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微波元器件引线和基板的互连方式较多,为了保证产品性能,最理想的方式是将其引线直接与基板搭焊,但这种方式仅靠焊料和引线的形变来释放应力,有一定的局限性,因此常常出现焊点开裂失效的问题。为了评估微波产品焊点释放应力的能力,介绍了在微波产品中典型的三种高热应力焊点失效模式,分析了焊点开裂的机理。使用ANSYS软件对其应力进行了仿真,结合焊点位移量及其所带来的焊点剪切应变来评估焊点热疲劳寿命,并验证了这些方法的可行性和实用性,最后提出了高应力焊点相应的工艺设计优化措施,对提高焊点可靠性具有重要的指导作用。 相似文献
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CBGA、CCGA器件植球/柱工艺板级可靠性研究 总被引:1,自引:0,他引:1
陶瓷球栅阵列(CBGA)和陶瓷柱栅阵列(CCGA)封装由于其高密度、高可靠性和优良的电热性能,被广泛应用于武器装备和航空航天等电子产品。而CBGA/CCGA焊点由于其材料和结构特性,在温度循环等可靠性试验中焊点容易发生开裂,导致器件失效。本文以CBGA256和CCGA256封装产品为例,通过陶瓷基板与PCB板的菊花链设计来验证CBGA/CCGA焊点的可靠性,并对焊点的失效行为进行分析。结果表明,CCGA焊点可靠性要高于CBGA焊点,焊点主要发生蠕变变形,边角处焊点在温度循环过程中应力最大,容易最先开裂。 相似文献
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功率循环中表面安装器件(SMD)热变形的实时全息干扰测量研究 总被引:2,自引:0,他引:2
功率循环中表面安装器件(SMD)的热应变是影响SMD焊点可靠性的重要因素之一。本采用实时全息干涉度量法对一个具有100条引线的塑料四边引线封装器件(PQFP)在功率循环中的热-力耦合离面变形场进行了测量,获得了分别们于PQFP和负责制电路版(PCB)表面的离面变形数值,并根据两之间的变形失配,精确地计算出了引线和焊点的变形,为全面了解SMD在功率循环条件下的热力学行为及分析SMD焊点的疲劳失效 相似文献
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基于最小能量原理和焊点形态理论,建立了BLP(Bottom Leaded Plastic,底部引线塑料封装)器件焊点三维形态预测模型,运用该模型分析了不同的钎料体积和不同的焊盘宽度两种工艺参数下的BLP焊点三维形态;研究结果表明钎料体积、焊盘宽度对BLP焊点三维形态有显著的影响。 相似文献
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《电子工艺技术》2003,(4)
20 0 30 4 0 1 在线BGA焊点开路检测—GlenLeinbach .CircuitsAssembly,2 0 0 3 ,1 4 (3) :36~ 40 (英文)随着BGA器件的广泛应用 ,并逐步替代传统的封装形式如QFP、SOIC、TSOP、SSOP和PLCC等。然而所有的面阵列封装都存在一个普遍的问题 ,焊点不在封装的边缘 ,而隐藏在器件体的下面 ,这就给PCB质量检验和缺陷检测带来许多困难。本文从AXI与BGA、BGA焊点、BGA焊点开路、翘曲等方面介绍了一种探测BGA焊点开路的新方法 ,该方法采用AXI,对再流焊后的BGA焊球尺寸进行比较 ,从而探测出BGA开路缺陷。2 0 0 30 4 0 2 无铅… 相似文献
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功率循环中表面安装器件(SMD)热变形的实时全息干涉测量研究 总被引:5,自引:0,他引:5
功率循环中表面安装器件(SMD)的热应变是影响SMD焊点可靠性的重要因素之一.本文采用实时全息干涉度量法对一个具有100条引线的塑料四边引线封装器件(PQFP)在功率循环中的热-力耦合离面变形场进行了测量,获得了分别位于PQFP和印制电路版(PCB)表面的离面变形数值,并根据两者之间的离变形失配,精确地计算出了引线和焊点的变形,为全面了解SMD在功率循环条件下的热力学行为及分析SMD焊点的疲劳失效机理提供了精确可靠的实验数据. 相似文献
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针对LCCC封装器件在温度循环载荷下焊点开裂的问题,首先分析其失效现象和机理,并建立有限元模型,进行失效应力仿真模拟。为降低焊点由封装材料CTE不匹配引起的热应力,提出了两种印制板应力释放方案,并分析研究单孔方案中不同孔径和阵列孔方案中不同孔数量对热疲劳寿命的影响。之后,为降低对PCB布局密度的影响,提出一种新型的叠层焊柱应力缓冲方案,进行了不同叠层板厚度和焊柱间距的敏感度分析。结果表明,更大的开孔面积、更小的叠层板厚度、更密的焊柱可有效降低焊点应力,提高焊点热疲劳寿命,使得LCCC封装器件焊点热疲劳可靠性得到有效提高。 相似文献
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陶瓷球栅封装阵列(CBGA)器件的陶瓷器件与印制电路板之间热膨胀系数的差异是导致焊点失效的主要因素,其可靠性一直是CBGA封装器件设计时需重点考虑的问题[1].对CBGA植球器件的板级表贴焊点在-55~105 ℃温度循环载荷条件下的失效机理进行了研究,结果表明,CBGA板级表贴器件的焊点的主要失效部位在陶瓷一侧焊料与焊球界面和焊点与焊盘界面两处,边角焊点优先开裂,是失效分析的关键点;随着循环周期的增加,内侧链路依次发生断路失效. 相似文献
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无铅器件逆向转化有铅器件工艺 总被引:1,自引:1,他引:0
通过对有铅焊料与无铅器件混用的工艺性问题与质量问题进行分析,论述了无铅器件逆向转化为有铅器件的必要性;介绍了无铅器件焊端材料以及对逆向转化工艺的影响;提出并重点论述了有引线无铅器件、无引线无铅器件和球形焊端无铅器件逆向转化为有铅器件的工艺方法. 相似文献
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本文从锡焊原理出发,重点阐述了电子元器件可焊性不好造成的整机焊点脱焊。脱焊的主要原因,是电化学腐蚀造成的,对如何减少虚焊点,提出了具体意见。一、合格的焊点和虚焊点印制电路板上焊点的好坏,要通过三个方面来检查与判断: 1)从焊点形貌检查。这是装联线上检验人员最常使用的方法。用肉眼或2.5~4倍放大镜检查焊点外形,合格的焊点外形应光滑乌亮、无毛刺,焊锡呈均匀对称的漫坡状,焊锡与引线及焊盘的润湿良好(见图1)。直脚焊应在引线顶端留有1.5~2mm的端头,弯脚焊应把引线的轮廓形状显露出来(俗称露筋骨焊点),这样要求是便于从形貌上容易准确地判断焊点是否合格。 相似文献
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采用有限元分析软件,以小尺寸陶瓷四边引线扁平封装(CQFP)结构为研究对象,对其在温度循环试验中应力应变分布进行了仿真分析。分析了引线成型角度和成型次数两种参数对焊点的影响,进而对CQFP结构在温度循环载荷作用下的疲劳寿命进行了计算。结果表明,对引线进行二次成型或者减小引线成型角度可以提高焊点的热疲劳寿命。 相似文献
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一、引言电子元器件的引线多采用铜及铜合金、可伐等材料制成。为了使这些引线在元器件制造过程中不被工艺污染;在贮存、使用过程中能抵抗大气环境的浸蚀;以及根据元器件电参量特性的要求将其引线表面镀一层保证性涂层,如晶体管管脚镀金、高频器件镀银,一般用的器件镀镍、锡及锡铅合金等。电子整机厂在装联焊接时,由于这些镀层不容易被焊锡润湿,装焊前需用人工把焊接部位的镀层刮掉,重新搪一层焊锡才可装焊。自从印刷电路板发明后,自动群焊技术被普遍使用。自动群焊是在一块印制板上有几十到几千个焊点,用波峰焊或浸焊在几秒钟内一次全部焊完。这种自动焊接的工艺过程与工艺参数一致,焊接质量非常高。采用自动焊工艺,对被焊接的元器件引线及印制板焊盘的可焊性提出了较高要求,不仅要求有一定的可焊性 相似文献
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