模拟电路故障可测性数值判断

本文讨论模拟电路故障可测性问题。提出了以矩阵数值秩为依据的故障可测性数值判断方法,给出了考虑容差扰动及数值计算误差时的故障可测性条件。根据可测性分析与设计的不同要求,将可测性条件分解为拓扑条件和数值限制两个方面描述。文献[1]给出了拓扑条件,本文对数值限制作了讨论,给出了可测性数值判据。     

模拟电路结构化可测性设计研究综述

本文说明模拟电路结构化可测性设计(DFT)的原则,同时介绍了两个可测性设计结构。这些原则和结构可以作为数模混合测试总线标准IEEE P1149.4的基础。     

基于可测性分析的模拟电路多频测试矢量生成

提出一种基于可测性分析的模拟电路多频测试矢量自动生成方法。根据待测电路可利用的测试点,进行测试点优选和模糊元器件确定,实现可测性分析;应用灵敏度分析,实现多频测试矢量自动生成。实验结果表明,该方法对模拟电路测试矢量生成非常有效,具有很强的实用性。     

基于灵敏度分析和GA的模拟电路故障诊断

为了实现模拟电路故障的检测,提出了将灵敏度分析与遗传算法结合的算法。该算法利用灵敏度分析估算元件参数偏移量求解故障元件,并用遗传算法寻求最优解。提出改进的自适应遗传算法,实验结果表明该方法对容差模拟电路的多软故障诊断具有较好的诊断率。     

一种针对多级串联模拟电路的可测性设计技术

随着集成电路的发展,测试难度的增加,可测试性设计也越来越重要。针对串联结构的模拟电路提出一种可测性设计结构,该结构大大提高了电路内系统模块的可测试性,减少了需要额外引出的I/O数,同时不随内部模块数的增加而增加,并且可以与数字电路的边界扫描技术相兼容,通过在Cadence下仿真,证明了该结构简单有效。     

模拟电路的多频灵敏度故障诊断方法

文章在灵敏度故障诊断方法的基础上提出多频灵敏度参数识别故障诊断方法，并给出选择测试频率的一般原则。该方法能够适用于可及测试节点较少的电路。针对模拟电路中一般只存在部分元件故障的情况，进一步提出只识别部分故障元件参数的多频灵敏度故障诊断方法，使该方法能适用于更大规模的电路。电路仿真结果验证了所提方法的有效性。     

模拟电路故障诊断的结点电压灵敏度比值法

在证明线性电路中结点电压变化量比值等于结点电压灵敏度比值的基础上,提出了结点电压灵敏度比值法,通过结点电压变化量比值和结点电压灵敏度比值的比对确定电路的故障元件。理论分析和实验结果表明,该方法算法简单、诊断速度快,在可测点受限条件下具有较高的诊断精度,特别适合大规模线性模拟电路的故障诊断和测试。     

实用BiCMOS电路可测性设计

本文提出了ＢｉＣＭＯＳ电路的实用可测性设计方案，该方案与传统方法相比，可测性高，硬件花费小，仅需额外添加两个ＭＯＳ管和控制端，就可有效地用单个测试码测出ＢｉＣＭＯＳ电路的开路故障和短路故障，减少了测试生成时间，可广泛应用于集成电路设计中。     

BiCMOS电路可测性设计探讨

本文提出了ＢｉＣＭＯＳ电路的实用可测性设计方案，该方法与传统方法相比，可测性高，硬件花费小，仅需额外添加一个ＭＯＳ管和两个控制端，就可有效地用单个测试码测出ＢｉＣＭＯＳ电路的开路故障和短路故障，减少了测试生成时间，可广泛应用于集成电路设计中。     

Low-Voltage Analog Circuits Based on Wideband Capacitive Coupling

A technique for wideband low-voltage analog circuit operation based on capacitive signal coupling is discussed. Circuits based on this technique do not show the GB degradation of other low-voltage approaches based on floating-gate transistors. The technique is validated with simulations of a new CMOS mixer and experimental results of a test chip in a 0.5 m CMOS technology.     

Testability of 2-Level AND/EXOR Circuits

It is often stated that AND/EXOR circuits are much easier to test than AND/OR circuits. This statement, however, only holds true for circuits derived from restricted classes of AND/EXOR expressions, like positive polarity Reed-Muller and fixed polarity Reed-Muller expressions. For these two classes of expressions, circuits with good deterministic testability properties are known. In this paper we show that these circuits also have good random pattern testability attributes. An input probability distribution is given that yields a short expected test length for biased random patterns. This is the first time theoretical results on random pattern testability are presented for 2-level AND/EXOR circuit realizations of arbitrary Boolean functions. It turns out that analogous results cannot be expected for less restricted classes of 2-level AND/EXOR circuits. We present experiments demonstrating that generally minimized 2-level AND/OR circuits can be tested as easy (or hard) as minimized 2-level AND/EXOR circuits.     

High Performance CMOS Analog Arithmetic Circuits

Unique designs for CMOS analog arithmetic circuits are presented which perform addition (V₁ + V₂), subtraction (V₂ – V₁), add/invert –(V₁ + V₂), and multiply (V₁ × V₂). The circuit operation is based on the inherent square law of MOS transistor drain current when operating in the saturation region. Key features include: good linearity and accuracy, single ended voltage inputs and output, wide input and output range and no input bias voltages. The circuits can be directly coupled (no buffer) and serve as basic building blocks for analog signal processing implementations such as analog filters and adaptive equalizers. All circuits were implemented in 1.2 m CMOS technology.     

基于回路法求解线性网络灵敏度的系统方法

本文从网络的回路分析和网络灵敏度分析的增量法出发，将矩阵的张量运算应用于电路的灵敏度分析中，导出了计算电路支路电流和支路电压灵敏度的一般公式，该方法用于电路灵敏度计算，只需要进行一次电路分析和一些矩阵变换与运算，即可得到电路中支路电流和支路电压对电路参数的灵敏度矩阵。该方法是文献[1]的对偶形式，与文献[1]所提出的方法互补形成较为完备线性网络灵敏度分析方法。     

模拟VLSI电路故障诊断的相关分析法

为了提高模拟VLSI电路的测试精度,提出了一种基于数字信号处理的模拟VLSI电路测试方法,将测试响应经余弦调制实现的数字滤波器组完成子带滤波,随后对各子带滤波序列进行能量计算和相关分析,实现模拟响应的数字特征提取,对国际标准电路中的19个故障的实验表明：子带滤波序列的能量计算适合诊断硬故障; 相关分析既可诊断硬故障,又可诊断软故障,实验还表明该方法对故障的分辨率远高于文献[7]。     

基于节点法求解线性网络灵敏度的系统方法

把矩阵的张量运算引入到电路的灵敏度计算中,并通过电路分析的节点法的增量方程,导出了计算电路灵敏度矩阵一般公式,提出了求解线性网络灵敏度的一种系统方法。该方法用于电路灵敏度计算,只需要进行一系列矩阵变换与运算,即可得到电路中节点电压和支路电压对电路参数的灵敏度矩阵,其运算过程规则便于用计算机编程实现,有较大的实用价值。     

一种基于多频灵敏度分析的模拟电路K故障诊断方法

在模拟电路灵敏度分析的基础上，提出了多频灵敏度K故障诊断方法，详细说明了多频灵敏度K故障诊断方法的原理和步骤。针对模拟电路中最常见的双故障进行了电路仿真，仿真结果说明了该方法的有效性。     

Approximate Symbolic Analysis of Hierarchically Decomposed Analog Circuits

This paper presents a methodology for the symbolic analysis of large analog integrated circuits using a hierarchical approach. The drawbacks of previous approaches are solved by the introduction of error-controlled approximation strategies. A proper modeling methodology through the different hierarchical levels allows to combine the optimum techniques for generation of the symbolic expressions and the most efficient numerical techniques for error control. These approximation strategies together with mechanisms for partitioning and union of blocks through the hierarchy yield optimum results in terms of speed, accuracy and complexity of the symbolic results.     

基于遗传算法的容差模拟电路故障诊断

给出了用于模拟电路元件参数识别的多频传递函数法的过程,并对故障诊断方程的可解度进行了分析,在此基础上,将诊断方程的求解转化为非线性函数的优化问题,并运用改进的遗传算法来解决这个问题,算法实例表明该方法简化了故障诊断方程的求解过程,加速了容差电路故障元件的定位,有一定的应用价值。     

基于FKCNN的模拟电路故障诊断方法

研究一种将模糊c均值聚类算法与神经网络相结合的模糊聚类神经网络(FKCNN),在分析该网络的结构和学习方法的基础上,对FKCNN的学习算法进行了一定的改进,并将改进后的模糊聚类神经网络应用于模拟电路的故障诊断,探讨了实现方法,设计了算法步骤,并举例对算法有效性进行了验证.结果表明,运用模糊聚类神经网络能够实现对具有状态可测性的模拟电路的故障诊断.