程中环境因素对其可靠性的影响,提出了一种基于BP神经网络的建模方法。该方法首先对空空导弹进行分析,确定神经网络的结构;然后对环境信息进行加权融合,形成输入样本,再将检测时刻可靠度的点估计作为输出样本,训练神经网络;当误差达到要求后,根据在导弹贮存期间所采集的环境信息预测导弹当前的可靠度。 相似文献
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随着科技的发展,电子元器件在航空航天领域的应用越来越广泛。近期,特别是当前国家重点型号的研制过程中,大量使用新型、新研电子元器件,已经成为装备的一个组成部分,电子元器件的质量已经与装备的安危密切相关并引起了各方人士的重视。一个电气系统就是由各种基础产品(各种元器件)构成的。由于电子元器件的数量、品种众多,其性能、可靠性、 相似文献
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针对国内目前没有专门用于保证半导体集成电路芯片质量与可靠性要求的相关标准,相应测试、可靠性研究水平也较为落后的情况,对半导体集成电路芯片质量与可靠性保证方法进行研究。介绍半导体集成电路芯片质量与可靠性保证方面的国际、国内标准与技术水平现状,提出在目前技术水平下需从设计、工艺、筛选验证3个方面保证半导体集成电路芯片质量与可靠性,在筛选验证方面提出芯片筛选、封装样品考核相结合的方式。结果表明,该方法能满足混合集成电路、多芯片组件对半导体集成电路芯片的质量与可靠性要求。 相似文献
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本文阐述了可靠性增长试验的目的,举例说明了外挂式武器的可靠性增长试验方法,对试验剖面的确定,试验过程,试验结果进行了分析,最后对试验的效果和问题给出了结论和建议。 相似文献
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