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运用XPS和AES研究了Pt扩散阻挡层对PZT薄膜/Si界面休学结构和性能的影响:在PZT薄膜和Si工间增加Pt扩散阻挡层,可以抑制TiCx物种和TiSix物种的形成,促进PZT薄膜的形成反应。Pt扩散阻挡层的存在阻断了氧和Si的相互扩散反应,促进PZT物种形成钙钛矿型晶体结构,使得形成的PT薄膜具有和体相材料相摈 电常数和铁电性能。 相似文献
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运用XPS和AES研究了PZT膜/Si在热处理过程中的薄膜及界面化学反应;在热处理过程中,气氛中的气通过PZT的缺陷通道扩散到PZT/Si同旧,并与界面上的硅发生氧化反应形成SiO2界面层。同时基底上的硅通过PZT的缺陷扩散么样品表面形成SiO2表面层。此外,在PZT/Si界面上,Ti的氧化物和Si发生还原反应,形成了TiSix金属硅化物,并残留在PZT膜层和和SiO2界面层中。在PZT膜层内,有 相似文献
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溅射PZT薄膜的晶体结构和快速热处理 总被引:1,自引:0,他引:1
采用常温射频(RF)溅射法和快速热处理相结合的技术,在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上,制备出具有铁电性的PZT薄膜。研究了快速热处理工艺条件对PZT薄膜性能的影响。通过Z射线衍射法、SEM和AES等方法,分析了PZT薄膜的晶体结构、微结构、薄膜和电极间的界面效应。 相似文献
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用ArF脉冲激光在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上合成了非晶态SrBi2Ta2O9铁电薄膜,研究了铁电相转变。采用常规热退火、激光诱导和低温高压水热法使非晶态SBT薄膜发生铁电相转变。 相似文献
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Sr对AM50显微组织和力学性能的影响 总被引:1,自引:1,他引:0
研究了不同含量Sr对AM50合金微观组织和力学性能的影响.结果表明,添加Sr后,AM50合金铸体组织β-Mg17Al12变得细小,晶粒明显细化;Sr基本上与Al结合生成高熔点、高稳定的Al4Sr相,能够强化晶界并阻碍位错滑移,从而强化合金.适量的Sr明显提高了室温下合金的屈服强度和抗拉强度,而且不影响合金的延伸率,而过量的Sr会导致AM50延伸率和轻度的降低.含0.5%Sr的铸态合金可得到最高抗拉强度233MPa,屈服强度90MPa,延伸率16.3%的性能. 相似文献
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为开发力敏性能更为优异的复合材料薄膜,首先,通过液相还原法制备了粒径约为100 nm的纳米Fe50Ni50粉体,并通过液态混合分散工艺将纳米粉体与丁基橡胶(IIR)混合分散;然后,通过机械混炼及压制得到了粉体分布均匀、含量为65wt%的纳米Fe50Ni50粉体/IIR复合材料薄膜;最后,研究了在连续加载/卸载速度为0.10 mm/min、测试频率为1 kHz的条件下,纳米Fe50Ni50粉体/IIR复合材料薄膜的力敏特性。结果表明:液态混合分散工艺可使Fe50Ni50粉体在复合材料薄膜中达到纳米级均匀分散效果;当压应力为0.20~0.90 MPa时,薄膜越厚,其标准偏差越大,力敏稳定性越差;随压应力增大,厚度为185μm的薄膜在加载阶段的阻抗近似线性下降,力敏灵敏度稳定在40~60范围内,标准偏差约为1~2。所得结论表明在压应力为0.20~0.90 MPa时,制备的薄膜具有优异的力敏特性。 相似文献
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对我国自行设计的专利产品G50钢的动态力学性能进行了实验研究。实验结果表明:G50钢是应变率不敏感材料,其动态压缩时会产生45°剪切破坏。金相细观分析表明,G50钢的应变率不敏感性是由其细观结构所决定的,材料的45°剪切破坏则是由于其热塑失稳、绝热剪切造成的。 相似文献
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利用MDI-50、聚醚多元醇和3,3′-二氯-4,4′-二氨基-二苯基甲烷(MOCA)扩链剂制备了MDI-50型聚氨酯弹性体,研究了游离异氰酸酯基质量含量、聚醚多元醇相对分子质量对MDI-50聚氨酯弹性体力学性能的影响,采用示差扫描量热分析(DSC)、热重分析(TG)、红外光谱(FTIR)及力学性能等测试方法对MDI-50型聚氨酯弹性体的结构及性能进行了表征和分析,并与TDI-80型聚氨酯弹性体相比较。结果表明:MDI-50型聚氨酯弹性体的综合性能明显优于TDI-80型。MDI-50型弹性体的硬度、撕裂强度和抗拉强度都随预聚体游离-NCO质量含量的提高而增大,随聚醚多元醇软链段相对分子质量增大而减小,而断裂伸长率相反。 相似文献
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O. Kondrat N. PopovichR. Holomb V. MitsaV. Lyamayev N. TsudV. Cháb V. MatolínK.C. Prince 《Thin solid films》2012,520(24):7224-7229
The influence of near bandgap laser irradiation on the structure of the As50Se50 thin film has been investigated by synchrotron radiation photoelectron spectroscopy. The As 3d and Se 3d photoemission peaks of the irradiated sample show significant differences in shapes and positions in comparison with those obtained for non-irradiated amorphous film. The experimental data processing and quantifications are performed analyzing As 3d and Se 3d core-level components obtained by curve fitting. The relative contribution of the As and Se atoms in different chemical states to the whole As 3d and Se 3d signal, its structural origins as well as their relation to the As50Se50 nanolayers structure before and after laser irradiation is analyzed and discussed in detail. 相似文献
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80 nm-thick Ni50Fe50 layers were sputter-deposited on glass substrates at 400 °C and then Au layers were sputter-deposited on the Ni50Fe50 layers. The Au/Ni50Fe50 bilayer films were annealed in a vacuum of 5×10−4 Pa from 250 to 450 °C for 30 min or 90 min. The characteristics of the Au layers were studied by Auger electron spectroscopy, field emission scanning electron microscopy, X-ray diffraction and a four-point probe technique. When the annealing temperature reaches 450 °C, Fe and Ni atoms diffuse markedly into the Au layer and the Fe content is more than the Ni content. When the annealing temperature is lower than 450 °C, the grain size of the Au layers does not change markedly with annealing temperature. However, as the annealing temperature reaches 450 °C, the annealing promotes the grain growth of the Au layer. As the annealing temperature exceeds 300 °C, the resistivity of the bilayer films increases with increasing annealing temperature. The diffusion of Fe and Ni atoms into the Au layer results in an increase in the resistivity of the annealed bilayer film. Large numbers of Fe and Ni atoms diffusing into the Au layer of the annealed Au/Ni50Fe50 bilayer film lead to a significant decrease in the lattice constant of the Au layer. 相似文献