系统级可测试性设计的研究

本文提出了一个系统级可测试性设计的方法,根据系统的功能行为描述和实际系数实现的明显区分,将与系统实现独立的测试要求溶入到该描述中,按照一定规则对系统进行分块,在此基础睬用内建自测试和增加测试功能块,从而改善系统的测试环境,提高测试效率,该方法可实现系统设计和系统可测试设计的同步进行。     

系统级可测试性设计

介绍了一种新颖的系统级可测试性设计策略.该策略通过划分系统,增加测试功能块,实现系统等级测试,可大幅度提高系统的可测试性,降低其全寿命周期费用,提高系统的"完整质量".还阐述了设计过程中需要注意的问题.并预见这种设计策略将在诸多领域得到成功的应用和发展.     

系统级可测试性设计的研究

本文提出了一个系统级可测试性设计的方法,根据系统的功能行为描述和实际系统实现的明显区分,将与系统实现独立的测试要求溶入到该描述中,按照一定规则对系统进行分块,在此基础上采用内建自测试和增加测试功能块,从而改善系统的测试环境,提高测试效率。该方法可实现系统设计和系统可测试性设计的同步进行。     

NRS4000微处理器的可测试性设计

现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度,又有寄存器堆、 Ｃａｃｈｅ等嵌入式部件,而且芯片管脚数相对较少,必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码,提高故障覆盖率。本文简要讨论了 Ｎ Ｒ Ｓ４０００ 微处理器芯片的以边界扫描测试为主体,以自测试为补充的可测试性设计框架。着重介绍了芯片的边界扫描设计和芯片中译码控制器 Ｐ Ｌ Ａ 和微程序 Ｒ Ｏ Ｍ 以及采用内嵌 Ｒ Ａ Ｍ 结构的指令 Ｃａｃｈｅ 和寄存器堆的内建自测试设计。结果表明,这些可测试性设计大大缩短了测试代码的长度。     

系统级可测试性设计

介绍了一种新颖的系统级可测试性设计策略．该策略通过划分系统，增加测试功能块．实现系统等级测试，可大幅度提高系统的可测试性，降低其全寿命周期费用，提高系统的“完整质量”．还阐述了设计过程中需要注意的问题．并预见这种设计策略将在诸多领域得到成功的应用和发展．     

具有负阻微分特性的NDR-MOS电路模型及应用

该文介绍了基于MOS管构成具有负阻微分特性的网络,仿真了网络中各种参数改变对特性曲线的影响,负阻微分MOS网络可以模拟共振隧穿二极管的I—V特性。根据实际的InGaAs／A-1As／InP异质结共振隧穿二极管测试结果,通过设置合理的参数和偏置,给出了适用于蔡氏电路的非线性特性曲线,对今后设计基于共振隧穿二极管的混沌系统以及硬件电路的构建提供了理论基础。将共振隧穿二极管应用于混沌系统的设计中,相比于传统的基于运放构成的非线性网络,具有结构简单、功耗低、工作频率高等特点。     

一种共振隧穿二极管三值逻辑电路设计方法

通过对多值单稳态-多稳态转换逻辑单元的分析,发现开关信号理论可以准确地解释其工作原理。在此基础上,提出了三值共振隧穿二极管电路一般结构,用于实现任意三值逻辑函数。相应的电路设计方法可归为求取开关函数的最简表达式,并用异质结场效应晶体管实现,从而避免电路中共振隧穿二极管参数的调整,简化整个设计过程。模拟仿真表明所设计的电路具有正确的逻辑功能。     

面向可制造性设计的铜互连有源测试结构的设计与实现

随着超大规模集成电路制造技术的不断进步,互连线寄生电容已经成为超大规模集成电路延时和噪声的主要来源。提出并实现了一种基于电荷测量技术的互连寄生电容测试结构。利用这种结构可研究互连线和相关介质的几何尺寸变化,并可反馈应用到器件的可制造性设计和工艺模型的建立中去。     

时序基准电路S344可测性设计

以时序电路的可测性设计方法为主要研究内容,针对时序电路中由于时序元件的可观测性和可控制性比较差,导致测试生成难度较大,并且存在影响测试故障覆盖率的问题。以固定型故障模型的检测为研究基础,通过对时序电路进行扫描测试技术的可测性设计,解决时序电路中内部节点难以测试的问题。设计实现的目标是以尽可能少地插入可测性设计的硬件逻辑,提高被测时序电路的故障覆盖率。     

一种高灵敏度的介观压阻微陀螺的设计

应用介观压阻效应,研究设计了一种含直拉直压微梁结构的微机械陀螺,并利用共振隧穿薄膜作为该微机械陀螺的敏感元件以提高陀螺的灵敏度。MATLAB软件仿真表明:当施加在GaAs/AlAss共振隧穿薄膜上的偏置电压为0.9 V,薄膜上的应变幅值不大于0.000 575时,薄膜都工作在负阻区域,此时共振隧穿薄膜能较好地检测出微梁上的应变。仿真结果还表明,在共振隧穿薄膜负阻区域的偏压为0.78 V时,压阻效应灵敏度的数量级为4.19×10-10,比室温下硅的最大压阻灵敏度高一个数量级,达到了高灵敏度微机械陀螺设计的目的.     

Spin injection in a ferromagnet/resonant tunneling diode heterostructure

The spin transport property of a ferromagnet (FM)/insulator (Ⅰ)/resonant tunneling diode (RTD) heterostructure was stud-ied. The transmission coefficient and spin polarization in a multilayered heterostructure was calculated by a Schrdinger wave equa-tion. An Airy function formalism approach was used to solve this equation. Based on the transfer matrix approach,the transmittivity of the structure was determined as a function of the Feimi energy and other parameters. The result shows that the spin polarizat...     

多量子阱系统结构变化对共振隧穿的影响

通过求解薛定谔方程得到由N个矩形势垒构成的量子阱系统的传输矩阵和电子透射系数的精确解,研究了多量子阱系统中势垒宽度、势阱宽度和势阱个数对电子共振隧穿的影响．数值分析表明,对于中间垒宽为两侧垒宽之和的对称多量子阱,阱宽的增加引起共振峰向能量低的方向移动,共振峰个数增加;势阱个数增加不影响共振峰个数及其位置,但可以获得透射比更大、更尖锐的共振峰．     

Design of a novel RTD-based three-variable universal logic gate

Traditional CMOS technology faces some fundamental physical limitations. Therefore, it has become very important for the integrated circuit industry to continue to develop modern devices and new design...     

FCT6芯片的内建自测试方法

ＦＣＴ６芯片是一个集成了Ｉｎｔｅｌ８０３１微处理器及一些外围电路的嵌入式微控制器,它的集成度和复杂度高,又有嵌入式ＲＡＭ部件,而且芯片管脚数相对较少,必须要有一定的可测试性设计来简化测试代码,提高故障覆盖率。简要讨论了ＦＣＴ６芯片的以自测试为核心的可测试性设计框架,着重介绍了内建自测试的设计与实现,即：芯片中控制器ＰＬＡ和内嵌ＲＡＭ结构的内建自测试设计。测试代码开发过程中的仿真结果表明,这些可测试     

半导体激光器光束准直系统设计

为了解决半导体激光器出射光束发散角大的问题，对高斯光束远场性能进行了分析，得出不能采用常规的倒置望远镜方法实现半导体激光器光束准直的结论．针对一种5mW半导体激光器。提出使用组合透镜的方法使其实现光束准直．运用光学设计的PW方法，使用ODP2光学设计软件，设计了两组三片式组合透镜构成的光束准直系统，经过象差检验，准直效果好．     

可测试性在光电雷达检测设备中的应用

简要分析了某型飞机光电雷达的工作过程,给出了基于虚拟仪器技术的光电雷达综合参数检测设备的软、硬件设计,重点阐述了可测试性设计在系统设计中的一般过程,以及在本设备中的应用.机内测试技术(B IT)在本设备中的应用,使设备内部具备检测和隔离故障的自动测试能力,从而有效地提高研制设备的可维修性、可用性、可靠性.