同频多信号的专业测向解决方案——R&S DDF0xA/E数字测向机的超分辨率测向方法

针对同频多站发射或同频干扰,罗德与施瓦茨(R&S)公司推出了最新的测向体制--基于空间谱估计的超分辨率的测向体制.目前大多数无线电测向体制只能在频域上处理某一频点的一个方向信息,如果别的发射机也工作在相同的频率上,就会产生同频干扰,测向机的测向能力就会减弱.在这种情况下,测向结果取决于各发射机之间的电平强弱关系.     

基于联合对角化的同频多信号测向技术

针对传统超分辨测向方法在复杂电磁环境中测向分辨率严重下降、干涉仪测向方法不能应用于同频多信号测向、传统盲源分离方法分离性能低等问题,提出了一种基于联合对角化、干涉仪、空间谱等处理方法相结合的同频多信号测向方法。针对盲分离过程中未知源信号数目的问题,提出了基于对角加载的信源个数估计改进方法,为盲源分离提供基础。运用了快速稳定的复数联合对角化盲源分离方法,分别给出了目标矩阵组的确定、对目标矩阵组的降维处理以及分离矩阵的求解方法。对分离出的每个源信号,进行干涉仪和空间谱测向处理。对所提方法与传统测向方法进行了对比分析。