荧光粉层—氧化铝保护膜层光学特性的研究

该文以Kubelka -Munk理论为基础 ,对紧凑型荧光灯荧光粉层—氧化铝保护膜层的光学特性进行了分析。并在粒度一定的情况下 ,计算出了最佳的荧光粉层及保护膜层的厚度。     

荧光粉层一氧化铝保护膜层光学特性的研究

该文以Ｋｕｂｅｌｋａ－Ｍｕｎｋ理论为基础，对紧凑型荧光灯粉层一氧化铝保护膜层的光学特性进行了分析。并在粒度一定的情况下，计算出了最佳的荧光粉层及保护膜层的厚度。     

荧光灯相关专利简介

1一种低光衰荧光灯公开（公告）号：CN102097279A本发明属于照明领域,具体涉及一种低光衰荧光灯,其组成包括玻璃管,所述的玻璃管内充有惰性气体,所述的玻璃管内壁涂有保护膜层,所述的保护膜层上涂覆有荧光粉层,所述的荧光粉层上涂覆有厚度为5～100nm的等离子隔离膜层,其中,所述的等离子隔离膜的组成材料选自：纳米氧化物、纳米氟化     

溶胶法荧光粉包膜及灯管涂膜的研究

运用溶胶法对BAM荧光粉粉体进行表面包膜处理,获得了包覆氧化铝膜层的BAM粉。以SEM、XPS等方法测试其表面形貌,包覆率达到90%左右,且膜层稳定;进行发光性能测试,测得包膜BAM粉的稳定性得以改善,制成单色灯燃点试验后的光衰低于对照样;对荧光粉表面吸附沉积的汞量变化进行检测,包膜BAM粉的含汞量小于未经包膜处理的对照样。同时,运用溶胶法对荧光灯玻管进行涂膜处理,形成一薄层氧化铝保护膜,涂粉、制灯后测得灯的光衰低于对照样,黑化现象也明显减轻。实验说明:对荧光粉进行表面包膜处理可以保护粉体、增进稳定性、改善热劣化性能、减少汞的吸附沉积等;对荧光灯玻管涂敷保护膜可以减少某些组分的有害影响,减轻灯管黑化现象,减轻荧光粉劣化程度等。这些减少荧光灯光衰问题的研究工作是具有实际意义的。     

不球磨荧光粉在灯中的应用

利用ｋｕｂｅｌｋａ－ｍｕｎｋ理论研究荧光粉的发光特性，我们发现粒径越细，对应最佳光输出的荧光粉涂层越薄。实验结果与理论计算吻合良好。对三基色荧光粉，当中心粒径为８μｍ时，最佳涂层厚度为５ｍｇ／ｃｍ￣２左右；当中心粒径减小为３μｍ时，最佳涂层厚度在３ｍｇ／ｃｍ￣２左右。粉层薄时，光通维持率还是相当高。本文还对荧光粉的光衰及涂覆性能做下一些讨论。     

紧凑型节能荧光灯光衰及保护膜的使用探讨

紧凑型节能荧光灯光衰及保护膜的使用探讨■郦玉水／六十三所电光源研究中心长期以来,紧凑型节能荧光灯的光衰问题一直没有引起国内大多数厂家的重视,随着荧光灯国家标准的即将出台,以及ＣＦＬ灯管径的不断缩小,荧光粉承受的负荷越来越大,解决光衰问题已经迫在眉捷。...     

自光LED荧光粉层参数分析

白光LED是目前光电子领域研究的一大热点。荧光粉层是影响白光LED光效和色度的重要因素。通过改变荧光粉层粉体的粒度、厚度、形状、固晶位置等参数，可以改变白光LED的光效．颜色参数和空间光强分布。本文应用蒙特卡罗法原理，通过对白光LED荧光粉层中光子输运过程的模拟，分析了荧光粉层参数对出射光性能的影响。     

二氧化钛保护膜在荧光灯中的应用

通过Sol—Gel工艺在荧光灯玻管内壁制备透明纳米二氧化钛薄膜,膜层结构致密,晶粒粒径细小而均一,与常规的纳米三氧化二铝薄膜相比,能以更小的厚度发挥更好的保护作用。不涂荧光粉的9W无铅螺旋管带罩荧光灯燃点600h发黑试验以及扫描电子显微镜照片表明,与未涂保护膜的荧光灯相比,使用该工艺薄膜的荧光灯,其1000h光衰降低幅度达10％以上。另外,二氧化钛保护膜具有吸收紫外光而对可见光有较好的透过率的性能,能大幅减少紫外线泄露,提高荧光灯使用的生物安全性。     

CH—1型灯管粉层厚度测试仪介绍

CH-1型荧光粉省管粉层厚度测试仪既可测试细管径荧光灯管荧光粉层也可用于测试成灯的相对发光亮度,以评定灯管的光效、光衰等性能.1 仪器的组成、外形和面版本仪器由主机、粉厚测试座和测亮探头等组成.1.1主机主机的前、后面板如图一所示     

荧光粉涂层厚度的微机控制

本文简要介绍了荧光粉涂复智能测控仪，该仪器采用光透射的方法来测得荧光粉的相对厚度，并利用单片机进行数据处理和对工艺过程进行实时的监控，在生产线上可以及时调整粉浆配制，使荧光粉层保持稳定均匀的厚度，为荧光粉的涂复工艺提供方便实用的监控手段。     

接地装置地表铺设复合高阻层对保护人身安全的影响

在接地工程中通过在地表铺设防护层来提高人体的耐受能力是一种经济有效的方法。在传统铺设单一高阻层的方法基础上,提出了高阻层和低阻层的复合层防护方法。基于地电位对人身安全的作用机理、人体耐受电流的影响因素等全面分析了复合高阻层的特点和有效性,并分析了复合层参数对地表电位、接触电位差、跨步电位差、大地等效电阻、人体耐受限值等影响。研究表明:在高阻层的下面增设低阻层对接地电阻、接触电势的影响很小,但可以显著降低跨步电位差,原始土壤电阻率越高,低阻层的效果越好。低阻层的厚度取0.1~0.2 m时,即使其电阻率达50 Ω·m也具有良好的降低跨步电势的效果,布置位置比较灵活。     

金属保护层对脉冲涡流检测影响实验研究

石化设备为保温会包裹一层由隔热层与金属保护层组成的包覆层，应用脉冲涡流检测技术可实现不拆包覆层条件下设备的壁厚检测。但在实际检测中由于金属保护层材质与厚度不一致，会对检测结果与检测误差产生影响。本文搭建了脉冲涡流实验平台，分析不同类型、厚度金属保护层在不同隔热层厚度下对脉冲涡流检测信号影响，结果表明：当金属保护层为铝板与不锈钢板时，其厚度或隔热层厚度增加会增大特征值离散程度，但不影响特征曲线趋势，可通过特征曲线计算被测试件厚度；当金属保护层为镀锌钢板时，其高磁导率特性产生的屏蔽效应与感生涡流会对检测信号衰减及特征曲线产生影响。随着镀锌钢板厚度增加，不同厚度试件检测信号后期衰减差异越小。当隔热层厚度增大到50 mm时，检测信号基本重合，无法通过特征曲线计算被测试件厚度。     

远程荧光LED器件影响因素研究

远程荧光技术是传统LED封装散热不良问题的解决方法之一。本文用红色和黄色荧光粉以及光固化树脂,通过光同化方式制备了荧光转换膜,并制备了简单的远程白光LED器件,研究了荧光粉组成、芯片与荧光转换膜的距离及输入电流对远程自光LED器件光学特性的影响,实验结果表明,荧光粉的组成比例对显色指数,色温等都有影响,而荧光转换膜与芯片的距离以及输入电流对器件的光学特性影响不大。本实验还通过添加光扩散剂解决了白光LED芯片发光刺眼问题。研究结果可为新型白光LED的结构设计提供参考。     

面向信息管理的输电塔角钢镀锌层厚度检测技术

针对输电铁塔镀锌层厚度检测缺乏规范性及其关键信息的管理问题,提出角钢塔件镀锌层厚度12测点布局方式,设计了面向信息管理的塔材镀层厚度数据采集与分析方案,并甄选适宜的厚度检测仪,实现镀层厚度检测数据的规范化采集及检测信息的科学分析与管理,为提高企业的标准化作业水平及自身信息化建设提供技术支撑。     

铁氧体颗粒表面PVA吸附层厚度理论计算和实验测量

利用热重分析方法对铁氧体料浆中颗粒表面聚乙烯醇（ＰＶＡ）吸附情况进行了研究。结果表明，颗粒表面ＰＶＡ吸附厚度与颗粒尺寸大小、料浆中ＰＶＡ百分含量、料浆温度等有关，这种特性将影响ＰＶＡ在料浆中的分布。文中给出了颗粒表面ＰＶＡ吸附层厚度理论计算和实验测量方法。     

Optical Analysis of Phosphor's Location for High-Power Light-Emitting Diodes

High-power-light-emitting-diode (LED) packaging is crucial for the development of solid-state lighting. Phosphor's location could affect the LED packaging performance such as light extraction and correlated color temperature (CCT). This paper systematically analyzes first the effects of phosphor's location on LED packaging performance. A two-light-source step computation method based on the Monte Carlo theory is developed, and five different optical structures are discussed. Results show that the location of phosphor has small impact on light extraction but could greatly affect CCT. Remote phosphor location presents higher light extraction than proximate phosphor location. However, the increase is slight, and too remote location could reduce light extraction. A convex phosphor layer has higher light extraction but lower yellow–blue ratio than a plane phosphor layer. Considering the significant variation of CCT, it is suggested that an optical structure with plane and remote phosphor location should be a suitable choice for LED packaging.      

高压开关设备镀银层硬度检测技术介绍

高压开关设备主触头的镀银层硬度是保证其耐磨性的主要性能指标,国家电网公司对其提出了明确的要求。研究分析了镀银层的厚度特点和硬度检测的基本原理,提出了对高压开关设备上镀银层进行不受基材影响的显微硬度检测方法,并结合镀银层厚度值推荐了检测的载荷力。     

Preparation and Properties of a Thermal Insulating Layer and a Buffer Layer for Multilayer Pyroelectric Film Infrared Detector

A thermal insulating layer and a buffer layer play a key role in the multilayer pyroelectric thin film infrared detector. In this work, a porous SiO 2 film serving as thermal insulating layer and a dense SiO 2 film serving as buffer layer were prepared by sol-gel method. The porosities of the porous film and the dense film are about 50% and 6%, respectively. Maximum thickness values of a single layer porous film and that of a single layer dense film all come up to 1.5 w m. Rms (root-mean-square) surface roughness of the porous film is about 40 nm and that of the dense film is about 1.5 nm. Experimental result shows 0.4 w m dense SiO 2 film can flatten rough surface of the porous SiO 2 film, and the rms surface roughness is less than 5 nm. The composite SiO 2 film can effectively block thermal diffusion.     

Semiconducting Layer impedance and its effect on cable wave-propagation and transient Characteristics

This paper has derived an impedance formula for conductor's semiconducting layer based on a conventional circuit theory. The formula is confirmed to be identical to an accurate one derived by solving Maxwell's equation. A wave-propagation characteristic and a transient voltage on a cable having the semiconducting layer on the conductor's surface are evaluated by applying the derived formula, and are compared with those on a cable with no semiconducting layer. The semiconducting layer increases the conductor impedance, and thus, the attenuation constant is increased, and the propagation velocity and the characteristic impedance are decreased for a coaxial mode by the semiconducting layer, but the inter-phase mode of propagation is not affected. A transient voltage is attenuated more and its oscillating period becomes greater than those on a cable with no semiconducting layer. The effect of the semiconducting layer impedance on the wave-propagation characteristic and the transient voltage is rather minor when the layer thickness is small and the resistivity is high, and the semiconducting layer effect is dominated by its admittance.     

荧光粉及其涂层质量对紧凑型荧光灯品质的影响

本文介绍了三基色荧光粉品质对灯质量的影响,荧光粉涂层厚度的设计及控制,涂层常见弊病及解决办法,高负载、长寿命灯对荧光粉的新要求。