加强可靠性物理基础研究,提升应用技术能力

对研制生产、使用中元器件失效的原因和机理进行研究分析,提出改进措施,不断提高元器件可靠性是元器件可靠性科研和技术服务的任务所在.近年来元器件可靠性物理及其应用技术研究条件实现了跨越式发展,研究领域不断延伸、拓展,科研成果和应用技术支撑了元器件可靠性的提高.加强元器件可靠性基础研究,建设可靠性分析和评价公共技术平台是未来发展的目标.     

军用设备元器件选用可靠性保证探讨

我国科学技术在发展的过程中,军用设备得到较快优化,其中元器件对设备运行质量的提高具有较大促进作用。对元器件的合理、针对性选用,可使设备的可靠性得到较高的保证。元器件可靠性主要分为使用可靠性与固有可靠性,其中使用可靠性主要是指在使用元器件期间表现出的可靠性特征,从不同角度入手,如二次筛选、降额使用、破坏性物理分析等,以此为提高设备可靠性奠定良好的基础。本文首先阐述了军用设备元器件选用可靠性保证要求,而后对军用设备的元器件可靠性选用原则进行有效分析,最后着重分析了军用设备元器件选用可靠性控制,以此提出几点见解,仅供参考。     

军品型号用塑封工业级元器件的可靠性控制研究

当前,军品型号由于先进战技指标、小型化、轻型化等要求,使用了为数不少的进口塑封工业级元器件(以下简称工业级元器件)。但是工业级元器件的可靠性远低于按军用标准生产的元器件。如何提高工业级元器件的装机可靠性成为了型号元器件应用的难题之一。该文对工业级元器件的可靠性进行了分析,并对如何提高工业级元器件的使用可靠性提出了相关方法和建议。     

提高电路中元器件的使用可靠性

元器件的使用可靠性是整机可靠性的关键和基础。结合工作实践,对电路设计中元器件的使用性、失效原因进行了分析、总结,并提出了提高电子元器件使用可靠性的建议。     

电子元器件的降额应用和“二次“筛选

1前言 　　元器件的应用就是指元器件使用的方法.除了要求元器件本身具有相应等级的固有可靠性外,使用是否合理,即使用的方法也直接影响其实际(或现场)可靠性. 　　……     

电视机可靠性设计讲座 第六讲 元器件选择及其降额使用

电视机的可靠性设计对元器件失效率提出了相应的要求,然而在目前由于元器件水平不高,对元器件失效率数据掌握不多和数据精确度较差,在选用元器件时还存在着比较盲目的情况,导致整机可靠性不高.在第一讲中已叙述了几条有关元器件选择及其降额使用的原则,以下针对电视机电路实际要求,从目前生产实际出发,进一步谈一谈电视机用元器件选择和使用问题.     

提高电子元器件使用可靠性的方法

电子元器件是电子设备的基础组成部分,对整机起着决定性的影响.在运行器的运行中,会经常因为电子元器件故障对整个系统造成影响.本文对电气元器件的可靠性进行了相关研究,分析了电子元器件质量的主要影响因素,并提出提高电子元器件使用可靠性的几点有效措施与方法,为保障设备或者系统的正常运行提供了理论依据.     

进口元器件可靠性评估方法探讨

介绍了进口元器件的使用现状、特点,分析了影响元器件使用可靠性的各项主要因素。在此基础上,根据工程实践,总结了制定进口元器件可靠性技术评估方案的一般思路、原则和方法,并针对不同评估结果,给出处理意见。这些方法和原则同样适用于国产元器件的研制试验和应用可靠性评估。     

汽车电压调节器的性能可靠性计算机仿真

利用系统性能可靠性仿真,对汽车电压调节器的设计及性能进行分析,找出了对其性能可靠性影响最大的元器件,以及对环境温度敏感的元器件;通过提高元器件精度和改善半导体器件的温度特性,对初始设计进行了改进,提高了汽车电压调节器在使用中的性能可靠性.     

电子元器件可靠性筛选设计分析

伴随着我国科学技术的高速发展,制造业中电子设备元器件的可靠元器件数量不断增加,导致装备系统整体结构的复杂程度越来越高.相应地,在日常使用过程中,人们对其可靠性以及可维修性提出了更高的标准和要求.基于此,详细分析与阐述电子元器件的可靠性筛选设计.     

联机检修的冗余结构使用可用度模型修正

现场故障更换对象由电子和机电元器件改变为电子和机电更换模块后,备件保障就成为联机检修冗余结构任务可靠度和使用可用度模型中必须包含的一个关键参数。但在传统的联机检修任务可靠度和现行的使用可用度模型中没有得到或没有完全得到应有的反映。对此,提出了修正模型。在使用可用度模型中还对同时检修的平均修复时间模型作出了改正。     

Similarity approach for reducing qualification tests of electronic components

Qualification analysis and reliability testing of electronic components represent a major activity in the process of development of electronic equipment. Electronics manufacturers have to adopt often costly test programmes to ensure qualification standards and reliability requirements are met. This paper details a novel similarity-based qualification approach for assessing expected reliability of electronic components, and in general electronic products, as an alternative to conventional physical testing. The originality of this work is in the proposed approach which introduces a new way of qualifying electronic components based on similarity with previously assessed and qualified components. This novel approach has the potential to transform in a major way the current operational practices in the industry, demanding at present substantial physical testing, by offering a complementary, “virtual qualification” route for addressing the cost and time challenges associated with qualification tests.A major achievement is the comprehensive and detailed demonstration of the proposed reliability qualification approach. Case studies on qualifying electronic components to the thermal loads induced by a particular post-manufacturing process widely adopted by high-reliability electronics sectors – the robotic hot solder dip (refinishing) process, and associated risks of thermo-mechanical damage are presented and discussed.     

一种基于多源信息的广义比例组合可靠性分配法

提出一种基于多源信息的广义比例组合电子系统可靠性分配法.该方法在GJB 299C-2006元器件失效率预计公式的基础上,按新研系统的新标准、新环境统一折合元器件失效率,估计相似单机失效率,而后按照新系统设计方案来组合各类型单机,最后利用余度系统比例组合法将系统可靠性指标分配至各单机.该方法拓展了比例组合法的适用范围.基...     

航天产品电子元器件的质量控制

电子元器件是电子设备和系统的最基本单元,电子产品的可靠与否决定于电子元器件的可靠性,没有高可靠性的电子元器件,设计再好的电子产品也难以发挥其作用。文章从元器件的选择、内在质量评价、二次筛选、DPA、失效分析、元器件质量跟踪、元器件质量数据库等环节讨论了电子元器件的质量控制问题并提出了一些建议。     

高可靠元器件的使用环境、试验条件和失效机理

为了对高可靠元器件进行可靠性试验提供设计依据,对包括航天、军事和汽车等在内的高可靠应用领域中的典型环境条件和要求进行了研究.这些环境条件包括高低温、温度循环、湿度、振动以及辐射等.总结了应用于高可靠领域的电子元器件的实验条件和相关标准,分析了高可靠应用环境条件对电子元器件失效的影响及其失效机理.     

Commercial-Components Initiative: Ground Benign Systems-plasticencapsulated microcircuits

The purpose of the Commercial Components Initiative-Ground Benign Systems was to determine if commercial off-the-shelf PEM (plastic-encapsulated microcircuits) are suitable for use in ground-benign, dynamically-fixed military electronic systems. If so, they could replace the more expensive components presently specified by DoD (US Dept. of Defense), resulting in appreciable life-cycle cost savings. At issue is whether the components produced for the commercial industry are reliable and durable enough to withstand the environments and life expectancies of military systems. Reliability was not formally proven. A more practical informal reliability test for this project, which DSD dubbed Run for Reliability, was to install the PCB in the system and let the operational hours accrue beyond the subsystem and Signal Processor lifetime allocations. The Run for Reliability shows promise that commercial hardware could be proven in a formal reliability demonstration test     

某型航空用超期电子元器件的使用问题探讨

长期以来，航空电子元器件的超期使用问题一直都是航空电子产品可靠性研究的一个重要课题。从元器件的固有可靠性和使用可靠性两个方面。对CBCB118双达林顿管在某型航空产品上的使用问题进行了分析和探试。     

现代电子设备的可靠性设计技术

可靠性设计是现代电子设备可靠性保证体系的关键环节。阐述了电子设备可靠性设计的基本原则与实施途径，包括元器件的可靠性选用、电子线路的可靠性设计以及印制电路板的可靠性设计等。     

电子元器件的可靠性选择与应用控制规范

由于电子行业正在高速发展,电子产品的应用范围越来越广,其结构也趋于多样化,电子产品是由电子元器件组成的,这就使得电子元器件的数量越来越多,电子元器件是否具有高可靠性将直接影响到整机的性能.本文首先介绍了电子元器件的可靠性指标,然后分析了如何控制电子元器件可靠性的选择和应用.